长期贮存
长期贮存的相关文献在1983年到2023年内共计284篇,主要集中在轻工业、手工业、园艺、畜牧、动物医学、狩猎、蚕、蜂
等领域,其中期刊论文238篇、会议论文9篇、专利文献10849篇;相关期刊173种,包括生物技术通报、科技致富向导、中国果菜等;
相关会议6种,包括第二届全国危险物质与安全应急技术研讨会、2013年航天可靠性学术交流会、第十三届全国可靠性物理学术讨论会等;长期贮存的相关文献由508位作者贡献,包括吕长志、安鸿翔、张小玲等。
长期贮存—发文量
专利文献>
论文:10849篇
占比:97.77%
总计:11096篇
长期贮存
-研究学者
- 吕长志
- 安鸿翔
- 张小玲
- 徐超
- 李志国
- 谢雪松
- 于宪峰
- 孙继和
- 沈晓军
- 王军波
- 袁亦方
- 谷存礼
- 丛森
- 乐晨
- 伯纳德·波玛尔特
- 佟文敏
- 冯佳运
- 冯春兰
- 刘士全
- 刘文宝
- 刘爱萍
- 刘玉德
- 刘锦涛
- 单珊
- 吴朗
- 吴浩
- 吴跃飞
- 周成
- 周穗华
- 和广庆
- 夏道伦
- 姚灿
- 孟德浩
- 安德烈·卡里
- 安荣
- 尼考尔·D·拉波特
- 布鲁诺·C·德斯维甘讷
- 庄保堂
- 张大文
- 张希
- 张晓兵
- 张礼生
- 张贺
- 徐卫秀
- 徐林波
- 徐立生
- 曹昱
- 朱振涛
- 李再新
- 李庆鹏
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张贺;
冯佳运;
丛森;
王尚;
安荣;
吴朗;
田艳红
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摘要:
Sn基合金焊接接头是电子产品不可或缺的关键部位,是实现电子元器件功能化的基础,电子整机失效往往由于焊点的损伤所导致,焊点的寿命预测对电子产品的可靠性研究具有重要意义.金属间化合物(IMC)厚度是衡量焊点质量的重要参数,以IMC层厚度为关键性能退化参数,以62Sn36Pb2Ag组装的小型方块平面封装(QFP)器件焊点为研究对象,采用扫描电子显微镜对在94、120和150°C三种温度贮存不同时间后的焊点微观形貌进行表征,测量了IMC层的厚度,基于阿伦尼乌斯方程建立了双侧界面金属间化合物生长动力学模型.并以其作为关键性能退化函数,通过对初始IMC厚度进行正态分布拟合获得失效密度函数,进而获得可靠度函数对焊点的长期贮存失效寿命进行了预测.研究结果有望对长期贮存焊点的寿命预测方式提供新的思路,为62Sn36Pb2Ag钎料的可靠应用提供试验和数据支撑.
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摘要:
加拿大核实验室(CNL)宣布,加拿大已经完成一项将历史上重要的镭、铀提炼工厂的低放废物转移到新的地面长期贮存设施的项目,最后一层表土和草地已经铺设在工程堆上。这个位于Port Granby项目长期废物管理设施的封顶和关闭工程于2016年开始。该项目涉及将约130万吨污染土壤和工业废物从位于克拉灵顿东南部的安大略湖海岸线的一个历史遗留废物贮存场转移到新设施,在那里维护和监测活动将继续到遥远的未来。
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邓家权;
张芮;
陈博;
张晓杰;
边小龙;
赵征
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摘要:
为适应快速应急发射的需求,首先对卫星电子元器件、卫星结构、展开装置、蓄电池组和推进系统等关键部件的贮存要求及性能进行分析。然后考虑卫星在发射场贮存时间,以6个月为分界线,分别对卫星在发射场的长期和短期贮存方法进行了研究。短期贮存方案卫星以整星状态贮存,所有部件安装到位;贮存期间,每3个月进行一次整星全面加电状态检查。同时为了保证测试和产品安全性,地面测试系统屏蔽所有火工品起爆指令、推进阀门开指令,星表插头连接保护插头。长期贮存方案以平台加部件状态贮存,对各个部件贮存条件和检查条件均有单独的要求。最后对贮存卫星的快速响应性进行了分析。目前,卫星在发射场已有近10次短期贮存的成功案例,在地面有长达7 a的长期贮存案例。
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吴昊;
王金童
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摘要:
采用试验的方法,研究弹簧分离装置输出性能随温度的变化规律及高低温长期贮存对弹簧分离装置输出性能的影响。最终得出弹簧刚度随温度的变化关系,不锈钢丝剪切模量的温变系数及特定温度下剪切模量的计算公式,具有工程实用价值;证明了高低温长期贮存不会影响弹簧分离装置输出性能。
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摘要:
2021年6月21日《世界和新闻》报道,中国原子能机构(CAEA)宣布,位于中国甘肃省酒泉市附近的北山地下研究实验室的建设已经启动。该实验室将设在戈壁沙漠地下560 m以下的花岗岩中,用来测试该地区是否适合长期贮存高放废物。6月17日,北山场址举行了奠基仪式。出席活动的有来自中国原子能机构、生态环境部、酒泉市、肃北县、中国核工业集团有限公司、中国铀集团有限公司和北京核工业地质研究院的代表。
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韩建立
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摘要:
导弹作为“长期贮存、一次使用”的装备,在规定的贮存期内,要反复历经库房贮存、技术准备和测试、转载和运输、战斗值班等属于“贮存”范畴的任务剖面,以及属于“使用”范畴的“发射”任务剖面。在各个任务剖面中,导弹经历的自然环境和诱导环境对其贮存寿命的影响程度各不相同。导弹延寿是在规定的保障条件下,以可靠性、维修性理论作指导。
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张贺;
冯佳运;
丛森;
王尚;
安荣;
吴朗;
田艳红
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摘要:
互连焊点的室温贮存寿命预测对于电子产品的可靠应用具有重要的工程意义。采用高温加速贮存试验,对有铅钎料(62Sn36Pb2Ag)表面贴装的电容焊点以及有铅钎料(63Sn37Pb)和无铅钎料(SAC305)混合组装的BGA焊点进行了长期贮存寿命预测。利用扫描电子显微镜对在3种温度(367.15 K、393.15 K和423.15 K)下贮存不同时间(1天、4天、9天、16天、25天、36天、49天)的界面金属间化合物(IMC)微观形貌进行了表征,对其生长动力学进行研究并建立了生长模型。选取IMC的厚度作为关键性能退化参数,依据初始IMC厚度分布为失效密度函数,获得了两种类型焊点的可靠度函数,进而确定两种焊点的特征寿命及中位寿命。
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孟婧;
何刘宇;
孟博;
刘健;
王建秋
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摘要:
为了确保加注后的产品长期贮存期间其内部气动密封设备的安全性和可靠性,对气动设备中主要元器件在长期贮存时的使用要求进行了分析,开展了相应的长贮性能试验及气氛试验。试验结果表明,在长贮环境特性下对气动设备及其密封材料所采取的适应性改进措施有效,产品及其密封件满足长期贮存工况下对酸性气体的抗腐蚀能力。
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王允镔;
刘高平;
叶海萍;
赵凯;
尤民其
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摘要:
杨梅果实色泽鲜艳,果肉甜酸适口,风味独特,营养保健功能突出,深受消费者喜爱,然而,杨梅鲜果贮运难度极高,有“一日色变、二日味变、三日色味俱变”之说,为了探索一种既能保持杨梅原有风味又能适合长期贮存的加工方法,在黄岩区科技项目资金的支持下,历时3年研究杨梅真空微波干燥脱水的工艺及相关技术,利用真空干燥的低沸点、无氧化及微波高效热传导等优势,最大限度地保存杨梅固有的色泽、营养和风味,干燥至适宜的含水量实现产品长期保存和周年供应的目标。
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王亚男;
汪聪慧;
李卫建
- 《第十三届全国可靠性物理学术讨论会》
| 2009年
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摘要:
测试了存贮24-37年的国产14种型号晶体管的输出特性.贮存37年的3DK7F 100只中,1只发生致命性失效;4只晶体管的共射极直流电流放大倍数hFE减小超规范失效,其最大退化率为-50%,年均退化率-1.35%.存贮29年的3DG101F,7只中有3只hFE的减小超过-30%,占该批晶体管43%,hFE最大退化从110减小到73,退化率为-34%.年均退化率-1.2%.存贮30年的J3AX54B hFE增加幅度最大,从120增加到134,增加了12%.年均增加0.4%.测试结果表明:在长期贮存中,晶体管的输出特性会发生退化;hFE值即有增加,也有减小.
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杨家铿
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》
| 2001年
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摘要:
本文着重对8528只电子元器件在北京室内贮存十余年后的可靠性进行分析,分析了国产元器件的贮存失效率随时间的变化规律、失效模式和影响贮存可靠性的主要因素.进而结合广州、广元和桂林等地的长期贮存试验结果,估算了国产半导体器件的贮存寿命.此外,本文还根据我所及作者的实践经验,提供了长期贮存元器件的选用方法等.
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李坤兰
- 《第四届电子产品可靠性与环境试验技术经验交流会》
| 2003年
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摘要:
本文对某型号元器件贮存7年的性能参数Y的测试数据用方差分析法进行了统计分析,发现四个贮存点(A1、A2、A3、A4)样品的性能参数Y随时间发生了显著的变化;该元器件不同贮存点的性能参数Y之间有显著的差异.因而,性能参数Y可作为该元器件的敏感参数,进行长期贮存试验具有重要意义.
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郑郑;
韦远健;
何流军
- 《2013年航天可靠性学术交流会》
| 2013年
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摘要:
行程开关广泛应用于航空、航天、兵器、船舶等军用系统、设备,承担电路、信号转换作用,是系统/设备的核心组件.一般而言,行程开关在压紧状态下安装于系统/设备中,当系统给与开关释放信号时,行程开关在内部压簧的反作用力下释放,产生电路转换.系统/设备在非战备条件下,行程开关均处于长期压缩贮存状态,按照GJB6186-2008《宇航用行程开关总规范》的要求,长期压缩的行程开关贮存期至少达到14年.因此,行程开关的质量及可靠性直接与行程开关长期压缩贮存释放可靠性有关.由于长期压缩的时间长,难以按照寿命期进行试验验证,需要在对行程开关材料、结构、弹性材料的应力松弛等进行综合分析评估,找出对开关性能影响最大的因素,采取加速老化试验方法和数据采集进行统计的方式进行分析、考核。
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郑郑;
韦远健;
何流军
- 《2013年航天可靠性学术交流会》
| 2013年
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摘要:
行程开关广泛应用于航空、航天、兵器、船舶等军用系统、设备,承担电路、信号转换作用,是系统/设备的核心组件.一般而言,行程开关在压紧状态下安装于系统/设备中,当系统给与开关释放信号时,行程开关在内部压簧的反作用力下释放,产生电路转换.系统/设备在非战备条件下,行程开关均处于长期压缩贮存状态,按照GJB6186-2008《宇航用行程开关总规范》的要求,长期压缩的行程开关贮存期至少达到14年.因此,行程开关的质量及可靠性直接与行程开关长期压缩贮存释放可靠性有关.由于长期压缩的时间长,难以按照寿命期进行试验验证,需要在对行程开关材料、结构、弹性材料的应力松弛等进行综合分析评估,找出对开关性能影响最大的因素,采取加速老化试验方法和数据采集进行统计的方式进行分析、考核。