锁存器
锁存器的相关文献在1985年到2022年内共计771篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、自动化技术、计算机技术、电工技术
等领域,其中期刊论文200篇、会议论文15篇、专利文献3030061篇;相关期刊125种,包括煤炭工程、电子与封装、电子制作等;
相关会议15种,包括第三届国际信息技术与管理科学学术研讨会、2011年振动与噪声测试峰会、2010中国西部地区声学学术交流会等;锁存器的相关文献由1163位作者贡献,包括黄正峰、郭靖、梁华国等。
锁存器—发文量
专利文献>
论文:3030061篇
占比:99.99%
总计:3030276篇
锁存器
-研究学者
- 黄正峰
- 郭靖
- 梁华国
- 闫爱斌
- 鲁迎春
- 徐江涛
- 欧阳一鸣
- 史再峰
- 倪天明
- 易茂祥
- 吴毅强
- 姚素英
- 宋钛
- 聂凯明
- 高志远
- 张楠赓
- 王海滨
- 王志功
- 赖玠玮
- 闫茜
- 吴训威
- 杨作兴
- 田文博
- 范志军
- 蒋建伟
- 高静
- 不公告发明人
- 李斌
- 杜芳芳
- 蔡宣明
- 韩郑生
- 刘海南
- 卜建辉
- 崔杰
- 朱恩
- 熊明珍
- 赵发展
- 郭海丰
- 刘杰尧
- 吴敬杰
- 张昆
- 徐奇
- 朱磊
- 李彦
- 李智
- 杨华中
- 武国胜
- 汪蕙
- 王世武
- 王贵
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宁亚飞
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摘要:
本研究提出一种基于三模冗余和三级错误拦截的四节点翻转容忍锁存器设计(TTEQNUTL)。该锁存器由3个单节点翻转的自恢复模块(SNUSR1、SNUSR2和SNUSR3)、1个三级错误拦截模块和7个传输门组成。每个SNUSR模块均包含2个普通的C单元和2个钟控C单元,4个C单元形成一个环形结构。HSPICE试验结果表明,与2个锁存器(LCTNURL、IHTRL)的平均值相比,本研究提出的锁存器以牺牲21.95%的面积开销为代价,使功耗降低30.77%、延迟降低48.56%、功耗延迟积(Power Delay Product,PDP)降低66.92%。
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刘居敬;
王海时;
胡诗朋
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摘要:
模数转换电路的性能优化不断推进比较器电路的发展,适用于高速低功耗的比较器是集成电路设计的主要发展方向。给出一种动态比较器,使用动态预放大电路结构实现低功耗高速度比较器特性,前置放大器能够增强响应速度,同时还可以有效减小失调电压对性能造成的影响。仿真结果显示当时钟频率35M,1.5V电源电压仿真环境下比较器平均功耗82μm,精度小于1mV,失调电压小于0.5mV。
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黄正峰;
潘尚杰;
曹剑飞;
宋钛;
欧阳一鸣;
梁华国;
倪天明;
鲁迎春
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摘要:
CMOS工艺的特征尺寸不断缩减,电荷共享效应诱发的单粒子三点翻转成为研究热点.本文提出了一种单粒子三点翻转自恢复的抗辐射加固锁存器:Hydra-DICE(Dual Interlocked Storage Cell).该锁存器基于24个同构的交叉耦合单元(Cross-Coupled Elements,CCE)排列成阵列结构.当内部任意三个节点同时发生单粒子翻转时,该锁存器都可以自行恢复到正确的逻辑值.与具有等效三点自恢复能力的TNURL(Triple Node Upset Self-Recoverable Latch)锁存器相比,该Hydra-DICE锁存器面积开销降低50%,延迟降低48.28%,功耗降低25%,功耗延迟积降低61.21%.仿真结果表明,该加固锁存器在容错性能、面积开销、延迟和功耗方面取得了很好的折中.
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刘居敬;
王海时;
胡诗朋
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摘要:
模数转换电路的性能优化不断推进比较器电路的发展,适用于高速低功耗的比较器是集成电路设计的主要发展方向.给出一种动态比较器,使用动态预放大电路结构实现低功耗高速度比较器特性,前置放大器能够增强响应速度,同时还可以有效减小失调电压对性能造成的影响.仿真结果显示当时钟频率35 M,1.5 V电源电压仿真环境下比较器平均功耗82 μW,精度小于1 mV,失调电压小于0.5 mV.
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黄正峰;
李先东;
陈鹏;
徐奇;
宋钛;
戚昊琛;
欧阳一鸣;
倪天明
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摘要:
随着集成电路特征尺寸的不断缩减,在恶劣辐射环境下,纳米级CMOS集成电路中单粒子三点翻转的几率日益增高,严重影响可靠性.为了实现单粒子三点翻转自恢复,该文提出一种低开销的三点翻转自恢复锁存器(LC-TNURL).该锁存器由7个C单元和7个钟控C单元组成,具有对称的环状交叉互锁结构.利用C单元的阻塞特性和交叉互锁连接方式,任意3个内部节点发生翻转后,瞬态脉冲在锁存器内部传播,经过C单元多级阻塞后会逐级消失,确保LC-TNURL锁存器能够自行恢复到正确逻辑状态.详细的HSPICE仿真表明,与其他三点翻转加固锁存器(TNU-Latch,LCTNUT,TNUTL,TNURL)相比,LC-TNURL锁存器的功耗平均降低了31.9%,延迟平均降低了87.8%,功耗延迟积平均降低了92.3%,面积开销平均增加了15.4%.相对于参考文献中提出的锁存器,LC-TNURL锁存器的PVT波动敏感性最低,具有较高的可靠性.
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徐锦钢;
鄢妍
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摘要:
本文围绕 8×8 点阵屏驱动系统的设计展开论述,利用 proteus 电路仿真软件设计了 8×8 点阵屏驱动系统的电路原理图,并通过 8×8 点阵屏正确显示出了心形图案,验证了 8×8 点阵屏驱动电路及其程序设计的正确性,并给出了部分 C 程序代码。
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刘晓峰
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摘要:
在液晶显示驱动领域,无论是高速还是低速接口电路系统中,都会用到串行数据转并行数据的转换电路。由于具有高速率传输性能以及简单结构设计,串行接口已经成为当前传输接口的发展趋势。本文所述的采用锁存结构的串并转换器采用了异步电路的设计,拥有更高的时序冗余度,对延迟不敏感,且具有更好的高频工作特性,适合屏幕驱动电路的设计需求。
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郭靖;
李强;
宿晓慧;
孙宇
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摘要:
在纳米数字锁存器中,多节点翻转(multiple-node upset,MNU)正持续增加.虽然现有基于互连单元的抗辐射加固设计(radiation hardening by design,RHBD)的锁存器可以恢复所有MNU,但是需要更多的敏感节点和晶体管.为了在获得高可靠性的同时降低硬件开销,提出利用辐射翻转机制进行加固的方法.首先,通过使用屏蔽晶体管减少敏感节点,进而降低使用的晶体管数;然后,将2个单元内的上拉晶体管进行交叉互连,从而构造出一个可抗MNU翻转的RHBD锁存器.在65 nm工艺下,与现有基于互连技术的RHBD锁存器相比,提出的RHBD锁存器可平均减少12.82%的面积,319.22%的延迟和10.66%的功耗.
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项欣;
彭析竹
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摘要:
介绍了一种基于锁存器的串行数据转并行数据的接口转换电路的设计方法.串并转换电路由采样信号发生器和并行锁存器两部分组成.采样信号发生器用于将时钟转换为一个个和时钟信号边沿对齐的小脉冲,脉冲宽度为时钟周期的一半;并行锁存器是由若干个锁存器并行而成,锁存器数据输入端连接在一起,由采样脉冲控制锁存器对串行输入数据依次进行采样.数据存储在锁存器中不会丢失,直到下一次采样新的数据写入,因此有足够的时序冗余来保证数据的正确输出.最后对电路的功能进行了仿真验真.
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梁丽波;
梁华国;
黄正峰
- 《2011年振动与噪声测试峰会》
| 2011年
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摘要:
本文以检测老化和软错误为切入点,提出了一种既能在线检测老化又能在线检测软错误的电路结构,硬件开销增加不足10%,却很好地整合了两种功能。通过对增强型扫描结构的保持锁存器进行改进,使得其在不同的应用环境下可以进行模式间的切换,继而实现了针对老化和软错误的双重检测。Hspice模拟器的仿真结果很好地说明了方案的可行性。
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吴珍妮;
梁华国;
黄正峰;
陈秀美;
曹源
- 《2010年第四届中国可信计算与信息安全学术会议》
| 2010年
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摘要:
针对纳米级工艺下瞬态故障引发的软错误可能造成电路失效这一问题,提出一种容软错误的流水线电路加固方案.该方案面向软错误的主要诱因--单事件翻转(single event upset,SEU),利用新型的容错结构锁存器(radiation hardened by design Iatch,RHBDL),构造高可靠性的触发器RHBD-DFF,对电路中原始时序单元进行加固,同时对流水线电路进行了软错率理论分析.考虑到加固所带来的附加开销,采取选择性加固的策略,对电路中的关键时序单元进行加固.实验结果表明,基于开销限制前提的选择性加固,能够达到以低开销代价换取高容错性能的目的.
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卫秦啸;
余宁梅;
曹新亮
- 《第十六届全国半导体集成电路硅材料学术会议》
| 2009年
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摘要:
提出了一种全差分型的CMOS动态比较器,该动态比较器是由采样电路、预防大器和动态锁存器构成。采样电路和预放大器首先完成对输入信号的采样、放大, 再由动态锁存器完成对信号的动态输出。文中分析了引起失调的原因,在SMIC 0.18 μm 1P6M CMOS工艺下对电路进行了全定制版图的设计并进行了后仿真验证,分析模拟结果表明:比较器差分对管栅宽失配在0%~10%时,其失调电压在0.1μV~2.5mV内变化;其输入动态电压范围为-1V~2.3V;当温度由-50°C~150°C时,其平均工作电流小于300nA,该动态电路的静态功耗几乎为零,电路的最大功耗为0.6μW;比较器最终版图面积约为0.0015mm2。
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李君阳
- 《四川省电子学会半导体与集成技术专委会第二届学术年会》
| 2007年
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摘要:
本文设计了一种用于快速充电器中的振荡电路。该电路采用数字控制的思想,通过设计两个环路来控制RS锁存器的工作状态产生振荡.环路一由RS锁存器的输出经反相和延时后控制S端,环路二通过为电容充放电来控制R端.为了得到实际需要的频率,采用后接两级T触发器分频的结构,可以减小电路中电容的大小,节省了版图的面积.最后用HSPICE软件对电路进行了仿真和验证。
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