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International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting
International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting
召开年:
2011
召开地:
Nashville, TN(US)
出版时间:
-
会议文集:
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1.
A Closer Look at the Brain in 3D Using FIB-SEM
机译:
使用FIB-SEM仔细观察3D大脑
作者:
C. Shan Xu
;
Harald Hess
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
2.
Focused Ion Beam Tomography of Diffusion Media for Fuel Cells
机译:
燃料电池扩散介质的聚焦离子束层析成像
作者:
E. A. Wargo
;
A. C. Hanna
;
A. Çeçen
;
C. L. Johnson
;
S. R. Kalidindi
;
E. C. Kumbur
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
3.
Recent Developments in Quantitative Electron Tomography
机译:
定量电子层析成像技术的最新进展
作者:
P.A. Midgley
;
Z. Saghi
;
J. Hindson
;
R. Leary
;
D.J. Holland
;
A.J. Sederman
;
L.F.Gladden
;
V. Schmidt
;
N. Greenham
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
4.
EPMA on Copper-Gold Alloys - A CCQM/SAWG Pilot Study
机译:
EPMA铜金合金-CCQM / SAWG初步研究
作者:
V.-D. Hodoroaba
;
R.B. Marinenko
;
J.A. Small
;
W.E.S. Unger
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
5.
Hybrid imaging - Novel Approaches and Recent Advances in Correlative Microscopy
机译:
混合成像-相关显微镜的新方法和最新进展
作者:
J.M. Plitzko
;
A. Rigort
;
F.J.B. Baeuerlein
;
T. Laugks
;
E. Villa
;
W. Baumeister
会议名称:
《》
|
2011年
6.
Ultra-High Resolution Electron Tomography for Materials Science: a Roadmap
机译:
材料科学的超高分辨率电子断层扫描:路线图
作者:
K.J. Batenburg
;
S. Bals
;
S. Van Aert
;
T. Roelandts
;
J. Sijbers
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
7.
Application of Cryo FIB SEM for Nano-EHS Studies
机译:
低温FIB SEM在纳米EHS研究中的应用
作者:
K. Scott
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
8.
Development of High-Throughput, High-Resolution 3D Reconstruction of Large-Volume Biological Tissue Using Automated Tape Collection Ultramicrotomy and Scanning Electron Microscopy
机译:
使用自动胶带收集超薄切片机和扫描电子显微镜对大体积生物组织进行高通量,高分辨率3D重建的开发
作者:
R. Schalek
;
N. Kasthuri
;
K. Hayworth
;
D. Berger
;
JC Tapia
;
JL. Morgan
;
S.C.Turaga
;
E. Fagerholm
;
H. S. Seung
;
J.W. Lichtman
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
9.
Elemental Mapping with SDD-EDS: Solving the Hard Problems
机译:
使用SDD-EDS进行元素映射:解决难题
作者:
Dale E. Newbury
;
Nicholas W. M. Ritchie
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
10.
Experimental Observations on FIB Milling using a Custom Software Interface
机译:
使用自定义软件界面进行FIB铣削的实验观察
作者:
N.H.M. Caldwell
;
J.R. Poole
;
B.C. Breton
;
D.M. Holbum
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
11.
Whole-Cell Analysis of the Effect of Cholesterol on LDL-Gold Nanoparticles Uptake in Macrophages by STEM Tomography and 3D STEM
机译:
STEM断层扫描和3D STEM对胆固醇对巨噬细胞摄取LDL-金纳米颗粒的影响的全细胞分析
作者:
J.P Baudoin
;
M.J Dukes
;
W.G Jerome
;
N. de Jonge
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
12.
Aspects of Beam Control for Single and Dual Beam Systems
机译:
单束和双束系统的束控制方面
作者:
Ken G. Lagarec
;
Alexandre Laquerre
;
Michael W. Phaneuf
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
13.
New Real Time Visualisations for X-ray Mapping Data
机译:
X射线映射数据的新实时可视化
作者:
P.J.Statham
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
14.
Spatial Resolution of X-Ray Images
机译:
X射线图像的空间分辨率
作者:
Raynald Gauvin
;
Pierre Michaud
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
15.
Imaging Cells and Bionanoparticles by STEM and EFTEM Tomography
机译:
通过STEM和EFTEM层析成像对细胞和Bionanoparticles进行成像
作者:
R.D. Leapman
;
M.A. Aronova
;
D.M. Cox
;
A. Adams
;
G. Zhang
;
A.A. Sousa
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
16.
Energy-Loss Characteristics for EFTEM Imaging with a Liquid Flow Cell
机译:
液体流动池进行EFTEM成像的能量损失特性
作者:
K.L. Klein
;
N. de Jonge
;
I.M. Anderson
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
17.
An Investigation of X-ray Mapping/Imaging and the Artifacts Present Using a Silicon Drift Detector - Is Post-Collection Pile-Up Correction Essential?
机译:
使用硅漂移检测器对X射线映射/成像以及存在的伪像进行调查-采集后的堆积校正是否必不可少?
作者:
B. J. Griffin
;
D.C. Joy
;
J. R. Michael
;
J.R. Muhling
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
18.
Towards In-Focus Phase-Contrast Electron Cryo-Microscopy
机译:
走向焦点相衬电子低温显微镜
作者:
Andreas Walter
;
Bastian Barton
;
Daniel Rhinow
;
Werner Kühlbrandt
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
19.
Analysis and Artifacts in EELS Spectrum Imaging
机译:
EELS频谱成像中的分析和伪像
作者:
Julia Mundy
;
Lena Fitting Kourkoutis
;
Huolin L. Xin
;
David A. Muller
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
20.
High Speed, High Resolution and Large Area X-ray Imaging Using Silicon Drift Detectors
机译:
使用硅漂移检测器的高速,高分辨率和大面积X射线成像
作者:
R. Terborg
;
J. Berlin
;
T. Salge
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
21.
Advances in Extreme-scale 3D EM: Specimen Preparation and Recording Systems for Electron Microscopic Tomography and Serial Block Face SEM
机译:
极端规模3D EM的进展:电子显微断层扫描和串行块面SEM的样品制备和记录系统
作者:
Mark H. Ellisman
;
Thomas J. Deerinck
;
Eric Bushong
;
James C. Bouwer
;
Tristan Shone
;
Liang Jin
;
Anna Milazzo
;
Steven Peltier
;
Nguyen-Hu Xuong
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
22.
Multivariate Statistical Analysis Strategies of EELS Spectral Images
机译:
EELS光谱图像的多元统计分析策略
作者:
Mark H. Van Benthem
;
Paul G. Kotula
;
Ping Lu
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
23.
Bringing Standardized Processes to Atom-Probe Tomography – Part 1: Establishing Standardized Terminology
机译:
将标准化过程引入原子探针层析成像–第1部分:建立标准化术语
作者:
E.A. Marquis
;
I.M. Anderson
;
F. Danoix
;
R.G. Forbes
;
B. Gault
;
T.F. Kelly
;
M.K. Miller
;
M.P. Moody
;
F. Vurpillot
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
24.
X-Ray Images with Silicon Drift Detectors
机译:
带有硅漂移探测器的X射线图像
作者:
R. Anderhalt
;
T. Nylese
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
25.
MSA/MAS Hyper-Dimensional Spectral File Format - A Straw-Man Proposal
机译:
MSA / MAS超维光谱文件格式-稻草人提案
作者:
Mike Kundmann
;
Nick Wilson
;
Aaron Torpy
;
Nestor J. Zaluzec
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
26.
SEMantics for High Speed Automated Particle Analysis by SEM/EDX
机译:
SEMantics用于通过SEM / EDX进行高速自动颗粒分析
作者:
Nicholas W. M. Ritchie
;
Vojtech Filip
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
27.
Development of a New Acquisition Scheme for Energy-Filtering Transmission Electron Microscopy Spectrum-Imaging toward Quantification
机译:
能量过滤透射电子显微镜光谱成像向量化的新采集方案的开发
作者:
M. Watanabe
;
F.I. Allen
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
28.
Applications of Thin-Film Standards in Analytical Electron Microscopy
机译:
薄膜标准品在分析电子显微镜中的应用
作者:
M. Watanabe
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
29.
Unconventional Imaging with Backscattered Electrons
机译:
背散射电子的非常规成像
作者:
I. Müllerová
;
Š. Mikmeková
;
M. Hovorka
;
L. Frank
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
30.
Remote Nanoimaging on Mars - Results of the Atomic Force Microscope Onboard NASA’s Phoenix Mission
机译:
火星上的远程纳米成像-NASA凤凰号飞行器上的原子力显微镜的结果
作者:
S. Gautsch
;
D. Parrat
;
N. F. de Rooij
;
U. Staufer
;
J-M. Morookian
;
M. Hecht
;
S. Vijendran
;
H. Sykulska
;
T.W. Pike
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
31.
High-Spatial and High-Energy Resolution EELS Studies of Chemical and Electronic Properties of Interfaces and Nanostructures
机译:
高空间和高能量分辨率EELS研究界面和纳米结构的化学和电子性质
作者:
K.J. Dudeck
;
M. Couillard
;
N. Gauquelin
;
L. Gunawan
;
S. Hosseini Vajargah
;
S. Lazar
;
D.Rossouw
;
Y. Shao
;
G. Zhu
;
G.A. Botton
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
32.
Advanced Microscopic Characterisation through Integrated Learning Tools
机译:
通过集成学习工具进行高级微观表征
作者:
B. Cribb
;
T. White
;
J. Shapter
;
J. Muhling
;
L. Soon
;
S.P. Ringer
;
E. Grinan
;
C. Frost
;
P.R. Munroe
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
33.
Secondary Electron Imaging - Doing it Better
机译:
二次电子成像-做得更好
作者:
D.C. Joy
;
B.J. Griffin
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
34.
Angle and Energy Selective Electron Imaging With an Immersion Lens Cryo-SEM
机译:
浸没式透镜低温-SEM的角度和能量选择性电子成像
作者:
B. Lich
;
J. Greiser
;
F. Morrissey
;
E. Bosch
;
G. v. Veen
;
L. Roussel
;
L. Tuma
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
35.
Energy Selective Secondary Electron Detection in SEM for the Characterization of Polymers
机译:
SEM中的能量选择性二次电子检测,用于表征聚合物
作者:
C. Rodenburg
;
A.J. Pearson
;
S.A. Boden
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
36.
Environmental NanoBiology: Structural Evaluation Of Naturally Occurring Transition Metal Oxide-Containing Surface Films From Freshwaters
机译:
环境纳米生物学:淡水中天然存在的含过渡金属氧化物的表面膜的结构评价
作者:
R. W. Smith
;
E. J. Sánchez
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
37.
Windowless Silicon Drift Detectors
机译:
无窗硅漂移检测器
作者:
R. Anderhalt
;
A. Sandborg
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
38.
Advances in Microscopy and Microanalysis in the Field of Forensic Firearm Examination and Identification
机译:
法医枪支鉴定领域的显微镜和显微分析研究进展
作者:
David J. Lamagna
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
39.
Improving Analytical Spatial Resolution with the JEOL Field Emission Electron Microprobe
机译:
使用JEOL场发射电子微探针提高分析空间分辨率
作者:
Peter McSwiggen
;
Norihisa Mori
;
Masaru Takakura
;
Charles Nielsen
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
40.
Advanced FIB Sample Preparation for High Performance TEM Analysis
机译:
用于高性能TEM分析的高级FIB样品制备
作者:
F. Altmann
;
R. Salzer
;
M. Simon
;
S. Huebner
;
Ch. Grosse
;
A. Graff
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
41.
FIB Target Preparation for 20 kV STEM - A Method for Obtaining Ultra-Thin Lamellas
机译:
20 kV STEM的FIB靶材制备-一种获得超薄薄片的方法
作者:
Lorenz Lechner
;
Johannes Biskupek
;
Ute Kaiser
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
42.
Optimized FIB Sample Preparation for Atomic Resolution Analytical STEM at Low kV-a Key Requirement for Successful Application
机译:
低kV原子分辨率分析STEM的优化FIB样品制备-成功应用的关键要求
作者:
M. Schaffer
;
B. Schaffer
;
Q. Ramasse
;
M. Falke
;
D. Abou-Ras
;
S.S. Schmidt
;
R. Caballero
;
K. Marquardt
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
43.
Concentrated Ar Ion Milling for Aberration - Corrected Electron Microscopy: A Review
机译:
集中Ar离子铣削的像差-校正电子显微镜:综述
作者:
R. R. Cerchiara
;
P. E. Fischione
;
J. Liu
;
J. M. Matesa
;
A. C. Robins
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
44.
Advanced Physical Failure Analysis Techniques Using 3D Rotation Imaging from Plane-View TEM Sample
机译:
从平面TEM样品中使用3D旋转成像的高级物理故障分析技术
作者:
Hyo-Jin Kang
;
Jae-Gon Gwak
;
Tae-Su Park
;
Tae-Sun Back
;
Ho-Joung Kim
;
Oscar Han
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
45.
Focus Ion Beam for Cross-Sectional TEM Specimen Preparation of Nanomaterials
机译:
聚焦离子束在纳米TEM样品制备中的应用
作者:
Jian-Guo Zheng
;
Sujing Xie
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
46.
Image Analysis Characterization of Modern Pipe Steels Structures
机译:
现代管钢结构的图像分析表征
作者:
A.A. Kazakov
;
D.V. Kiselev
;
E.I. Kazakova
;
L.S. Chigintsev
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
47.
UV Treatment of TEM/STEM Samples for Reduced Hydrocarbon Contamination
机译:
TEM / STEM样品的紫外线处理可减少碳氢化合物污染
作者:
David Hoyle
;
Marek Malac
;
Michel Trudeau
;
Patrick Woo
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
48.
Large Thin Area Preparation of Cross-Sectional TEM Specimens of Ⅲ-Ⅴ Semiconductors
机译:
Ⅲ-Ⅴ族半导体截面TEM样品的大面积制备
作者:
Jian-Guo Zheng
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
49.
Metallographic Preparation Techniques for Evaluation of Co-Cr-Mo Alloys
机译:
评估Co-Cr-Mo合金的金相制备技术
作者:
C. McNee
;
J.J. Frafjord
;
M. Mondo
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
50.
Metallographic Preparation of Space Shuttle Reaction Control System Thruster Electron Beam Welds for Electron Backscatter Diffraction
机译:
航天飞机反应控制系统推力电子束反向散射电子束焊的金相制备
作者:
J. Martinez
;
W. Castner
;
J. Figert
;
J. Ventura
;
D. Gonzalez
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
51.
The Importance of Sample Preparation in the Analysis of Powder Metallurgy (PM) Materials
机译:
样品制备在粉末冶金(PM)材料分析中的重要性
作者:
Thomas F. Murphy
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
52.
A Novel Preparation Method for Lean Duplex Steels
机译:
贫双相钢的新制备方法
作者:
Michael Panzenböck
;
Katharina S. Ragger
;
Harald Chladil
;
Helmut Clemens
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
53.
Delineating Prior Austenite Grain Boundaries in Carbon Steels
机译:
描绘碳钢中的先验奥氏体晶界
作者:
Samuel J. Lawrence
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
54.
Obtaining Consistent Vickers Hardness at Loads ≤100 Grams Force
机译:
载荷≤100克时获得一致的维氏硬度
作者:
George F. Vander Voort
;
Ryan Fowler
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
55.
Effects of Sample Preparation on Electron Probe Microanalysis of Alpha- Plutonium
机译:
样品制备对α-Electro电子探针显微分析的影响
作者:
T.A. Nothwang
;
A.D. Neuman
;
F. G. Hampel
;
F. Freibert
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
56.
The Contrast Mechanisms of LL-BSE Electrons in FE-SEM Characterization of Polymer, Single Proteins, and Oxidization States of Elements
机译:
LL-BSE电子在聚合物的FE-SEM表征,单个蛋白质和元素氧化态中的对比机理
作者:
Heiner Jaksch
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
57.
Solid State Backscattered Electron Detector Optimized for Minimum Detectable Energy and Maximum Scan Speed
机译:
固态背散射电子检测器针对最小可检测能量和最大扫描速度进行了优化
作者:
A.Liebel
;
H.Soltau
;
R.Eckhardt
;
Ojaritschin
;
A.Niculae
;
F.Schopper
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
58.
A New Solid State Photomultiplier Device for Electron Imaging
机译:
一种用于电子成像的新型固态光电倍增器
作者:
N.C. Barbi
;
C. Piemonte
;
F. Lopour
;
R.B. Mott
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
59.
Influence of Backscattered Electron Imaging Geometry on Channeling Contrast of Dislocations
机译:
背散射电子成像几何对位错通道对比度的影响
作者:
Ranga J. Kamaladasa
;
Yoosuf N. Picard
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
60.
STEM Dislocation Analysis and Image Simulations
机译:
STEM位错分析和图像模拟
作者:
P.J. Phillips
;
M.J. Mills
;
M. De Graef
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
61.
Simulation of Energy Selective Signal Amplification in Gas Environment of Variable Pressure SEM
机译:
变压扫描电子显微镜下气体环境中能量选择信号放大的模拟
作者:
V. Neděla
;
I. Konvalina
;
B. Lencová
;
J. Zlámal
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
62.
Oxide Surface Crystallography in Electron Microscopy
机译:
电子显微镜中的氧化物表面晶体学
作者:
J. Ciston
;
D. Su
;
Y. Lin
;
L. D. Marks
;
Y. Zhu
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
63.
In-situ Observations of the Complex Crystallization Processes Occurring Laser Heated Amorphous Germanium Films
机译:
激光加热非晶锗膜的复杂结晶过程的原位观察
作者:
Thomas LaGrange
;
Liliya Nikolova
;
Mark Wall
;
Bryan W. Reed
;
Geoffrey H. Campbell
;
Bradley J. Siwick
;
Federico Rosei
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
64.
Measurement ofNanograin Orientations: Application to Cu Interconnects and Nanoparticle Phase Identification
机译:
纳米晶粒取向的测量:在铜互连和纳米粒子相鉴定中的应用
作者:
G. Brunetti
;
J.L. Rouvière
;
R. Galand
;
L. Clément
;
C. Cayron
;
E.F. Rauch
;
D.Robert
;
J.F. Martin
;
F. Bertin
;
A. Chabli
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
65.
Processing and Quantification of Polycrystalline Electron Diffraction Patterns
机译:
多晶电子衍射图的加工和定量
作者:
X.Z. Li
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
66.
Automated Crystallite Orientation & Phase Mapping in the TEM: Diffraction Contrast in Virtual Bright/Dark Field images of Polycrystalline Copper
机译:
TEM中的自动微晶取向和相图:多晶铜的虚拟明/暗场图像中的衍射对比
作者:
S. Rouvimov
;
P. Moeck
;
E. F. Rauch
;
S. Nicolopoulos
;
W. Neumann
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
67.
Artificial STEM DI - Visualizing Polycrystalline Regions in High Resolution Images
机译:
人工STEM DI-在高分辨率图像中可视化多晶区域
作者:
B. Schaffer
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
68.
Transmission Electron Microscopy and Three-Dimensional Tomography of Peptide-Coated Single-Walled Carbon Nanotubes
机译:
肽涂层单壁碳纳米管的透射电子显微镜和三维层析成像。
作者:
P. Bajaj
;
J. Nguyen
;
C. Gilpin
;
G.R. Dieckmann
;
C.C. Chiu
;
S.O. Nielsen
;
I.H.Musselman
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
69.
Molecular Dynamics Simulations of Nanoclusters for Improved STEM Image Simulations
机译:
用于改进的STEM图像模拟的纳米团簇的分子动力学模拟
作者:
Richard Aveyard
;
Jun Yuan
;
Ziyou Li
;
Roy L. Johnston
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
70.
Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Tomography of Layer-by- Layer PAH/PSS-Au Nanocomposite Structures
机译:
逐层PAH / PSS-Au纳米复合结构的扫描透射电子显微镜(STEM)层析成像
作者:
Nabil D. Bassim
;
Andrew Herzing
;
Walter J. Dressick
;
Kathryn Wahl
;
Dmitri Y. Petrovykh
;
Kenan P. Fears
;
Rhonda M. Stroud
;
Thomas D. Clark
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
71.
The Use of Combined Three-Dimensional Electron Back Scatter Diffraction/Energy Dispersive X-Ray Analysis to Assess the Characteristics of the Gamma/Gamma-Prime Microstructure in Alloy 720Li?
机译:
结合使用三维电子背向散射/能量色散X射线分析评估720Li合金中γ/γ-Prime微结构的特性
作者:
D.J. Child
;
G.D. West
;
R.C. Thomson
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
72.
Metallography as a Microanalysis Tool during the Failure Investigation of the Starboard Solar Alpha Rotary Joint of the International Space Station
机译:
金相学作为国际空间站右舷太阳阿尔法旋转接头失效研究期间的微观分析工具
作者:
V.S. Long
;
M.C.Wright
;
S.J. McDanels
;
P.J. Marciniak
;
D.L. Lubas
;
B.P. Tucker
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
73.
Precipitation and 'Sensitization' of Type 304L Stainless Steel: Correlation of the ASTM A262 Practice A Test with Analytical Electron Microscopy
机译:
304L型不锈钢的析出和“致敏化”:ASTM A262的相关性实践与分析电子显微镜的测试
作者:
B. D. Miller
;
M. G. Burke
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
74.
Recent Developments in Silicon Drift Detector Technology: Atomic to mm Scale
机译:
硅漂移检测器技术的最新发展:原子到毫米规模
作者:
M. Falke
;
S. Scheller
;
A. Käppel
;
R. Terborg
;
R. Krömer
;
D. Fißler
;
M. Rohde
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
75.
3 Dimensional Microscopy, Large Volume Serial Block Face Imaging in the SEM
机译:
3维显微镜,SEM中的大体积串行块面部成像
作者:
Mancuso, Joel
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
76.
Reducing Reagent Consumption and Improving Efficiency of Specimen Fixation & Embedding, Grid Staining and Archiving using mPrep?Capsule Processing
机译:
使用mPrep?胶囊处理技术降低试剂消耗并提高标本固定和包埋,网格染色和存档的效率
作者:
S.L. Goodman
;
M. S. Kostrna
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
77.
Ato Z of Technology - Software for Better Results with Faster Sensors
机译:
Ato Z Technology-通过更快的传感器获得更好结果的软件
作者:
S. Burgess
;
J. Goulden
;
A. Hyde
;
D. Redfern
;
N. Rowlands
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
78.
Retrofittable Nano-Manipulation Systems for Scanning Electron Microscope
机译:
用于扫描电子显微镜的可改装纳米操纵系统
作者:
P. Woo
;
M. Nakamura
;
D. Hoyle
;
I. Cotton
;
Y. Zhang
;
B. Chen
;
Yan. Zhang
;
Y. Sun
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
79.
Is “There an App for That?” Take a Look at the New Portable Scanning Electron Microscopes
机译:
有针对这样的应用吗?”看看新的便携式扫描电子显微镜
作者:
D. Guarrera
;
A. Abe
;
T. Miyahara
;
Y. Ohta
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
80.
The How and Why of Smart Features
机译:
智能功能的方式和原因
作者:
R. Anderhalt
;
T. Nylese
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
81.
Challenging the Limits of Diffraction for Imaging, Biosensing and Optical Manipulation
机译:
挑战成像,生物传感和光学操作的衍射极限
作者:
Reuven Gordon
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
82.
Advances in Tip-Enhanced Spectroscopy from Optical Nano-Crystallography to Ultrafast Spectroscopy
机译:
尖端增强光谱技术从光学纳米晶体成像到超快光谱学的进展
作者:
Markus B. Raschke
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
83.
Apertureless Near-field Probe Design with Correlation to Field Enhancement and Focal Delocalization
机译:
与场增强和焦点离域相关的无孔近场探头设计
作者:
Derek B. Nowak
;
Jeff J. Doughty
;
A. J. Lawrence
;
Erik J. Sánchez
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
84.
Resolving Single Fluorophores Within Dense Ensembles: Contrast Limits of Tip- Enhanced Fluorescence Microscopy
机译:
解决密集集合中的单个荧光团:针尖增强型荧光显微镜的对比度极限
作者:
Benjamin D. Mangum
;
Jordan M. Gerton
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
85.
Optical Determination of Morphology of Nanoparticles
机译:
光学测定纳米颗粒的形貌
作者:
Bennett B. Goldberg
;
Abdulkadir Yurt
;
George Daaboul
;
M. Selim Ünlü
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
86.
Sub-Diffraction Optical Probe Design Considerations
机译:
次衍射光学探头设计注意事项
作者:
Erik J. Sánchez
;
Derek B. Nowak
;
Jeff J. Doughty
;
Mike DeArmond
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
87.
Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy to Study Microtubule Dynamics
机译:
全内反射荧光显微镜研究微管动力学
作者:
J.L. Ross
;
T. Hawkins
;
K. Hingorani
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
88.
Visualization of Exocytosis and Endocytosis in Cultured Neurones Using TIRF Microscopy
机译:
使用TIRF显微镜观察培养的神经元中胞吐作用和内吞作用
作者:
Damien Jullié
;
William Abdou Ben Moussa
;
David Perrais
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
89.
Laser Scanning Confocal Microscope-Based Fluorescence Recovery After Photobleaching (FRAP) Models for Pure Diffusion and Binding Diffusing Kinetics on Various Geometries in 1-3 Spatial Dimensions
机译:
基于激光共聚焦显微镜的荧光复原后的光漂白(FRAP)模型,用于在1-3空间尺寸中的各种几何形状上的纯扩散和结合扩散动力学。
作者:
M. Kang
;
E. DiBenedetto
;
A. K. Kenworthy
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
90.
The Role of Centrioles in Mammalian Fertilization and Development
机译:
中心在哺乳动物受精和发育中的作用
作者:
Heide Schatten
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
91.
Elucidating the Formation Characteristics of Melamine-Cyanuric Acid Complex
机译:
阐明三聚氰胺-氰尿酸络合物的形成特征
作者:
F. Akhter
;
J. Miller
;
N.S. Chong
;
B.G. Ooi
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
92.
Label-free 3D Imaging of Development of Cell Patterns in Drosophila melanogaster Wing Imaginal Disc
机译:
果蝇翼想像盘中细胞模式发展的无标签3D成像。
作者:
G. Rago
;
F. Marty
;
J.P.R. Day
;
R. Heeren
;
K. Basler
;
E. Brunner
;
M. Bonn
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
93.
Immuno-EM in Buffer Using the Atmospheric Scanning Electron Microscope (ASEM)
机译:
使用大气扫描电子显微镜(ASEM)在缓冲液中进行免疫EM
作者:
Chikara Sato
;
Yuusuke Maruyama
;
Tatsuhiko Ebihara
;
Kazuhiro Mio
;
Sachie Manaka
;
Hidetoshi Nishiyama
;
Mitsuo Suga
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
94.
Formation ofSingle-Orientation Epitaxial Islands ofTiSi2 on Si (001) Using Sr Passivation
机译:
利用Sr钝化在Si(001)上形成TiSi2单取向外延岛
作者:
J.J. Kim
;
A. Posadas
;
R. Dargis
;
M. Choi
;
A. A. Demkov
;
D. J. Smith
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
95.
Order in Nanometer-Thick Intergranular Films at Au-Sapphire Interfaces
机译:
在金-蓝宝石界面处订购纳米厚的晶间膜
作者:
M. Baram
;
S.H. Garofalini
;
W.D. Kaplan
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
96.
ABF STEM Characterization of Light Elements in Ceramic Interface
机译:
陶瓷界面中轻元素的ABF STEM表征
作者:
Y. Ikuhara
;
R. Huang
;
S.D. Findlay
;
T. Mizoguchi
;
N. Shibata
;
T. Hirayama
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
97.
Grain Boundary Complexions in TiO2 Bicrystals Doped with CuO
机译:
CuO掺杂TiO2双晶中的晶界络合物。
作者:
S. Ma
;
T.J. Pennycook
;
M.P. Oxley
;
D.N. Leonard
;
C.J. Kiely
;
S.J.Pennycook
;
M.P. Harmer
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
98.
Quantitative Study of an Incommensurate Grain Boundary Using Aberration Corrected Microscopy
机译:
使用像差校正显微镜对不相称的晶界进行定量研究
作者:
A. Gautam
;
T. Radetic
;
F. Lancon
;
U. Dahmen
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
99.
Implementation and Impact of Digital Pathology in the Pharmaceutical Industry
机译:
数字病理学在制药行业的实施及其影响
作者:
B.E. Maleeff
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
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2011年
100.
HRTEM Study of Dissociated Dislocation Structures in Low-Angle Grain Boundaries of Alumina
机译:
氧化铝低角度晶界中解离位错结构的HRTEM研究
作者:
E. Tochigi
;
N. Shibata
;
A. Nakamura
;
T. Mizoguchi
;
T. Yamamoto
;
Y. Ikuhara
会议名称:
《International Metallographic Society Annual meeting;Microscopy Society of America Annual Meeting;Microanalysis Society Annual meeting》
|
2011年
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