X射线荧光粉末压片法分析铁矿石中TFe、SiO2、P含量

摘要

现在工业上铁矿石的全分析主要以熔融片法进行荧光确定砷、磷、钙、硅的含量,管式炉法测定硫含量,以及化学滴定全铁三个操作确定一个铁矿石主要成分.其中熔融荧光法操作比较耗时,在生产量逐渐增大的同时,化验室的检验量也在逐渐增大,相对费时的熔融荧光法已经无法适应日益增长的生产需要.本文确认了X射线荧光粉末压片法分析铁矿石的工作条件,其分析主量TFe成分RSD≤0.152％,SiO2成分RSD≤0.897％,P成分RSD≤4.464％.该方法快速、简便,结果准确可靠.