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Scattering parameter characterization of microwave optoelectronic devices and fiber-optic networks

机译:微波光电器件和光纤网络的散射参数表征

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摘要

A microwave fiber-optic network analyzer test set is proposed that will allow the application of two-port calibration theory to the measurement of optical and optoelectronic components in high frequency fiber-optic links. Formulae for the optoelectronic calibration are presented. A unified approach to optical and optoelectronic two-port calibration theory is covered.
机译:提出了一种微波光纤网络分析仪测试仪,该测试仪将允许将两端口校准理论应用于高频光纤链路中光学和光电组件的测量。介绍了用于光电校准的公式。涵盖了光和光电两端口校准理论的统一方法。

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