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Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US
Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US
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1.
.Improved mechanical properties of metallic micro-structures
机译:
。改善了金属微结构的机械性能
作者:
J. Schreiber
;
S. Braun
;
A. Gatto
;
H. Schenk
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
roughness;
texture;
residual stresses;
nano-crystalline;
structure relaxation;
bending test;
2.
Application of computer tomography in microelectronic packaging
机译:
计算机断层扫描技术在微电子包装中的应用
作者:
Martina Speck
;
Klaus-Juergen Wolter
;
Dietmar Daniel
;
Marek Danczak
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
computer tomography;
nondestructive testing;
microelectronic packaging;
limited angle tomography;
3.
Characterization of materials with nanoscopic filler particles by AFM techniques
机译:
通过原子力显微镜技术表征具有纳米填料颗粒的材料
作者:
Dietmar Vogel
;
Juergen Keller
;
Bernd Michel
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
scanning probe microscopy;
nano particles;
composites;
nanoDAC deformation measurement;
4.
Characterization of Microscopic Surface Breaking Cracks Using the Near-Field Intensification of Non-Destructive Laser Generated Surface Waves
机译:
使用非破坏性激光产生的表面波的近场增强表征微观的表面破裂裂纹
作者:
Adam T. Cooney
;
James L. Blackshire
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
laser ultrasonics;
non-destructive evaluation;
near-field ultrasonic scattering;
thermoelastic mechanism;
5.
Calibration of an electro-optical variable circular retarder with application in a nulling microellipsometer
机译:
光电可变圆形延迟器的标定及其在零椭圆仪中的应用
作者:
Yew Li Hor
;
Qiwen Zhan
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
polarization;
variable circular retarder;
nulling microellipsometer;
6.
Carbon buffer layers for smoothing substrates of EUV and X-ray multilayer mirrors
机译:
碳缓冲层,用于平滑EUV和X射线多层镜的基板
作者:
S. Braun
;
B. Bendjus
;
T. Foltyn
;
M. Menzel
;
J. Schreiber
;
D. Weissbach
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
thin film deposition;
smoothing;
multilayer mirrors;
carbon;
EUV;
PLD;
7.
HIGH-RESOLUTION NONDESTRUCTIVE EVALUATION AT THE CENTER FOR MATERIALS DIAGNOSIS
机译:
材料诊断中心的高分辨率无损评估
作者:
N. Meyendorf
;
S. Sathish
;
C. Druffner
;
J. Blackshire
;
J. Hoffmann
;
Q. Zhan
;
R. Andrews
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
high resolution NDE;
acoustic microscopy;
ultrasonic force microscopy;
interferometry;
white light interference microscopy;
micro-ellipsometry;
coatings;
fatigue;
microcracks;
8.
Evaluation of Interactive Forces between Alkaline Earth Metal Fluoride Particles and Single Crystal Substrate using Atomic Force Microscopy
机译:
用原子力显微镜评估碱土金属氟化物颗粒与单晶基质之间的相互作用力
作者:
Y.Y. Tsai
;
V. Nalladega
;
S. Sathish
;
M.K. Stanford
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
AFM;
calcium fluoride;
adhesion force;
capillary force;
relative humidity;
plasma spray deposition;
9.
Laser Processing of Micro-Cracks for Structural Life Extension
机译:
微裂纹的激光加工可延长结构寿命
作者:
James L. Blackshire
;
Larry Dosser
;
Ken Hix
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
laser heat treatment;
microcrack;
nondestructive evaluation;
10.
Materials characterization of micro-devices
机译:
微型设备的材料表征
作者:
J. Schreiber
;
B. Bendjus
;
B. Koehler
;
V. Melov
;
T. Baumbach
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
material characterization;
micro-device;
atomic force microscopy;
micro-structured metallization;
11.
NDE of micro structured materials by X-ray diffraction and refraction topography
机译:
X射线衍射和折射形貌对微结构材料的无损检测
作者:
Manfred P. Hentschel
;
Axel Lange
;
K.-Wolfram Harbich
;
Joerg Schors
;
Oliver Wald
;
Bernd R. Mueller
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
polymers;
ceramics;
composites;
CFRP;
MMC;
CMC;
interfaces;
cracks;
nano debonding;
X-ray diffraction imaging;
small angle X-ray scattering imaging;
refraction computed tomography;
12.
Micro- and Nano-NDE in the Laboratory for Acoustic Diagnosis and Quality Assurance EADQ Dresden
机译:
声学诊断和质量保证实验室中的微量和纳米NDE EADQ德累斯顿
作者:
B. Koehler
;
J. Schreiber
;
B. Bendjus
;
M. Herms
;
V. Melov
;
L. Helfen
;
P. Mikulik
;
T. Baumbach
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
NDE;
X-ray;
micro mirror;
SEM;
SEAM;
SPM;
vibrometer;
13.
Nondestructive Mechanical Imaging of SnO_2 Nanobelts
机译:
SnO_2纳米带的无损机械成像
作者:
Y. Zheng
;
R. E. Geer
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
nanomechanics;
ultrasonic force microscopy;
mechanical imaging;
tin oxide;
nanobelts;
14.
Nanoscale non-destructive electric field probing in ferroelectrics, organic molecular films, and near-field optical nanodevices
机译:
铁电体,有机分子膜和近场光学纳米器件中的纳米级无损电场探测
作者:
Lukas M. Eng
;
Stefan Grafstroem
;
Ingo Hellmann
;
Christian Loppacher
;
Tobias Otto
;
Jan Renger
;
Frank Schlaphof
;
Jan Seidel
;
Ulrich Zerweck
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
scanning probe microscopy;
kelvin prove force microscopy;
piezoresponse force microscopy;
near-field optics;
electric field enhancement;
ferroelectrics;
structured metallic thin films;
organic molecules;
15.
Nondestructive Ultrasonic Characterization of Multilayer Coatings
机译:
多层涂层的超声波无损表征
作者:
Saeed Uzzaman
;
Mohammad Khobaib
;
Jochen Hoffmann
;
Nobert Meyendorf
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
coating degradation;
acoustic microscopy;
modeling of acoustic signal;
16.
A comparison between the atomic force microscopy and X-ray reflectivity on the characterization of the roughness of a surface
机译:
原子力显微镜和X射线反射率对表面粗糙度表征的比较
作者:
Hui-Chia Su
;
Ming-Zhe Lin
;
Tzu-Wen Huang
;
Chih-Hao Lee
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
atomic force microscopy;
X-ray reflectivity;
surface roughness;
17.
A continuum simulation of adhesive-adherend interface layers for USNDE
机译:
USNDE的胶粘剂-界面界面层的连续模拟
作者:
R.Y.Vasudeva
;
G.Sudheer
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
adhesive-adherend;
dispersion-attenuation;
guided waves;
porosity;
18.
Acoustic Emission (AE) evaluation of fiberglass insulation material
机译:
玻璃纤维绝缘材料的声发射(AE)评估
作者:
Fong Shu
;
Valery Godinez
;
Richard D. Finlayson
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
acoustic emission (AE);
nondestructive testing (NDT);
insulation material;
fiberglass;
19.
Barkhausen noise and eddy current microscopy - a new scanning probe technique for microscale characterization of materials
机译:
Barkhausen噪声和涡流显微镜-一种用于材料微观表征的新型扫描探针技术
作者:
Klaus Szielasko
;
Sergey Lugin
;
Melanie Kopp
;
Iris Altpeter
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
BEMI;
barkhausen noise;
eddy current;
microscopy;
imaging;
residual stress;
coating;
thickness;
microstructure;
thin films;
20.
Characterization of Microcracks by Application of Digital Image Correlation to SPM Images
机译:
通过将数字图像相关应用于SPM图像来表征微裂纹
作者:
Juergen Keller
;
Astrid Gollhardt
;
Dietmar Vogel
;
Bernd Michel
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
nanoDAC;
AFM;
displacement measurements;
deformation measurements;
digital image correlation;
21.
Development of GMR Eddy Current Sensors for High Temperature Applications and Imaging of Corrosion in Thick Multi-layer Structures
机译:
用于高温应用的GMR涡流传感器的开发以及对厚多层结构腐蚀的成像
作者:
Sandeep Bajjuri
;
Jochen Hoffman
;
Ajay Siddoju
;
Norbert Meyendorf
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
deep penetrating probes;
temperature stable probes;
multi frequency eddy current;
conductivity measurement;
linear regression algorithm;
GMR;
22.
Determination of Local Stress Intensity Factor at Crack Tip Using Image Correlation Techniques
机译:
利用图像相关技术确定裂纹尖端的局部应力强度因子
作者:
Y.Y. Tsai
;
J. Keller
;
D. Eylon
;
D. Vogel
;
B. Michel
;
N. Meyendorf
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
image correlation;
AFM;
UFM;
WLIM;
stress intensity factor;
precipitations;
23.
Introduction to EBSD analysis of micro- to nanoscale microstructures in metals and ceramics
机译:
EBSD分析金属和陶瓷中微观至纳米级微观结构的简介
作者:
Scott D. Sitzman
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
EBSD;
microstructural characterization;
nanomaterials;
electron diffraction;
24.
Mechanical wave propagation at phase- and material interfaces of microstructures
机译:
机械波在微结构的相和材料界面传播
作者:
Jacqueline Vollmann
;
Dieter M. Profunser
;
Jozefien Goossens
;
Juerg Dual
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
material interfaces;
functionally graded material (FGM);
laser acoustics;
MEMS inspection;
wave propagation;
in-depth profiling;
25.
Microanoscale tribological and mechanical characterization for MEMS/NEMS
机译:
MEMS / NEMS的微纳尺度摩擦学和力学表征
作者:
Bharat Bhushan
;
Huiwen Liu
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
26.
POSITRON ANNIHILATION SPECTROSCOPY TO STUDY NANOPRECIPITATIONS IN ALUMINUM ALLOYS
机译:
正电子AN没能谱研究铝合金的纳米沉淀
作者:
Norbert Meyendorf
;
Guenter Dlubek
;
Alexander Surkov
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
positron annihilation;
nano-precipitations;
aluminum alloy;
RRA heat treatment;
27.
Real-time visualization of bridge structural response through wireless MEMS sensors
机译:
通过无线MEMS传感器实时可视化桥梁结构响应
作者:
Hung-Chi Chung
;
Tomoyuki Enotomo
;
Kenneth Loh
;
Masanobu Shinozuka
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
bridge monitoring;
MEMS;
sensor;
wireless communication;
28.
Raman spectroscopic investigation of stresses in microstructures of pyro-electric devices
机译:
拉曼光谱研究热释电器件微观结构中的应力
作者:
R. Krawietz
会议名称:
《Conference on Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II; 20040315-20040317; San Diego,CA; US》
|
2004年
关键词:
stress;
piezo-spectroscopy;
raman effect;
microstructure;
silicon;
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