典型胚胎电子系统结构与性能的数学描述方法

摘要

为从数学角度分析和研究胚胎电子系统,提出了一种典型胚胎电子系统的数学描述方法.分析胚胎电子系统的结构特点和工作原理,建立电子系统的功能函数和工作状态函数.基于自修复能力和硬件消耗两个指标,建立电子系统的性能函数.利用建立的功能函数、工作状态函数和性能函数实现电子系统的数学描述,进而研究胚胎电子系统的功能判断、可靠性分析、性能评估、结构设计优化、自修复方式选择和预防性维修决策等.结果表明,胚胎电子系统的数学描述方法能够准确地对系统功能、性能和工作状态进行描述,从数学角度对胚胎电子系统开展理论研究.