二进制差分随机过程键控的结构与性能分析

摘要

提出了一种二进制差分随机过程键控的调制解调结构,推导出了在高斯信道和准静态衰落信道下的误比特率理论计算公式,并对系统进行了误比特率和二阶循环谱检测的仿真.仿真结果表明,提出的差分随机过程键控,在高斯信道下大约在-2 dB、在准静态瑞利衰落信道下大约在25 dB的信噪比下具有10-4数量级的误比特率.同时,所提出的差分随机过程键控调制方法,其广义二阶循环谱的不可检测性,使其具有很好的物理层隐蔽性.