铁电存储器
铁电存储器的相关文献在1991年到2022年内共计579篇,主要集中在自动化技术、计算机技术、无线电电子学、电信技术、电工技术
等领域,其中期刊论文241篇、会议论文21篇、专利文献3706829篇;相关期刊130种,包括电子元器件应用、电子与电脑、国外电子元器件等;
相关会议20种,包括第十五届海峡两岸智能运输系统学术研讨会、中国核学会2015年学术年会、2014第二十八届中国电工仪器仪表产业发展技术研讨会暨展会、中国仪器仪表行业协会电工仪器仪表分会第五届第四次理事扩大会议等;铁电存储器的相关文献由888位作者贡献,包括任天令、江安全、贾泽等。
铁电存储器—发文量
专利文献>
论文:3706829篇
占比:99.99%
总计:3707091篇
铁电存储器
-研究学者
- 任天令
- 江安全
- 贾泽
- 周益春
- 郭红霞
- 钟向丽
- 廖敏
- 张岩
- 汤庭鳌
- D·维梅尔卡蒂
- 张瑜
- 李春龙
- 霍宗亮
- 刘理天
- 唐原
- 常琦
- 徐勤媛
- 曾斌建
- 洪培真
- 邹兴奇
- 陈弘毅
- 陶谦
- 靳磊
- S·J·德尔纳
- 吕震宇
- 张弓
- 戴晓望
- 李平
- 李波
- 柴晓杰
- 罗庆
- 马科
- H·赫尼格施米德
- 丁李利
- 张凤祁
- 张阳
- 木岛健
- 林佑明
- 林殷茵
- 江钧
- 潘霄宇
- 王金斌
- 罗尹虹
- 翟亚红
- 陈志辉
- 魏佳男
- C·J·卡瓦姆拉
- 刘明
- 张坤
- 方原
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刘凯;
管小鹏;
罗焱航;
宋宏甲;
钟向丽;
王金斌;
成娟娟;
邹代峰
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摘要:
从辐照诱导的晶格缺陷对铁电畴壁作用的角度,开展了辐照对PbTiO_(3)铁电畴壁的原子和电子结构及其动力学演化作用机理的研究。首先,利用基于蒙特卡罗方法的SRIM软件包研究了辐照条件对铁电薄膜内辐照诱导的晶格缺陷的影响,结果表明,质子、氪离子入射造成PbTiO_(3)铁电薄膜晶格的缺陷主要是氧缺陷,且离子能量越高和入射角越小,产生氧缺陷的浓度越高、位置越深入及分布越分散。其次,基于第一性原理研究了氧缺陷分布及浓度对PbTiO_(3)材料180°和90°畴壁原子结构、电子结构及迁移的影响,结果表明:氧缺陷离畴壁越远,含氧缺陷畴壁系统的稳定性越低;随着氧缺陷数目增加,畴壁附近极化减小、畴壁宽度增大;氧缺陷使畴壁的金属性增强;氧缺陷会钉扎畴壁,阻碍畴壁移动。
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邢小华;
赵彦凯;
裴东兴;
张瑜
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摘要:
针对火炮膛内火药燃气温度测试的特殊环境,设计一种适用于膛内高温、高压、高冲击环境的放入式膛内瞬态温度测试系统。考虑到恶劣的测试环境,该测试系统采用接触式测温技术,使用Nanmac-E12快速响应型热电偶对火炮膛内的火药燃气温度进行测量。在硬件设计上,该测试系统使用了嵌入铁电存储(FRAM)技术的主控芯片,利用铁电存储技术拥有近乎无限擦写周期的特点,将FRAM与循环存储的方式相结合,使得该测试系统在拥有非易失性的基础上,能够运用循环存储的方式将有效数据存储到内置的铁电存储器中,此设计方式相较于使用FLASH存储器可以提高测试系统在恶劣环境下有效数据的捕获率。系统测试与相关模拟试验表明,该测试系统能以100 kHz的采样频率采集数据,具有体积小、稳定性好、功耗低等特点,适用于火炮膛内火药燃气温度的测试。
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魏蓬博
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摘要:
铁电存储器读写时间短、功耗低、可重复擦除性好,因此,在航天航空、军事和公共交通等领域得到了越来越广泛的应用.一个晶体管和一个电容(1T1C)单元结构是常见的铁电存储器存储单元.本文对1T1C铁电存储阵列提出了几种基于电气缺陷的故障模型,包括晶体管常开、常关、开路和桥接故障.与现有的存储器故障相比,发现了两个新的故障,即写入故障(WDF)和动态写入故障(dWDF).此外,还提出了一种改进的March C-1T1C测试,可以有效覆盖现有的故障和新发现的故障.
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余仕侠;
段佳委;
王旭
- 《第十五届海峡两岸智能运输系统学术研讨会》
| 2015年
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摘要:
电池管理系统(Battery Management System,BMS)是电动汽车中保护电池安全工作的核心设备,其主要功能包括电池数据采集、故障诊断、剩余电量(State of Charge,SOC)估算等。铁电存储器FM30C256的非易失性数据存储器、实时时钟等功能增强了电池管理系统的可靠性.文章完成了FM30C256在电池管理系统中的应用设计,包括硬件设计和软件设计,在硬件设计中,完成了FM30C256外围电路的设计,主控芯片选用MC9S12DG128;在软件设计中,完成了数据存取和读取程序计、实时时钟配置和读取程序设计.
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- 《中国仪器仪表学会、中国电子学会2008年医疗仪器学术年会》
| 2008年
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摘要:
本文给出一种基于ARM+FPGA架构的数字医疗信号处理板卡设计方法,重点描述包括铁电存储器在内的存储系统设计、FPGA与S3C2410接口、多串口扩展电路和CAN接口,并给出所高的板卡实物图,最后指出移植VxWorks操作系统的关键环节.
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周益春;
杨锋;
孙静;
张军
- 《2009全国功能材料科技与产业高层论坛》
| 2009年
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摘要:
基于偶极子翻转理论,通过对薄膜中偶极子的统计分布函数进行积分的方法,改进经典的Preisach模型。由于改进的模型具有历史电场效应,可以用较少的参数方便、准确地仿真薄膜的电滞回线。结合金属-氧化物-半导体(MOS)结构的半导体物理理论,建立了一种描述金属-铁电层-绝缘层-半导体(MFIS)结构电学性能的方程。以Pt/SrBi2Ta2O9(SBT)/ZrO2/Si和Pt/Bi3.25La0.75 Ti3O12(BLT)/MgO/Si两种结构为例,模拟了不同的铁电层厚度和绝缘层厚度对两种结构电容一电压(G-V)特性和记忆窗口的影响。模拟结果和实验结果能够较好的符合,从而表明改进的模型能够较好地模拟MFIS结构的G-V特性和记忆窗口。发展了金属-铁电-绝缘体-半导体场效应晶体管(MFIS-FET)模型,并用来研究铁电一电极界面效应。通过假设界面层具有二级介电/铁电相,模拟了铁电晶体管的G-V,I-V和半导体的表面势。模拟的结果显示,当界面层厚度增加时,MFIS-FET的电性能会变坏,说明界面层厚度起了重要的作用。
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周益春;
杨锋;
孙静;
张军
- 《2009全国功能材料科技与产业高层论坛》
| 2009年
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摘要:
基于偶极子翻转理论,通过对薄膜中偶极子的统计分布函数进行积分的方法,改进经典的Preisach模型。由于改进的模型具有历史电场效应,可以用较少的参数方便、准确地仿真薄膜的电滞回线。结合金属-氧化物-半导体(MOS)结构的半导体物理理论,建立了一种描述金属-铁电层-绝缘层-半导体(MFIS)结构电学性能的方程。以Pt/SrBi2Ta2O9(SBT)/ZrO2/Si和Pt/Bi3.25La0.75 Ti3O12(BLT)/MgO/Si两种结构为例,模拟了不同的铁电层厚度和绝缘层厚度对两种结构电容一电压(G-V)特性和记忆窗口的影响。模拟结果和实验结果能够较好的符合,从而表明改进的模型能够较好地模拟MFIS结构的G-V特性和记忆窗口。发展了金属-铁电-绝缘体-半导体场效应晶体管(MFIS-FET)模型,并用来研究铁电一电极界面效应。通过假设界面层具有二级介电/铁电相,模拟了铁电晶体管的G-V,I-V和半导体的表面势。模拟的结果显示,当界面层厚度增加时,MFIS-FET的电性能会变坏,说明界面层厚度起了重要的作用。