ECE Dept Univ. of Connecticut Storrs CT USA;
Environmental Variations; Hardware Security; IC Authentication; PUF; Process Variations;
机译:利用半导体制造过程变化:基于FinFET的物理不可渗透功能,可用于IOT中有效的安全集成
机译:使用物理不可渗透功能对多处理器系统的内存完整性和真实性
机译:基于处理器的强大物理不可克隆功能以及基于老化的响应调整
机译:具有过程和环境变化的新型物理不可克隆功能
机译:基于新颖的基于晶体管电阻变化的物理不可克隆功能,带有片上电压数字转换器,设计用于加密和认证应用。
机译:最优性摘要:与物理不可分类的功能密钥协议
机译:利用物理不可渗透功能对多处理器系统的内存完整性和真实性
机译:基于处理器的强物理不可克隆功能,具有基于老化的响应调整(预打印)。