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机译:用透射测量法测定氧化铟锡薄膜中的晶粒尺寸。
Thin-films; Scattering; Roughness;
机译:用透射测量法测定氧化铟锡薄膜中的晶粒尺寸。
机译:透明氧化铟锡/ Ag /氧化铟锡多层膜降解的透射电镜研究
机译:粒度对纳米晶铟锡氧化物薄膜电性能的影响
机译:处理铟锡氧化铟锡(ITO)膜的表面粗糙度和晶粒尺寸分析
机译:ITO薄膜的晶粒尺寸和厚度对薄层电阻和透射率的影响:TEM研究
机译:飞秒激光在铟锡氧化物薄膜上诱导的周期性表面纳米结构的各向异性光学透射
机译:浸涂工艺制造的铟锡氧化铟锡和氧化铟薄膜的致密化和晶粒生长
机译:微波功率透射测量法测定超导YBa2Cu3O(7-δ)薄膜的表面电阻和磁穿透深度