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Harmonic suppression and defect enhancement using Schlieren processing

机译:使用Schlieren处理的谐波抑制和缺陷增强

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摘要

The Schlieren technique is a well-known coherent processing method that is usually applied to the visualization of phase objects. In this paper, we demonstrate that, when the Schlieren processing is applied to a light wave modulated in amplitude and possessing some periodicity, the harmonic contents of the resultant image decreases (i.e., the higher harmonics are suppressed). Also, we show that, when the amplitude-modulated (periodic) light wave possesses faults, the Schlieren processing produces an enhancement of the faults relative to the periodic carrier. This technique can be applied to defect detection in periodic structures such as photomasks used for LCD panels, integrated-circuit masks, or semiconductor wafers. (c) 2005 Optical Society of America.
机译:Schlieren技术是一种众所周知的相干处理方法,通常应用于相位对象的可视化。在本文中,我们证明,当将Schlieren处理应用于振幅调制且具有一定周期性的光波时,所得图像的谐波含量会降低(即,较高的谐波被抑制)。同样,我们表明,当振幅调制(周期性)光波具有故障时,Schlieren处理相对于周期载波产生了故障的增强。该技术可以应用于周期性结构中的缺陷检测,例如用于LCD面板的光掩模,集成电路掩模或半导体晶圆。 (c)2005年美国眼镜学会。

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