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CORRECTION OF LOW-FREQUENCY MEASUREMENTS OF THE QUADRATIC ELECTRO-OPTIC EFFECT FOR ELECTROSTATIC STRESSES

机译:静电应力二次电光效应的低频测量的修正

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摘要

Electrostatic stresses that can influence the observed signal with stress-optical constants form a contribution to the quadratic electro-optic (Kerr) effect measured at low frequencies. A new formula is proposed to correct for the influence of these stresses in order to obtain the true Kerr constant. (C) 1996 Optical Society of America [References: 27]
机译:静电应力可能会以应力光学常数影响观察到的信号,从而对低频下测得的二次电光(Kerr)效应产生影响。为了获得真实的克尔常数,提出了一个新的公式来校正这些应力的影响。 (C)1996年美国眼镜学会[参考文献:27]

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