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张子砚;
贵阳学院电子与通信工程学院;
GaN; 2DEG; 势垒层; 双异质结;
机译:基于间隔物的AlGaN / AlN / GaN HEMT器件中2DEG薄层载流子密度和DC特性的建模
机译:基于物理的AlGaN / GaN HEMT器件2DEG电荷密度分析模型
机译:2DEG运输性能对AlGaN / GaN Hemt和Algan / Ingan / GaN Phemt的温度
机译:Al2O3层和蚀刻深度对栅极凹陷Al2O3 / AlGaN / AlGaN / GaN MOS-HEMT中2deg薄片密度的影响机理
机译:研究常关模式的AlGaN / GaN MOS HEMT器件,该器件利用栅极后退和p-GaN栅极结构以及带有醛生长的高k栅极绝缘体来实现高功率应用。
机译:使用AlGaN / GaN / AlGaN量子阱电子阻挡层的AlGaN / GaN HEMT中的高击穿电压
机译:AlN和GaN脉冲比在热原子层沉积AlGaN上的影响AlGaN in AlGaN / GaN肖特基二极管电学性能
机译:具有透明石墨烯电极的快速太阳能盲alGaN / GaN 2DEG紫外检测器。
机译:GaN / AlGaN /或AlGaN / AlGaN量子阱结构的形成方法
机译:兼容SI-CMOS工艺的Algan / GAN异质结HEMT器件及其制造方法
机译:氟化石墨烯钝化的AlGaN / GaN基HEMT器件及其制造方法
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