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API-X65の水素侵入挙動に及ぼす電析Ca皮膜の影響

机译:电沉积CA膜对API-X65氢侵袭行为的影响

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摘要

本研究は,Ca(OH)_2,NaOH溶液中において,定電流カソード水素チャージ下で侵入水素量測定,電気化学的水素透過試験を実施することにより,API-X65の水素侵入挙動に及ぼす電析Ca皮膜の影響を明らかにすることを目的とした.その結果,電析皮膜を生成しないNaOH溶液中に比べ,電祈Ca皮膜を生成するCa(OH)_2溶液中でカソード水素チャージを実施した場合の方が侵入水素量が多くなった.また,電気化学的水素透過法により,電析Ca皮膜が生成しない箇所(反応部)での水素侵入効率を測定した.電析Ca皮膜の被覆率が0~40%までは,反応部での水素侵入効率が上昇し,水素侵入を促進することを明らかにした.電析Ca皮膜の被覆率が40%以上になると,反応部での水素侵入効率が低下し,水素侵入を抑制することを明らかにした.
机译:该研究是API-X65的电沉积行为通过在Ca(OH)_2,NaOH溶液中的恒定电流阴极氢气电荷下进行侵入式氢气量测量和电化学氢渗透试验。一个物体本发明是阐明Ca膜的影响。 结果,通过在产生电解涂层的Ca(OH)_2溶液中进行阴极氢电荷的情况进行侵入氢电荷量。 另外,测量通过电化学氢传递方法不产生电沉积Ca膜的部分(反应部分)的氢渗透效率。 揭示了反应部分的氢气渗透效率上升至电沉积Ca膜涂层的0至40%,促进氢侵袭。 当电沉积Ca膜的覆盖率为40%以上时,反应单元中的氢气穿透效率降低,澄清以抑制氢侵袭。

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