Very large scale integration; EDB/426000; EDB/440800; Integrated circuits; Metrology; CMOS;
机译:增强型分压电位器,用于高精度特征放置计量
机译:适用于130nm数字CMOS工艺中的低频G_m-C应用的0.25V 22ns对称批量驱动OTA
机译:对准和覆盖计量误差的解耦,以及使用机器学习方法的覆盖优化的层到层覆盖计量误差
机译:改进的分压电位计在CMOS /本体工艺中的叠加计量中的应用
机译:65纳米体CMOS中的W波段无源和有源电路,用于无源成像应用。
机译:用于传感器应用180 nm CMOS过程中SWIPT系统的自适应控制和通信协议的设计
机译:采用0.18 µm CMOS(CMOSP18 / TSMC)技术的通用放大器模块(UAM)及其在模拟信号处理中的一些应用