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郝跃; 朱春翔; 刘志镜;
不详;
缺陷空间分布; 成团效应; 集成电路; 硅片;
机译:硅片氧化膜缺陷测量中散射光空间分布的特性分析
机译:Li-Al层状双氢氧化物(LDH)膜在玻璃,硅片和碳布上的快速直接生长以及基底上LDH膜的表征
机译:地质点过程空间分布的分形表征
机译:氧气和真空退火后的低温表面饱和后,氢气在注入氢的硅片中的缺陷缺陷层上的吸气
机译:高电阻率硅块体和绝缘体上硅片的表征。
机译:胰岛的分形空间分布在三个维度上:自我避免的生长模型
机译:硅中的缺陷结构分析。低成本太阳能电池阵列项目大面积硅片任务的硅片增长发展
机译:硅的缺陷结构分析。 semix材料的表征。低成本太阳能电池阵项目大面积硅片任务的硅片增长发展
机译:用于测试硅片上同时和串行集成电路的灵活测试机制以及测试硅片上同时和串行集成电路的方法。
机译:表征半导体晶圆上的缺陷型集成电路的方法
机译:快速可靠的无损检测和表征单晶半导体材料中的晶体缺陷硅棒或硅片
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