掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献检索
外文数据库(机构版)
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices
IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices
召开年:
2014
召开地:
Boise, ID(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
全选(
0
)
清除
导出
1.
Title page
机译:
封面
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
2.
Plenary talk: Ubiquitous mobile computing — Growth driver for the semiconductor industry: Technology trends, challenges and opportunities
机译:
全体会议:无处不在的移动计算-半导体行业的增长动力:技术趋势,挑战和机遇
作者:
Yeap Geoffrey
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
3.
Invited tutorial: Noise in amplifiers, mixers and oscillators
机译:
特邀教程:放大器,混频器和振荡器中的噪声
作者:
Lee Tom
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
4.
Invited talk: CMOS device scaling — Past, present, and future
机译:
特邀演讲:CMOS器件缩放—过去,现在和将来
作者:
Taur Yuan
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
5.
Invited talk: 3D chip stacking
机译:
特邀演讲:3D芯片堆叠
作者:
Farooq Mukta
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
6.
Copyright page
机译:
版权页
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
7.
Invited tutorial: The classical/emerging reliability considerations of semiconductor devices
机译:
特邀教程:半导体器件的经典/新兴可靠性考虑
作者:
Alam Muhammad A.
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
8.
Invited talk: The perfect memory storm
机译:
特邀演讲:完美的记忆风暴
作者:
Keeth Brent
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
9.
Welcome
机译:
欢迎
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
10.
Organizing committee
机译:
组织委员会
会议名称:
《》
|
2014年
11.
Invited talk: Automata processor and its applications in bioinformatics
机译:
特邀演讲:自动机处理器及其在生物信息学中的应用
作者:
Aluru Srinivas
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
12.
Technical program
机译:
技术程序
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
13.
Invited talk: Early estimation of on-chip clock jitter accumulation — A brief tutorial
机译:
特邀演讲:片上时钟抖动累积的早期估计—简要教程
作者:
Hollis Timothy M.
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
14.
Keynote: Bionanoscience for innovative global healthcare research technology (BIGHEART)
机译:
主题演讲:Bionanoscience用于创新的全球医疗研究与技术(BIGHEART)
作者:
Lee Luke P.
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
15.
List of author
机译:
作者名单
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
16.
Advance call for papers
机译:
提前征稿
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
17.
List of paper
机译:
论文清单
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
18.
LDD implant process optimization for high voltage NMOS improvement
机译:
LDD注入工艺优化可改善高压NMOS
作者:
Liu Lequn Jennifer
;
Mikhalev Vladimir
;
McLean Nick
;
Irwin Mike
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
关键词:
LDD;
beam current;
channeling effect;
high voltage NMOS;
implant damage;
lateral junction depth;
punch through;
19.
Contributed papers
机译:
投稿论文
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
20.
The effect of Shallow Trench Isolation improvement on program disturb response in 20 nm NAND flash technology
机译:
浅沟槽隔离度提高对20 nm NAND闪存技术中程序干扰响应的影响
作者:
Chandrasekaran Suresh
;
Venkatesan Srivatsan
;
Eagle Oliver H.
;
Iyengar Vikram V.
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
关键词:
Active Area (AA);
Active Area Aspect Ratio (AAAR);
Bit Line (BL);
Critical Dimension (CD);
Field isolation;
Program Disturb (PD);
STI Depth Imbalance;
Shallow Trench Isolation (STI);
Threshold Voltage (Vt);
Word Line (WL);
21.
Physically flexible high performance single crystal CMOS integrated with printed electronics
机译:
物理灵活的高性能单晶CMOS与印刷电子设备集成
作者:
Chaney Richard L.
;
Hackler Douglas R.
;
Wilson Dale G.
;
Meek Brian N.
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
关键词:
FHS;
FleX;
flexible;
22.
Thermal budget impact on HKMG Al2O3 and La gate stacks for advanced DRAM periphery transistors
机译:
热预算对高级DRAM外围晶体管的HKMG Al2O3和La栅堆叠的影响
作者:
Ritzenthaler R.
;
Schram T.
;
Spessot A.
;
Caillat C.
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
关键词:
Alumina capping;
Arsenic ion Implantation;
DRAM periphery transistors;
La capping;
23.
Optimized process simulation of USJ for HKMG DRAM periphery transistors
机译:
USMG用于HKMG DRAM外围晶体管的优化工艺仿真
作者:
Spessot A.
;
Caillat C.
;
Ritzenthaler R.
;
Schram T.
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
关键词:
DRAM periphery;
TCAD;
USJ;
thermal budget;
24.
Low-current sensing circuit and topology for portable gamma radiation sensor
机译:
便携式伽马辐射传感器的低电流传感电路和拓扑
作者:
Ailavajhala M.S.
;
Latif M.R.
;
Mitkova M.
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
关键词:
Circuit topology;
Low-current;
Radiation sensing circuitry;
25.
Scanning frequency comb microscopy (SFCM) shows promise for sub-10 nm dopant profiling
机译:
扫描频率梳形显微镜(SFCM)显示了10 nm以下掺杂物分布的前景
作者:
Hagmann Mark J.
;
Andrei Petru
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
关键词:
carrier profiling;
dopant profiling;
femtosecond laser;
microwave frequency comb;
scanning frequency comb microscopy;
scanning probe microscopy;
26.
Dark current in standard CMOS pinned photodiodes for Time-of-Flight sensors
机译:
飞行时间传感器的标准CMOS固定光电二极管中的暗电流
作者:
Illade-Quinteiro J.
;
Brea Victor M.
;
Lopez P.
;
Blanco-Filgueira B.
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
27.
Ion beam effect on Ge-Se chalcogenide glass films: Non-volatile memory array formation, structural changes and device performance
机译:
离子束对Ge-Se硫族化物玻璃薄膜的影响:非易失性存储阵列的形成,结构变化和器件性能
作者:
Latif M.R.
;
Nichol T.L.
;
Mitkova M.
;
Tenne D.A.
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
关键词:
Redox conductive bridge memory;
chalcogenide glass;
film and device characterization;
28.
Microelectronics wirebond pull and shear test simulations using finite element method
机译:
微电子引线键合拉伸和剪切测试的有限元模拟
作者:
Hunter Stevan
;
Hill Levi W.
会议名称:
《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》
|
2014年
意见反馈
回到顶部
回到首页