• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 中文期刊> 《电子学报》 >抑制分离式读写头下硬盘自伺服刻写过程的径向误差

抑制分离式读写头下硬盘自伺服刻写过程的径向误差

         
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

本文分析了自伺服过程中产生轨道形状偏差的原因及其带来的径向误差传递现象.详细讨论了分离式磁头对自伺服刻写的影响,指出磁头弯曲度的变化将对径向误差的传播产生一定作用.提出了一种加权型校正信号的产生方法,并从理论上和仿真条件下证明了该方法在参考值变化的情况下对径向误差抑制的作用.

著录项

  • 来源
    《电子学报》 |2008年第11期|2239-22422246|共5页
  • 作者

    赵小刚; 王海卫; 谢长生; 李博;

  • 作者单位

    华中科技大学计算机学院,湖北武汉,430074;

    武汉光电国家实验室光电信息存储研究部,湖北武汉,430074;

    华中科技大学计算机学院,湖北武汉,430074;

    武汉光电国家实验室光电信息存储研究部,湖北武汉,430074;

    华中科技大学计算机学院,湖北武汉,430074;

    武汉光电国家实验室光电信息存储研究部,湖北武汉,430074;

    华中科技大学计算机学院,湖北武汉,430074;

    武汉光电国家实验室光电信息存储研究部,湖北武汉,430074;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 安全保密;
  • 关键词

    自伺服刻写; 径向误差; 误差传播; 分离式磁头; 磁头弯曲度;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号