体制缺陷

摘要： 一战期间,最不重视坦克的当属德国,一方面这可能是德国穷人战争的传统一由于总体资源与目标的不匹配,德军更强调用精神层面的手段解决问题,比如调动人的创造能力等等,另一方面也与德国科技和工业底子不足以及研发体制缺陷有很大关系。结果一战期间,德国仅生产了20辆坦克,作为对照,英国各型坦克产量高达2600辆。德国搞的唯一坦克型号是A7V,完全是为应对英国的坦克而开发,而英国搞坦克主要目的是作为突破战壕系统的新手段。

摘要： 在近代中国,烟毒问题一直影响国民身体健康,阻挠社会发展,禁烟禁毒成为近代中国的重要政治任务."两年禁毒、六年禁烟"运动是由南京国民政府于1935年至1940年发起的,该运动在中国乃至世界禁毒史上都有着非同寻常的意义.禁毒禁烟运动的目标就是截止1936年底,为期两年彻底禁绝毒品;自1935年起至1940年底,以六年为期,彻底禁绝鸦片.学者们对该段历史的研究和探索对于现如今的中国有着重要的历史意义.虽然国民政府结合现实情况在禁种、禁运和禁售方面配合展开实施,但由于受各方势力等各种不利因素的影响,政策无法顺利进行甚至一度止步不前,这严重影响了政策的实施和最终成果的体现.

摘要： 众所周知,对于我国农村的发展,土地一直以来都是农村最为重要的生产资料,也正因为农村具有非常大的种植使用土地,我国的农业发展才能到如今的这种程度,而且,其中农村土地承包经营权是十分重要的,国内农民的这一权利的确定,对于我国农业的发展是具有非常显著的积极意义的。故此,在本文中,将对我国当前的农村土地承包经营权流转制度进行一定的介绍,并且对其存在的缺陷还会进行一定的分析,以此来得出确切的完善对策。

摘要： 发电厂的电气设备检修管理科学化是现代企业组织生产和管理的重要手段，搞好发电厂电气设备的检修管理工作是保证发电设备安全、经济运行的一项重要措施，也是设备全过程管理中的重要环节。如何更科学地管理好设备，提高设备利用率和安全可靠性，降低检修费用，已成为摆在电力企业面前不容回避的问题。

摘要： 跨越"中等收入陷阱",已经成为近期国内的大热门话题。因为从历史经验看,一些国家在人均GDP达到8000美元之后,经济便陷入徘徊、停滞,难以登上高收入国家的台阶。经济学家将这种现象称为"中等收入陷阱"。中国能否跨越"中等收入陷阱"?跨越"陷阱"的关键又何在?我对经济学一窍不通。但作为盼望中国尽快跨入发达国家行列的老百姓,不怕隔行如隔山,也想班门弄斧,说说自己的看法。

摘要： 国足又惨败了，才知道我们的足球体制缺陷严重；电信诈骗骗人致死，才知道我们的信息管理漏洞百出；

摘要： 企业投资过度是导致产能过剩现象的重要原因。在政府失灵或体制缺陷视角解释产能过剩的研究中,地方政府被视为引致企业盲目投资的推手,无论是政府干预还是投资性的补贴竞争,都反映了地方政府在推动企业投资扩张方面的重要影响。中国式分权充分激活了地方政府的经济决策权,为其发展地方经济提供经济和政治方面强大激励的同时,也给地方政府及官员造成了巨大的政绩压力,导致相互之间竞争的加剧。为了缓解政绩压力,地方政府

摘要： 《京都议定书》中规定的灵活履约方式之一的清洁发展机制是一个以市场为导向的灵活机制，在国际环境法中也是一个创新的尝试。该机制订立了帮助有义务减排的发达国家进行以国际合作为基础的低成本减排、同时为发展中国家的可持续发展做出贡献的目标。自该机制实施以来，国际社会给予了它很多好评。然而，清洁发展机制是否足以成功到有效地长期规范国际碳市场的质疑声在随着议定书第一承诺期的即将结束而越来越多。从项目设计到实施中的问题，更多的项目基金没能被有效地利用，清洁发展机制地体制缺陷也愈发地彰显出来。本文旨在找出清洁发展机制在目标清晰度和项目发展平衡度等方面逐渐严重的问题，并尝试提出应对措施和解决方案，力图从不同角度提出如何使清洁发展机制更有效地预防全球变暖的相关完善和改革建议。

摘要： 中国农村金融体系在结构和功能上存在二重缺陷,导致农村金融市场缺乏竞争主体和竞争机制,正规金融不能满足农村发展的资金需求,因此,应从有利于增强农村金融市场稳定性和克服农村金融体系的脆弱性、实现低成本基础上的有效监管、强化"三农"金融服务、实现金融机构本身的可持续发展等目的出发,放松农村金融市场准入,实行金融机构多样化,培育农村信贷市场竞争机制,建立农村资金回流机制和健全农户和农村企业的贷款抵押担保机制.

摘要： 目前,我国商业银行还是传统意义上的商业银行,吸收存款发放贷款是其主要业务,也是其利润的主要来源.因此,其面临的主要风险是信贷风险.我国商业银行的信贷风险现状是不良资产过多,并且造成不良资产过多的根源--国有或国家控股的商业银行的所有者缺位和激励机制不足问题未得到根本解决,在体制问题未得到有效解决的条件下,控制授信风险,只好采取退而求其次的办法-采用较为刚性的流程和授信风险控制模型.本文内容包括： 一、国有或国家控股的商业银行的所有者缺位和激励机制不足是不良资产过多的根源. 二、在体制缺陷问题暂时得不到根本解决的现状下,可以采取一些刚性的措施来控制信贷风险

摘要： 文章分析了目前我国鸭产品加工业的有利因素以及制约鸭产品深加工的主要问题。指出目前广大消费者的消费需求。提出搞好鸭产品深加工的认识和体会。阐述了鸭产品加工未来发展趋势。

摘要： 文章分析了目前我国鸭产品加工业的有利因素以及制约鸭产品深加工的主要问题。指出目前广大消费者的消费需求。提出搞好鸭产品深加工的认识和体会。阐述了鸭产品加工未来发展趋势。

摘要： 文章分析了目前我国鸭产品加工业的有利因素以及制约鸭产品深加工的主要问题。指出目前广大消费者的消费需求。提出搞好鸭产品深加工的认识和体会。阐述了鸭产品加工未来发展趋势。

摘要： 文章分析了目前我国鸭产品加工业的有利因素以及制约鸭产品深加工的主要问题。指出目前广大消费者的消费需求。提出搞好鸭产品深加工的认识和体会。阐述了鸭产品加工未来发展趋势。

摘要： 文章分析了目前我国鸭产品加工业的有利因素以及制约鸭产品深加工的主要问题。指出目前广大消费者的消费需求。提出搞好鸭产品深加工的认识和体会。阐述了鸭产品加工未来发展趋势。

摘要： 欧洲债务危机发端于希腊债务危机,但根源是美国次贷危机引发的全球金融危机,是私人债务向主权债务蔓延的次生危机,昭示后危机时代西方债务危机不可避免,威胁全球经济复苏与稳定发展。此次危机冲击力大但影响可控，经济“二次探底”可能性小，同时出台了危机治理措施，债务危机最困难时期已经过去。

摘要： 欧洲债务危机发端于希腊债务危机,但根源是美国次贷危机引发的全球金融危机,是私人债务向主权债务蔓延的次生危机,昭示后危机时代西方债务危机不可避免,威胁全球经济复苏与稳定发展。此次危机冲击力大但影响可控，经济“二次探底”可能性小，同时出台了危机治理措施，债务危机最困难时期已经过去。

摘要： 本发明提供一种缺陷检测装置，在作为半导体产品或半导体产品的一部分的工件中至少检测具有倾斜面部的缺陷。具备一种检查机构，其具有对工件照射明视野照明光的照明单元、和构成观察光学系统并对由照明单元照射的所述工件的观察部位进行观察的摄像装置。检查机构观察从光轴方向上自合焦位置散焦的非合焦位置射出的来自工件的反射光，与由来自合焦位置的反射光形成的观察图像上的缺陷相比，更强调由来自非合焦位置的反射光形成的观察图像上的缺陷。

摘要： 检测在具备有浓淡图案的浓淡层和覆盖该浓淡层的浓淡图案的被覆层的工件中的被覆层形成的缺陷。从照明器照射的照明光是至少与从浓淡层反射而入射到摄像装置的光相比从所述被覆层反射或者散射而入射到摄像装置的光的强度大的波长。因此，是降低了浓淡层的浓淡图案的影响的光。

摘要： 本发明提供一种缺陷检测装置，在作为半导体产品或半导体产品的一部分的工件中至少检测具有倾斜面部的缺陷。具备一种检查机构，其具有对工件照射明视野照明光的照明单元、和构成观察光学系统并对由照明单元照射的所述工件的观察部位进行观察的摄像装置。检查机构观察从光轴方向上自合焦位置散焦的非合焦位置射出的来自工件的反射光，与由来自合焦位置的反射光形成的观察图像上的缺陷相比，更强调由来自非合焦位置的反射光形成的观察图像上的缺陷。

摘要： 检测在具备有浓淡图案的浓淡层和覆盖该浓淡层的浓淡图案的被覆层的工件中的被覆层形成的缺陷。从照明器照射的照明光是至少与从浓淡层反射而入射到摄像装置的光相比从所述被覆层反射或者散射而入射到摄像装置的光的强度大的波长。因此，是降低了浓淡层的浓淡图案的影响的光。

摘要： 本发明提供一种半导体制程工艺中颗粒缺陷来源的判断方法及装置，该方法包括：在晶圆光刻工艺中，提取离子注入区光刻层的NMOS区的JDV图形和PMOS区的JDV图形，分别以显影相反的多层JDV图形进行对比，通过同一参数生成具有各自特定位置的两组JDV图形拟合在一起形成JDV拟合图；提取离子注入层的JDV图形；将JDV拟合图与离子注入层的JDV图形拟合在一起形成JDV合成图并标记各层JDV图形的特定位置；通过缺陷检测机台扫描晶圆获取颗粒缺陷信息后，将获取颗粒缺陷的叠图与JDV合成图进行比对，根据叠图中的颗粒缺陷落入JDV合成图的特定位置的标记确定颗粒缺陷的来源。本发明具有快速、高效、准确的优点。

摘要： 本发明提供一种半导体制造工艺中的自动缺陷去除方法，包括：步骤一、代操服务器通过KVM获得制造机台拍摄到的产品缺陷照片信息；步骤二、代操服务器向NGINX代理发送图像识别请求，NGINX通过负载均衡的方式向图像识别引擎发送识别任务；步骤三、图像识别引擎根据代操服务器获得的缺陷图片通过人工智能算法对缺陷进行定位和类别识别；步骤四、将识别结果信息通过NGINX发送给代操服务器，代操服务器根据提前设置的缺陷消除类别规则，通过KVM控制制造机台将特定的缺陷类别进行激光消除。本发明的半导体制造工艺中的自动缺陷去除方法，能够有效提高产品生产和操作的效率，进一步提高生产流程的自动化水平。

摘要： 本发明公开了一种半导体制程缺陷的检测方法，所述半导体制程缺陷的检测方法包括：建立数据库，所述数据库中包括多种半导体制程缺陷的图片，并按照半导体制程缺陷的形貌特征，将所述半导体制程缺陷进行分类；扫描晶片，并通过识别所述半导体制程缺陷的形貌特征，在晶片上获得多个预选区域，通过半导体制程缺陷识别系统，提取所述预选区域中所述半导体制程缺陷的图片特征，并识别所述半导体制程缺陷的类型；根据所述半导体制程缺陷的类型，确定扫描机器的最佳扫描参数；根据最佳扫描参数，再次扫描晶片，并识别晶片上所述半导体制程缺陷的类型及位置。通过本发明提供的一种半导体制程缺陷的检测方法，可快速识别所述半导体制程缺陷的类型和位置。

摘要： 本发明实施例公开了一种检测半导体制作工艺缺陷的方法。该方法包括在在基板上形成光刻胶；在光刻胶中形成荧光剂；利用荧光剂检测显影后的光刻胶的缺陷。本发明实施例提供的技术方案可以降低对显影后的光刻胶进行缺陷检测的难度，提高缺陷检测准确度。

摘要： 可在晶片上的各种位点处进行初始检验或临界尺寸测量。位置、设计片段、工艺工具参数或其它参数可用于训练深度学习模型。可验证所述深度学习模型且这些结果可用于重新训练所述深度学习模型。可重复此工艺直到预测达到检测准确度阈值。所述深度学习模型可用于预测新可能缺陷位置或临界尺寸故障位点。

摘要： 本发明公开了一种运用AI模型的半导体制造缺陷动态随机取样方法，涉及半导体缺陷随机取样技术领域，该方法包括以下步骤：收集目标产品的信息；对目标产品的信息进行AI建模，生成仿真AI模型训练‑1；对目标产品的主要缺陷问题及相关联数据收集；根据收集的数据，进行缺陷根因的AI模型训练建立，生成AI模型训练‑2；将AI模型训练‑1与AI模型训练‑2部署于AI模型运行平台进行运行；将步AI模型运行平台与现有的取样系统建立对接；对取样系统中的取样结果进行执行。本发明具有的效果。