围手术期高血糖研究进展

摘要

众多研究表明围手术期患者易于发生高血糖,且高血糖明显增加围手术期并发症及死亡率.自2001年Van Den Berghe等报道强化胰岛素治疗(intensive insulin therapy,IIT)(目标血糖范围4.4～6.1mmol/L)可以使院内死亡率降低34％,众多学者开始关注IIT对预后的影响.多项研究却发现,应用IIT显著增加低血糖几率,甚至高达6倍.本文就围手术期高血糖的机制、影响因素及研究进展做一综述。围手术期高血糖主要与患者术前状态、神经内分泌应激反应、急性胰岛素抵抗、手术及术中管理等因素相关。虽然众多研究并不支持围手术期胰岛素强化治疗控制血糖(4.4-6.1mmol/L)，但是并不意味围手术期无需控制血糖。考虑到手术患者可能从控制血糖中受益，因此应该对围手术期高血糖进行调控，将血糖控制不高于11.1mmol/L。为避免输注胰岛素导致低血糖，术中应该每30—60min监测一次血糖；若行心脏手术时，在血糖波动明显时（心脏停搏、系统降温及复温），则每15min监测一次血糖。若持续输注胰岛素，则血糖监测应该至少1h/次，至血糖稳定。同时应注意，胰岛素对钾离子的影响及影响血糖监测水平的各项因素。