Advanced Technology RD Center, Mitsubishi Electric Corporation, Hyogo, Japan;
Advanced Technology RD Center, Mitsubishi Electric Corporation, Hyogo, Japan;
Advanced Technology RD Center, Mitsubishi Electric Corporation, Hyogo, Japan;
Tokyo Institute of Technology, Tokyo, Japan;
Tokyo Institute of Technology, Tokyo, Japan;
Tokyo Institute of Technology, Tokyo, Japan;
Silicon-Carbide (SiC) MOSFET; Parasitic Capacitor; Gate-source voltage dependencies; Switching waveforms;
机译:电力模块寄生电容对中电压SiC MOSFET开关瞬态的影响
机译:基于MOSFET的空气扼流谐振DC-DC升压开关电容器电压倍增器的效率分析
机译:基于Mosfet的开关电容器电压倍增器拓扑中的功率谐振DC-DC升压转换器中的过载条件分析
机译:寄生电容器栅极源电压依赖性的物理分析及其对离散碳化硅MOSFET切换行为的影响
机译:阈值电压不稳定性对碳化硅mosfet可靠性的原因和影响
机译:分立工程用于嵌入式硅控整流器的高压60V n沟道横向扩散MOSFET的瞬态传感和可靠性改善。
机译:使用低压硅MOSFET对级联配置中的SuperJunction MOSFET的开关行为进行建模