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API-X65の水素侵入挙動に及ぼす電析Ca皮膜の影響

机译:电解钙膜对API-X65氢渗透行为的影响

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摘要

本研究は,Ca(OH)_2,NaOH溶液中において,定電流カソード水素チャージ下で侵入水素量測定,電気化学的水素透過試験を実施することにより,API-X65の水素侵入挙動に及ぼす電析Ca皮膜の影響を明らかにすることを目的とした.その結果,電析皮膜を生成しないNaOH溶液中に比べ,電祈Ca皮膜を生成するCa(OH)_2溶液中でカソード水素チャージを実施した場合の方が侵入水素量が多くなった.また,電気化学的水素透過法により,電析Ca皮膜が生成しない箇所(反応部)での水素侵入効率を測定した.電析Ca皮膜の被覆率が0~40%までは,反応部での水素侵入効率が上昇し,水素侵入を促進することを明らかにした.電析Ca皮膜の被覆率が40%以上になると,反応部での水素侵入効率が低下し,水素侵入を抑制することを明らかにした.
机译:在这项研究中,我们通过测量氢的渗透量并在恒定电流阴极氢电荷下在Ca(OH)_2,NaOH溶液中进行电化学氢渗透测试,对API-X65的氢渗透行为进行了电沉积。目的是阐明钙膜的作用。结果,当将阴极氢装入产生电祷告Ca膜的Ca(OH)_2溶液中时,与没有形成电沉积膜的NaOH溶液中相比,侵入氢的量更大。另外,通过电化学氢渗透法在未形成电沉积的Ca膜的位置(反应部分)处测量氢渗透效率。明确了当电沉积的Ca膜的覆盖率为0至40%时,反应部分中的氢入侵效率增加并且促进了氢入侵。明确了,如果电沉积的Ca膜的覆盖率为40%以上,则反应部的氢的浸入效率降低,氢的浸入被抑制。

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