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电子元器件耐电压老化与局部放电试验

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本文针对电子设备小型化对设备安全性的影响问题,试图通过电子元器件的耐电压试验来评价电子设备的安全性.

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来源
《第九届全国可靠性物理学术讨论会》|2001年|180-185|共6页
会议地点延安
作者
肖虹; 常炜;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类小型化、微型化;结构;
关键词
电子元器件; 耐电压试验; 可靠性; 安全性;

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