首页> 中国专利> 屏蔽室下金属屏蔽材料屏蔽效能分析模型及其测量方法

屏蔽室下金属屏蔽材料屏蔽效能分析模型及其测量方法

摘要

一种屏蔽室下金属屏蔽材料屏蔽效能分析模型及其测量方法,建立矩形开孔屏蔽室屏蔽效能模型,该矩形开孔屏蔽室屏蔽效能模型包含:矩形腔体、设置在矩形腔体上的矩形开孔处的电磁材料网、设置在矩形腔体外部的激励源、以及设置在矩形腔体中心的场强监测点,获得矩形开孔屏蔽室屏蔽效能模型的电磁屏蔽材料屏蔽效能,在矩形开孔屏蔽室屏蔽效能模型中矩形腔体的顶面内部安装吸收介质片,形成具有吸收介质片的屏蔽室屏蔽效能分析模型,获得具有吸收介质片的屏蔽室屏蔽效能分析模型的电磁屏蔽材料屏蔽效能。本发明通过在屏蔽室内部增加介质结构的方式,降低屏蔽室电磁谐振效应,并显著降低金属网屏蔽效能结果的波动性,提高金属屏蔽材料的屏蔽效能测试精度。

著录项

  • 公开/公告号CN109581096A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海无线电设备研究所;

    申请/专利号CN201811214279.8

  • 申请日2018-10-18

  • 分类号G01R31/00(20060101);

  • 代理机构31323 上海元好知识产权代理有限公司;

  • 代理人张妍;徐雯琼

  • 地址 200090 上海市杨浦区黎平路203号

  • 入库时间 2024-02-19 09:00:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/00 申请日:20181018

    实质审查的生效

  • 2019-04-05

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号