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逐行复位快闪式CMOS焦平面读出电路的测试方法

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摘要

介绍了一种逐行复位快闪CMOS焦平面读出电路的测试方法及测试结果.该电路基于电荷转移原理,采用逐行复位方式.基于测试考虑,设计了模拟光电流的测试管,和可调节的工作时序.设计了一种新的测试方法测量出了内部寄生参量.除此以外对电路的其他重要参数进行了详细测量.

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来源
《激光与红外》 |2004年第6期|460-463|共4页
作者
高峻; 陈中建; 鲁文高; 吉利久; 赵建忠; 董硕;
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作者单位

北京大学微电子研究院,北京,100871;

北京大学微电子研究院,北京,100871;

北京大学微电子研究院,北京,100871;

北京大学微电子研究院,北京,100871;

华北光电技术研究所,北京,100015;

华北光电技术研究所,北京,100015;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类中规模集成电路;
关键词
焦平面; 读出电路; 测试方法;

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