ナレイプローブのクロストークと画像劣化

摘要

電子走査型超音波装置に使用されているアレイプローブの素子間クロストークは一般に－30dB以下とされている。クロストークレベルが大きいと超音波波形の変質、開口肥大その他により画像劣化を招くからである。クロストークレベルによろ超音波パルスの変質を解析し、非破壊分野で多く使用されている1-3コンポジット材を使用したアレイプローブの画像を解析した結果、クロストークレベルは-20dB程度と推定された。容易に適用できるアレイプローブのクロストーク測定方法を提案した。一方、アレイエレメントが破損等で欠落した場合のアレイプローブの音圧パターンをシミュレーションし、1素子でも欠落すると普場に大きな変化が現れることを示した。