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基于GaN技术的大功率T/R组件可靠性设计与分析

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摘要

结合T/R组件的工作原理,对影响大功率T/R组件可靠性的关键技术进行了设计与分析.通过与现有的基于GaAs技术的T/R组件设计电路对比分析,阐述了基于GaN技术的大功率、高可靠性T/R组件的电路设计方法.

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来源
《装备环境工程》 |2020年第12期|115-118|共4页
作者
彭祥飞; 江浩; 邓林;
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作者单位

中国电子科技集团公司第 29 研究所成都 610036;

中国电子科技集团公司第 29 研究所成都 610036;

中国电子科技集团公司第 29 研究所成都 610036;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类雷达设备、雷达站;
关键词
T/R组件; GaN芯片; 高可靠性; 电路设计; 热设计;

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