首页> 中文期刊> 《电子学报》 >基于遗传算法的数字电路试生成方法

基于遗传算法的数字电路试生成方法

         

摘要

本文提出了一种基于遗传算法的数字电路测试图形生成方法,首先把被测电路的门细描述转化为易于计算的非线性网络,然后用遗传算法找到网络能量函数的最优解,从而得以被测电路的测试集。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号