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机译:具有粗糙表面的分层结构的散射:偏振光散射仪测量值与理论值的比较
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机译:用于从具有粗糙表面的分层结构中散射的Mueller矩阵元素的计算及其在光学检测中的应用
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机译:粗糙表面的微波极化散射测量
机译:X波段微波从粗糙电介质表面的双基地散射的理论和测量。
机译:基于线性和非线性光散射的表面性儿的偏振测量
机译:多功能光学偏振散射仪的描述,测量穆勒矩阵的所有16个元素,用于反射和传输:应用于散射横截面,椭圆仪参数,光学活动和复杂手性参数的测量