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机译:通过扫描力显微镜对纳米结构成像中的尖端卷积效应进行校正
atomic force microscopy; tip convolution effect; scanning artefact; lateral resolution; tip deconvolution; image reconstruction;
机译:通过扫描力显微镜对纳米结构成像中的尖端卷积效应进行校正
机译:通过非接触原子力显微镜研究和扫描隧道显微镜研究的CEO_2(111)表面上的原子分辨图像和表面氧原子的动态行为和表面氧原子和吸附分子
机译:校正扫描力显微镜图像中的系统误差,并将其应用于离子轨迹显微照片
机译:扫描声力显微镜研究基本表面声波效应
机译:通过扫描隧道显微镜和光谱学研究了硅纳米结构。
机译:一个高分辨率研究单分子化学反应原子力显微镜和扫描隧道显微镜发光量
机译:通过扫描隧穿显微镜研究的Si表面上的固相外延。原子探针现场离子显微镜的最新进展及其在磁性薄膜纳米结构分析中的应用。
机译:可聚合丁二炔Langmuir-Blodgett薄膜的晶格和缺陷结构的扫描力显微镜研究