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机译:低光学对比度条件下沉积在透明基板上的透明超薄膜参数的确定方法
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机译:原位测定沉积在透明或吸收性基材上的吸收薄膜的光学参数
机译:比较BI
机译:基于椭圆测量结果的透明基板上透明膜的参数确定方法
机译:椭圆偏振光谱法表征透明基材上的不均匀透明薄膜。
机译:低温射频溅射沉积在Al0.7Ga0.3N模板上的深紫外透明h-BN膜
机译:比较Bi2O3和NiO超薄膜的光学性质 采用直流溅射技术在不同基板上沉积透明 电子产品