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通过虚拟荧光分布模型计算模拟平均时延方法所收集的信号的最小平方误差来获得两种以上荧光寿命成分的荧光寿命测量装置和方法

摘要

根据本发明的一个实施例的荧光寿命测量装置包括:照射光产生单元,其用于产生照射光;荧光光子检测单元,其用于收集通过用照射光照射包括荧光分子的至少一种样品而产生的荧光光子的荧光信号;以及测量单元,其用于通过对所收集的荧光信号的函数和模拟函数使用最小二乘法计算来计算荧光寿命。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 申请日:20171117

    实质审查的生效

  • 2019-08-02

    公开

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