フリーアングル探触子を用いた内部欠陥形状の検出

摘要

本研究では，超音波の入射角を変更することを可能とする単一の探触子を自由にスキャンしながら微小な内部欠陥を検出することを目的とした．探触子の先端に柔軟材料を設けることで超音波の入射角を自由に変更可能なフリーアングル探触子を考案し，光学式空間位置センサを用いた超音波画像探傷システムを開発した．アルミダイキヤスト製品内部に存在する微小なピンホール欠陥の探傷に本手法を適用した結果，φ0.5mのピンホールの上面形状をより鮮明に撮像することが可能となり本手法の有用性を実証した．