AOI

摘要： 针对无线传感器网络中海量数据处理过程中信息新鲜度问题,基于无人机飞行速度、高度、避碰和可靠传输等约束,以系统信息年龄AoI为考核参数提出了一种联合采集点选择、轨迹优化及无人机工作时间权衡的AoI最小化非凸优化方案。以一个多无人机在同频段条件下为多个传感器节点传输能量并收集传感数据为场景,对多架无人机在三维空间中的信息采集过程进行模拟验证。通过SCA优化算法将建立的非凸问题转化为一个凸优化问题进行求解,最终得到无人机飞行过程中的最优采集点、最优飞行策略及能量输送时间与信息传输时间分配权衡指数,使系统性能达到最优,实验结果表明,所提方案求得的最优解可有效实现系统AoI最小化。

摘要： 基于福州市建筑物信息化建设的需求,采用基础测绘数据、二维码地址数据、地籍房产相关专题数据、倾斜摄影及激光点云数据等多源数据融合的方法制作普查数据底图,然后利用自主定制开发App工具进行建筑物外业核查及补充调查工作,最终通过数据关联整合完成建筑物普查建库的生产流程,并结合福州市建筑物普查建库试验生产实践,详细阐述了以数据融合为基础的建筑物普查建库技术实现过程。

摘要： 目前,光学检查设备AOI已经成为TFT-LCD行业主要的微观缺陷检查设备,并大量应用到各工艺检查单元。随着全球面板产业竞争的加剧,产线和产品的智能化、高效化需求日渐剧增,但各个工序的检测设备维度往往不唯一,这为设备间数据的流通和统一造成障碍,为解决此类问题,该文基于JMP的数据预测和分析功能,对设备参数进行优化和重新设计,并对新参数进行ROC验证,验证结果达到预期。同时为Cell自动化监控和反馈机制的建立提供理论和数据支持。

摘要： 几年前受邀去一友人工厂参观学习,在车间里走了一圈,DES线比较破旧,在线AOI比较新,是行业知名品牌。友人特意停顿,着重介绍AOI的先进性。我突然觉得找到了这个工厂多年以来发展停滞的原因。公司最好的设备应该是生产设备,而不是检查设备,重心在于制造,而非检查。品质是制造出来的,不是检查出来的!

摘要： 本文在现有资源基础上从AOI检测原理出发,结合量产检测的实际情况,分析在线产品的灰阶特性的影响因素发现Mask Defect检出率低的主要原因有以下三点:一是正常产品刻蚀后再做PHT图形,无衬底,开口区透光性高,很多Defect特征减弱,隐藏于信号噪声中;二是多道Mask图形叠加后,TFT图形复杂,灰阶图上信号噪音的区域会变宽,当算法进行降噪滤波处理时容易将真实缺陷过滤;三是AOI 3um检测的图形清晰度不够,导致较多缺陷未被识别出来而造成漏检.由此,针对Mask Defect检测在量产监控中存在的问题,提出了SiO衬底,单层曝光,1um AOI精度检测.该方案大大提升了Mask Defect的在线检出率,对Mask的日常监控管理具有重大意义.

摘要： 在人工智能与会计转型双重效应的驱动下,让计算机替代会计人员进行职业判断并自动编制会计凭证已成为我国会计核算智能化的研究热点之一.在总结分析智能会计核算领域研究现状的基础上,提出智能会计核算的实现路径:通过引入基于布尔映射矩阵的Apriori智能学习改进算法,对记账凭证数据库中的账户组合规律进行智能数据挖掘;借助改进后的属性归纳学习算法,挖掘并输出原始凭证属性与记账凭证之间的对应关系;借助推理机技术中的正向推理,实现计算机智能编制记账凭证功能.最后对智能会计核算系统的功能架构进行设计,为智能会计核算系统的开发与应用研究提供借鉴,为开展会计与机器学习智能算法融合性研究探索新路径.

摘要： 作为电子工业的基础,PCB板的设计以及质量直接影响到整个电子产品的成本和质量,而当前电子行业正在朝向高精密度、智能化的方向发展,电子组装元件也变得愈发微型化和密集化,因此对于PCB生产线的检测也提出了更高的要求。当前,AOI自动光学检测仪逐渐取代了误判率高、检测难度大的人工目检,已经广泛应用于工业、农业以及生物医学等精密制造和组装行业当中。AOI自动光学检测以光学部分和图形处理部分为主要技术核心,以强大的软件支持为辅助,建立在高速高精密度视觉处理技术之上,在进行PCB生产线检测时,能够尽早发现问题实现快速反馈,从而达到避免高额修复成本,确保出厂质量和出厂效率的目的。

摘要： 文中提出了一种基于深度学习与板卡控制的AOI识别算法.首先,基于卷积神经网络模型和AOI识别问题,对模型方程进行分析,选用卷积网络模型,建立识别方法.然后,结合深度神经网络模型,通过对训练样本的归一化与二分类处理,对AOI进行预训练.随后,将训练样本分组,有放回式的逐组加入模型训练,得到新的识别模型,并通过代码工程化来实现.然后,引入板卡技术,有机组合IO卡、 运动控制卡和独立图像显卡,根据每种板卡优势和特性,设计系统框架,支持系统的自动化与高速化运行.最后,整合软硬件,建立识别系统,并进行实地场景应用测试,实验结果显示:较已有的相关AOI技术相比,所提算法具有更高的识别稳定性和可重复性,为智能制造设备提供算法和系统基础.

摘要： 在当代电子产品制作过程中,印刷电路板检测是生产过程中重要的步骤.传统的人工检测由于在速度、精度等方面的缺陷,无法适应大批量的生产.在速度、精度与成本等方面较有优势的光学检测技术正逐渐替代传统的人工检测技术.本文研究的则是通过MATLAB软件把数字图像处理知识,应用于具体的印刷电路板图像的处理,建立AOI在线监测系统从而更好地实现PCB板错误检测.

摘要： 随着电子制造业的发展和生产技术的不断提高,AOI在电子产品的检测上已得到广泛使用,为满足生产需求,需在现有的单机式AOI基础上优化,通过集控式AOI实现一人多机的操作模式、大数据分析、条码追溯、防错防混来了解生产过程和状况,同时为调整生产过程和工艺提供必要的基础.

摘要： @@随着当前自动化产品的不断普及，以及用工成本不断提高，更加高效而稳定的AOI自动光学检测设备就逐渐成为广大EMS厂商生产线的必备设备。下面我们就从几个方面来简单的探讨一下AOI的全面普及及应用前景。

摘要： @@随着当前自动化产品的不断普及，以及用工成本不断提高，更加高效而稳定的AOI自动光学检测设备就逐渐成为广大EMS厂商生产线的必备设备。下面我们就从几个方面来简单的探讨一下AOI的全面普及及应用前景。

摘要： @@随着当前自动化产品的不断普及，以及用工成本不断提高，更加高效而稳定的AOI自动光学检测设备就逐渐成为广大EMS厂商生产线的必备设备。下面我们就从几个方面来简单的探讨一下AOI的全面普及及应用前景。

摘要： @@随着当前自动化产品的不断普及，以及用工成本不断提高，更加高效而稳定的AOI自动光学检测设备就逐渐成为广大EMS厂商生产线的必备设备。下面我们就从几个方面来简单的探讨一下AOI的全面普及及应用前景。

摘要： 本文主要介绍了智能同轴光源在AOI当中的应用及优势，通过对光源的智能程度、便利性、光照及结构等方面阐述，分析其在AOI中的应用效果。

摘要： 本文主要介绍了智能同轴光源在AOI当中的应用及优势，通过对光源的智能程度、便利性、光照及结构等方面阐述，分析其在AOI中的应用效果。

摘要： 本文主要介绍了智能同轴光源在AOI当中的应用及优势，通过对光源的智能程度、便利性、光照及结构等方面阐述，分析其在AOI中的应用效果。

摘要： 本文主要介绍了智能同轴光源在AOI当中的应用及优势，通过对光源的智能程度、便利性、光照及结构等方面阐述，分析其在AOI中的应用效果。

摘要： 微小元器件（Micro-chip）指的是封装尺寸小于0402的片状表面贴装器件（SMD），即0201或01005。本文介绍了成功实现微小元器件表面贴装所面临的挑战及工艺条件，供 大家参考。

摘要： 微小元器件（Micro-chip）指的是封装尺寸小于0402的片状表面贴装器件（SMD），即0201或01005。本文介绍了成功实现微小元器件表面贴装所面临的挑战及工艺条件，供 大家参考。

摘要： 本发明公开了AOI设备快速光强曲线校正方法、系统及AOI设备，涉及AOI设备光强曲线校正技术领域。方法包括以下步骤：同步建立AOI设备的全部单个光学头的光强曲线，直至全部单个光学头的全部光源的光强曲线建立完成；利用建立的光强曲线，将AOI设备的全部单个光学头设置为与目标图像灰度值相对应的电流值，以保证全部单个光学头在相同的检测样品上成像时的图像灰度保持一致。系统包括：光强曲线建立模块以及光强曲线校正模块。本发明的优点是：通过同步建立AOI设备的全部单个光学头的光强曲线，相比于传统逐一光学头逐一光源模块建立光强曲线的方式而言，极大的提升了AOI设备光强曲线的建立效率。

摘要： 本发明公开了AOI设备快速光强曲线校正方法、系统及AOI设备，涉及AOI设备光强曲线校正技术领域。方法包括以下步骤：同步建立AOI设备的全部单个光学头的光强曲线，直至全部单个光学头的全部光源的光强曲线建立完成；利用建立的光强曲线，将AOI设备的全部单个光学头设置为与目标图像灰度值相对应的电流值，以保证全部单个光学头在相同的检测样品上成像时的图像灰度保持一致。系统包括：光强曲线建立模块以及光强曲线校正模块。本发明的优点是：通过同步建立AOI设备的全部单个光学头的光强曲线，相比于传统逐一光学头逐一光源模块建立光强曲线的方式而言，极大的提升了AOI设备光强曲线的建立效率。

摘要： 本发明涉及自动光学检测技术领域，尤其为SMD封装高速AOI测试设备的AOI检测系统，所述外观扫描模块的输出端通过信号连接有外观缺陷检测程序，所述图像处理单元的输出端通过信号连接有质量勘测模块，所述图像处理单元的输出端通过信号连接有色度仪勘验模块。本发明通过图像处理单元对外观扫描模块、质量勘测模块与色度仪勘验模块所采集到的数据进行整理，数据处理单元对外观数据记录模块与质量数据记录模块整理的数据进行处理，再通过存储模块将信息发送到数据接受模块实现系统的信息流转，从而达到了灵活控制整体系统，改善了现有的AOI检测系统在使用的过程中一体式操作的缺陷，加强了工作人员对于信息的甄别率的效果。

摘要： 本发明提供了一种适用于碳化硅FAB厂的AOI的晶圆吸附装置及AOI设备，包括：吸附台面，在AOI设备的吸附台面上用于吸附晶圆的上表面开设多个PV孔，所述PV孔设置在吸附台面边缘处，在AOI设备上位于吸附台面的外边缘处设置多个用于升降晶圆的顶杆升降孔。本发明取消传统硅晶圆AOI设备上的PV凹槽，在吸附台面的上表面边缘处设置PV孔，解决了PV凹槽对碳化硅晶圆质量检测造成的干扰，且不影响对碳化硅晶圆的吸附效果。

摘要： 本申请实施例提供一种AOI调试设备及AOI组合设备。其中，AOI调试设备包括：机体；滑动轮组，滑动轮组安装在机体上，滑动轮组包括至少一个主动轮和至少一个从动轮；滑动轮组用于带动套设在滑动轮组上的极片运动；其中，极片套设在滑动轮组上，极片随着至少一个主动轮转动，同时带动至少一个从动轮转动。本申请实施例通过滑动轮组带动极片运动，模拟极片产品生产线的运动，使得AOI检测设备可以检测到极片上芯片的固晶和焊金线，实现对AOI检测设备的调试。通过更换滑动轮组和极片，可以实现对不同型号的AOI检测设备的调试，无需线上调试。

摘要： 本实用新型公开了一种异形AOI光源及AOI检测系统，包括自上而下依次设置的第一光源组件、第二光源组件和第三光源组件；所述第一光源组件的形状为环形，且具有切口部；所述第二光源组件的形状为半环形；所述第三光源组件的形状为半环形，且具有避让缺口。本实用新型通过将现有的由三层环形光源组成的AOI光源改进为由具有切口部的环形第一光源组件、半环形第二光源组件和具有避让缺口的半环形第三光源组件组成的异形AOI光源，使得当两个异形AOI光源同时使用时，互相之间会因切口部的存在而不会发生干涉，且与传送带之间会因避让缺口的存在而不会对传送带造成干涉，另外整体体积变小，从而减小了占用的空间，具有较高的市场推广潜力。

摘要： 本实用新型提供了一种AOI检测机用打点装置及AOI检测标记系统，所提供的AOI检测机用打点装置包括用于打点的打点笔和能套设于打点笔的笔头的笔帽，打点笔远离笔头的一端连接有第一气缸，控制打点笔在竖直方向上的移动，笔帽连接有第二气缸，第二气缸用于控制笔帽在竖直方向和水平方向上的移动，笔帽内设有海绵腔及油墨腔，海绵腔内设有海绵，油墨腔与海绵腔连通，海绵腔与大气相通，笔头套装在笔帽中时，能通过海绵腔处挤压海绵蘸取油墨，还包括分别与第一气缸、第二气缸电连接的控制单元。本实用新型的AOI检测机用打点装置的油墨不易干，可配合AOI检测机实现自动打点标记不良品，且标记清晰。

摘要： 本申请实施例提供一种AOI调试设备及AOI组合设备。其中，AOI调试设备包括：机体；滑动轮组，滑动轮组安装在机体上，滑动轮组包括至少一个主动轮和至少一个从动轮；滑动轮组用于带动套设在滑动轮组上的极片运动；其中，极片套设在滑动轮组上，极片随着至少一个主动轮转动，同时带动至少一个从动轮转动。本申请实施例通过滑动轮组带动极片运动，模拟极片产品生产线的运动，使得AOI检测设备可以检测到极片上芯片的固晶和焊金线，实现对AOI检测设备的调试。通过更换滑动轮组和极片，可以实现对不同型号的AOI检测设备的调试，无需线上调试。

摘要： 本实用新型提供了一种在线AO I运动装置及在线AO I检测设备，包括正面扫描装置、反面扫描装置及在线AO I运动装置。在线AO I运动装置包括正面移动机构及反面移动机构；正面移动机构包括正面吸附平台及正面驱动组件；反面移动机构包括反面吸附平台及反面驱动组件。待检测产品吸附在正面吸附平台时，其正面朝上裸露，到达正面扫描位置时，可以对待检测产品的正面扫描；当正面吸附平台位于正面交换位置、反面吸附平台位于反面交换位置时，反面吸附平台位于正面吸附平台的正上方，正面吸附平台停止吸附，反面吸附平台生成吸附力将待检测产品吸附，待检测产品的正面与反面吸附平台相吸、反面朝下裸露，可以对其反面扫描；因而利于实现双面扫描。

摘要： 本实用新型涉及一种AOI检测夹具，包括：上盖和下盖，可以进行自由的打开与盖合；所述上盖和下盖上对称设有若干检测凹槽，上盖和下盖盖合时，各检测凹槽的位置相对应；每个所述检测凹槽上的相同位置上设有通孔和定位销钉；检测凹槽，用于放置待测产品；通孔，用于观察待测产品的光学定位点；定位销钉，用于精确定位待测产品。本实用新型提供的一种AOI检测夹具及AOI检测系统，通过一个结构左右对称的夹具，把多个产品按一定规律的摆放，实现无论是正面朝上，还是反面朝上，都是同样的产品布局，这样一套程序就可以完成产品正反面的测试，效率有较大的提高。