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机译:用正电子an没研究(Pb,La)(Zr,Ti)O / sub 3 /薄膜中与空位有关的缺陷
机译:用正电子an没研究(Pb,La)(Zr,Ti)O3薄膜中与空位有关的缺陷
机译:热释电红外探测器用溶胶-凝胶Pb(Zr_(0.3)Ti_(0.7))O_3与Pb(Zr_(0.3)Ti_(0.7))O_3 / PbTiO_3多层薄膜的比较研究
机译:铁电体PbTiO_3和Pb(Zr,Ti)O_3中的阳离子空位:正电子an没寿命谱研究
机译:用正电子an没研究(Pb,La)(Zr,Ti)O / sub 3 /薄膜中与空位有关的缺陷
机译:晶体缺陷对薄膜Pb(Zr,Ti)O3中畴壁运动的影响。
机译:掺有稀土元素Er3 +的碲化物玻璃70TeO2-5XO-10P2O5-10ZnO-5PbF2(X = MgBi2Ti)的正电子ni没寿命光谱法测量缺陷结构
机译:正电子An没研究沉积温度对ZrN薄膜缺陷密度的影响
机译:正电子湮没研究陶瓷和薄膜pb(Zr,Ti)O3材料中的空位相关缺陷