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X射线荧光光谱分析空气滤膜颗粒物中多种元素

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采用X射线荧光光谱分析空气滤膜采集悬浮颗粒物中的多种元素,样品不需要前处理,不使用试剂,测量1个样品中40余种元素约耗时1h.重复测量10次NIST SRM 2783空气滤膜标准样品,多数元素的测量值与标准值基本一致,测量值的标准偏差较小;测量20个空气滤膜实际样品,并与ICP-MS法作比对,大多数元素两种方法测量结果的相对偏差较小,测量值基本一致.

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来源
《帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会》|2012年|168-172|共5页
会议地点杭州
作者
LIU Shao-yu; 刘少玉; BAO Yan-ying; 包艳英; WANG Wei; 王炜;
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作者单位

帕纳科中国用户X射线分析仪器技术交流会组委会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类粒状污染物;环境分析化学;
关键词
空气滤膜; 悬浮颗粒物; 化学元素; X射线荧光光谱;

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