Texas Instruments, Inc, PO Box 650311, MS 3707, Dallas, Tx 75265;
in-line defect inspection; defect classification; defect type; integrated circuit manufacturing; automatic defect classification; ADC;
机译:良率管理中的在线缺陷采样方法:一个集成框架
机译:从历史的角度减少在线缺陷及其对未来集成电路制造的影响
机译:基于补偿定理的三相综合分析变压器短路,开路和内部故障的方法
机译:集成电路综合缺陷分类综合方法
机译:集成电路设计中用于参数选择和离散决策的综合方法论模型
机译:iProClass: 集成全面且带注释的蛋白质分类数据库
机译:针对三维集成电路的综合布局方法和特定于布局的电路分析
机译:半导体元件和集成电路的缺陷及良率分析