...
机译:III-V纳米线侧壁原子尺度粗糙度的点缺陷反应的重要性
Univ Lille Univ Valenciennes ISEN Cent Lille CNRS UMR IEMN 8520 F-59000 Lille France;
Univ Lille Univ Valenciennes ISEN Cent Lille CNRS UMR IEMN 8520 F-59000 Lille France;
Univ Lille Univ Valenciennes ISEN Cent Lille CNRS UMR IEMN 8520 F-59000 Lille France;
Univ Lille Univ Valenciennes ISEN Cent Lille CNRS UMR IEMN 8520 F-59000 Lille France;
Univ Lille Univ Valenciennes ISEN Cent Lille CNRS UMR IEMN 8520 F-59000 Lille France;
Univ Paris Sud Univ Paris Saclay C2N UMR CNRS 9001 Ave Vauve F-91120 Palaiseau France;
Univ Paris Sud Univ Paris Saclay C2N UMR CNRS 9001 Ave Vauve F-91120 Palaiseau France;
Univ Lille Univ Valenciennes ISEN Cent Lille CNRS UMR IEMN 8520 F-59000 Lille France;
Univ Lille Univ Valenciennes ISEN Cent Lille CNRS UMR IEMN 8520 F-59000 Lille France;
Forschungszentrum Julich Peter Grunberg Inst D-52425 Julich Germany;
Univ Lille Univ Valenciennes ISEN Cent Lille CNRS UMR IEMN 8520 F-59000 Lille France;
Univ Lille Univ Valenciennes ISEN Cent Lille CNRS UMR IEMN 8520 F-59000 Lille France;
III-V semiconductor nanowires; {110} sidewall; surface morphology; roughness; point defect; scanning tunneling microscopy;
机译:III-V纳米线侧壁原子尺度粗糙度的点缺陷反应的重要性
机译:硅纳米线侧壁的粗糙度和室温光致发光
机译:电子能损光谱通过碳化硅纳米线缺陷的原子尺度电子表征
机译:III-V发光二极管中注入增强的缺陷反应
机译:基于在非极性侧壁和III-氮化物纳米线上的外延的发光二极管。
机译:GaN纳米线上沉积石墨烯的性质:纳米线粗糙度自诱导纳米缺陷的影响
机译:III-V水平纳米线通过模板辅助选择性区域外延生长的原子分辨率茎缺陷调查