局部阻抗测试技术在评定有机涂层环境失效中的应用

章妮; 孙志华; 张琦; 蔡建平

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局部阻抗测试技术在评定有机涂层环境失效中的应用

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局部电化学阻抗谱技术(LEIS)是一种新型的电化学测试技术,可以通过测量有机涂层体系的局部阻抗,并在局部阻抗的变化、涂层电容的变化以及涂层的剥离程度之间建立起直接关系,弥补了传统电化学阻抗技术(EIS)只能反映所测面积整体平均信息的缺点,因而对评定有机涂层的环境失效有着重要意义.对该技术的测定原理、测定装置以及在评定有机涂层环境失效上的应用进行了介绍.

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来源
《装备环境工程》|2007年第1期|75-78,82|共5页
作者
章妮; 孙志华; 张琦; 蔡建平;
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作者单位

北京航空航天大学,北京,100083;

北京航空材料研究院,北京,100095;

北京航空航天大学,北京,100083;

北京航空材料研究院,北京,100095;

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正文语种 chi
中图分类无机物复层保护;基础理论;
关键词
局部电化学阻抗谱测试技术(LEIS); 有机涂层; 环境失效;

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