随机振动分析在汽车电子产品结构失效分析中的应用

摘要

本文通过数值分析的方式对某汽车BCM支架结构的VonMises的概率分布进行了分析,并得到其所满足的双参数韦伯分布,进一步得到结构的失效概率,以此验证了其抵抗振动载荷的能力.结果表明:采用随机响应有限元分析，并应用本文方法可以很方便地由应力分量的功率谱密度求出VonMises应力的韦伯参数。结合Goodman平均应力修正可以在汽车电子产品的概念设计阶段对结构的可靠性进行评估。