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机译:用光反射法测定聚电解质多层膜平均厚度和折射率的新方法
optical fixed-angle reflectometry; polyelectrolyte; multilayer; layer refractive index; layer thickness; STAGNATION POINT FLOW; PARTICLE ADSORPTION; SILICA SURFACES; HYDROXYL-GROUPS; FILMS; ELLIPSOMETRY; KINETICS; BUILDUP; POLYVINYLIMIDAZOLE; GROWTH;
机译:用光反射法测定聚电解质多层膜平均厚度和折射率的新方法
机译:光学反射法在聚电解质-蛋白质多层膜表征中的应用
机译:使用GaAs / AlAs多层认证参考材料的厚度和密度确定X射线反射仪中的样品对齐方式
机译:光学多层涂层合成通过同时优化层数,折射率和厚度
机译:分布式光纤传感器,用于使用光学频率域反射测量监测空间连续应变和准分布折射率
机译:使用扫频光源光学相干断层扫描和光学低相干反射法脉络膜厚度和体积测量值与轴长和年龄之间的相关性
机译:使用厚度和厚度确定X射线反射测量中的样品对准 Gaas / alas多层认证参考材料的密度