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机译:植入式Alpha来源对薄膜的厚度和化学计量法的适用性
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机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:铌氮化铌薄膜超导性能的化学计量和厚度依赖性
机译:薄膜厚度分布的测量