XRF法测定高铝陶瓷材料中的常量元素方法研究

摘要

X射线荧光光谱仪(XRF)可以快速、准确地测量陶瓷材料的化学成分,但目前国家和行业标准中尚未采用。为给企业在生产过程中的实时快速监控和检验检测机构的质量监督提供技术手段,建立了使用XRF测量高铝陶瓷材料中的Al_(2)O_(3)、SiO_(2)、CaO、MgO、K_(2)O、Na_(2)O、Fe_(2)O_(3)、TiO_(2)等主要成分的方法。此方法能够固体直接采样,进行快速检测,相较于传统分析方法,流程短、速度快、结果准确、对环境友好,更适用于批量检测。