透射谱

摘要： 本文分析了腔光力学系统中的探测光的传输特性,此系统由旋转的双模腔和一个力学振子构成,当驱动场从左方或右方传输时,考虑萨格纳克效应对探测场响应的影响。通过研究透射谱,发现光在传输过程中表现出非互换行为。我们期望该方案在信息处理和光通讯方面有一定的应用。

摘要： 分子器件在未来自旋电子学器件小型化的过程中扮演着重要的角色。本文利用密度泛函与非平衡态格林函数相结合的方法,研究了单铬酞菁分子与金纳米线电极构成的自旋场效应管的性质。研究发现:器件的两种自旋态电流都随偏压的增大而增大,而自旋过滤效应则在偏压的调控下呈现出先增大后减小的趋势;在一定偏压下,施加正门电压对自旋过滤效应的调控明显优于同等条件下施加负门电压调控结果。

摘要： 基于耦合模理论,利用传输矩阵法求解出长周期光纤光栅(Long Period Fiber Gratings,LPFGs)的透射谱表达式,模拟分析了LPFGs的光谱特性与光栅参数如周期、刻写长度以及折射率调制深度之间的关系.研究结果表明:LPFGs谐振波长随着周期和折射率调制深度的增大向长波方向移动,且高次模谐振波长对光栅周期更为敏感;光谱带宽的变化主要取决于光栅的刻写长度,随着光栅刻写长度的增加,带宽逐渐变窄,且当光栅刻写长度大于5.2 cm时,光栅存在过耦合区域;随着折射率调制深度的增加,光栅存在不完全耦合、完全耦合和过耦合现象,且谐振损耗最大值位置随着折射率调制深度的增加逐渐向低次转移.该研究结论对长周期光纤光栅的理论分析和实际应用中的参数设计具有重要参考价值.

摘要： 利用传输矩阵法,研究复介质光量子阱光传输特性的增益效应机制,结果表明复介质对光量子阱内部局域电场和分立共振透射峰的透射率均具有增益放大作用:复介质光量子阱与实介质光量子阱一样,内部也存在很强的局域电场以及透射谱中也出现分立的共振透射峰,但复介质光量子阱的内部局域电场和分立共振透射峰会出现增益放大现象.在光量子阱的组成介质A中掺入具有增益效应的激活性杂质时,光量子阱的内部局域电场首先随着激活性杂质含量的增加而放大增强,但增益放大到极大值后又开始衰减下降,而且不同入射光波长,光量子阱内部局域电场增益放大的极大值及其对应的激活杂质含量不同,其中对处于短波方向的光入射时内部局域电场对激活杂质含量的响应最灵敏最高,而且内部局域电场增益放大的极大值最大,对处于长波方向的光入射时内部局域电场对激活杂质含量的响应灵敏度最低,内部局域电场增益放大的极大值最小.复介质光量子阱光传输特性的增益效应机制,对新型光学滤波器、光学放大器和激光器等光学器件的理论研究与实际设计,以及光量子阱光传输特性的内在机制研究等,均具有积极的指导意义.

摘要： 采用传输矩阵法研究四层单负材料一维光子晶体(AB)2的透射谱特性,发现:透射谱中出现3个隧穿模,随着入射角的增大,3个隧穿模的位置几乎不随入射角变化;随着两种介质层厚度的增大,中央隧穿模的位置保持不变,左右两个隧穿模向中央隧穿模靠拢;随着电单负材料A的磁导率和磁单负材料B的介电常数的增大,3个隧穿模均向低频方向移动,相邻两个隧穿模之间的间隔在减小;三种情况中,3个隧穿模的半峰全宽最终均减小,品质因子均得到提高,其中介质层厚度的变化对隧穿模的半峰全宽和品质因子的影响最显著,入射角的变化影响最小。透射谱的这些特性,对设计新型光学器件具有一定的参考价值。

摘要： 利用透射谱(反射谱)方法对MOCVD方法生长的InGaN样品进行实验研究，发现谱线中存在明显的F—P干涉条纹。利用F-P干涉原理分析知，样品中折射率存在明显的涨落，认为样品中相分离是造成这种涨落的主要原因。

摘要： 本文用传输矩阵法分析计算了相移长周期光纤光栅的传输谱特性.通过仿真试验分析了引入相移后长周期光纤光栅的透射谱.长周期光纤光栅中间位置引入相移π后,原来谐振波长处的波谷,现在变成了波峰,传输光谱曲线上的单一波谷变为对称的两个波谷.

摘要： 应用耦合模理论和传输矩阵法计算模拟了长周期光纤光栅的透射谱,并对其进行了切趾优化.分析了引入多个π相移的相移长周期光纤光栅的谱结构,运用高斯函数折射率切趾方法对其旁瓣进行了切趾,并尝试了一种新型的长度切趾方法,对两种方法进行了比较,得出了一些有意义的结论.

摘要： 利用MPB软件和MEEP软件对光子晶体带隙结构及透射谱进行了仿真研究。讨论了介质填充比和介质相对介电常数对光子带隙的影响。结果表明,当高相对介电常数介质的填充比增大时,或高相对介电常数增大时,带隙的中心频率缓慢减小,带隙宽度先增大后减小。采用高相对介电常数材料(钛酸钡(BaTiO3)粉末混合聚二甲基硅氧烷(PDMS))和泡沫薄板周期排列组成一维光子晶体。实验上制得了高低介质相对介电常数分别为4.5和1,填充比为1:1,晶格常数为10mm,周期数为5的光子晶体,并测量出该光子晶体的微波透射谱。结果表明,该光子晶体带隙中心频率为9.3GHz,带宽为500MHz。

摘要： 提出了一种新型级联微环光探测器(CMRPD)，通过调节级联微环之间的耦合系数，使波长选择特性满足密集波分复用系统(DWDM)关于解复用器的国际电信联盟远程通信标准化组(ITU-T)。推导出了谐振腔的透射谱和光探测器的响应特性，计算得出其响应频谱的-3 dB，-0.5 dB和-20 dB带宽分别为0.85 nm，0.3 nm和0.8 nm，从而证明了微环光探测器具有平顶陡边的光谱响应特性。实现了单环谐振腔结构的实验制备，对其进行了性能测试，得出了谐振腔的透射谱。

摘要： 目前对ZnO的紫外探测器研究比较多,尤其是目盲区探测(4.4-5.6eV),而MgxZn1-xO六方相的合金薄膜具有在3.3eV-5.0eV可调节,所以有必要制备和研究日盲区段的MgxZn1-xO薄膜。采用射频磁拧溅射用x=0.00-0.45的MgxZn1-xO陶瓷靶在硅(100)和石英衬底上生长MgxZn1-xO薄膜。采用X射线衍射谱(XRD)、透射谱和光电导谱对样品进行表征。结果表明用MgxZn1-xO薄膜在x≤325时具有单一(002)取向的六方结构,其禁带宽度Eg随x增加而增加,在薄膜表面在入射光能量大于禁带宽度时有光电响应,并且在x=0.325时得到了禁带宽度在4.9eV的MgxZn1-xO薄膜。在x>0.325时出现立方相结构,禁带宽度有所减少,说明此时已为混相薄膜。

摘要： 利用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)技术在蓝宝石衬底上外延生长了铝镓氮(AlGaN)薄膜.采用透射谱的方法确定AlGaN外延层的带隙,采用X光双晶衍射(DCXRD)的ω扫描摇摆曲线表征AlGaN外延层晶体质量,采用扫描电子显微镜表征AlGaN外延层的表面形貌.对生长压力为100Torr和50Torr的两个样品的光学性质、晶体质量及表面形貌进行了对比.

摘要： 本文利用射频磁控溅射方法,在Si基片和玻璃基片上制备Al3+掺杂浓度10％-40％的ZnO薄膜,并测试了薄膜的透射谱和光致发光谱.随着Al3+掺杂浓度的提高,ZnO薄膜的吸收边向短波长方向蓝移;当Al3+掺杂浓度达到20％以后,吸收边基本稳定在314nm左右;光致发光谱中,在355nm附近有很强的紫外发射,深能级发光峰的位置随着Al3+掺杂浓度的不同有所差异.

摘要： 作者用脉冲激光沉积方法制备了CaCu3Ti4O12薄膜,并用光学透射谱和Z扫描测量技术表征了CCTO薄膜的线性和非线性系数.结果发现,薄膜在600nm以上区域都具有很好的透光性,粗略估算出的光学带隙在3eV左右.在开孔Z扫描实验曲线中,透过样品的能量不随样品的位置而改变,说明该材料在弱光强下没有非线性吸收.而闭孔Z扫描曲线具有明显的先谷后峰形状,表明样品是自聚焦材料,非线性折射系数为正值.此外,由闭孔Z扫描曲线可得归一化曲线的峰谷差值△Tyv=0.14,从而非线性折射系数为γ=5.0×10-13m2/W.

摘要： 在常温下，采用反应磁控溅射法在K9双面抛光玻璃基底上制备氧化钛薄膜，采用XRD，光栅光谱仪、椭偏仪对样品进行测试，拟合分析得到薄膜的折射率和厚度等光学参数。结果表明氧化钛纳米薄膜呈非晶态，在可见光波段吸收小、是透明的，是用来构成一维光子晶体的理想组份，对其光学性能的基础研究为以后光子晶体的结构设计具有积极的意义。

摘要： 本发明提供了一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪，所述的透射光栅谱仪包括入射狭缝、透射光栅、条纹相机以及与条纹相机相匹配的光阴极狭缝和光阴极；物体发出的X射线通过入射狭缝，经透射光栅色散，形成两个分辨率不同的光谱，两光谱在空间上错位，经过条纹相机前的光阴极狭缝，挡除多余光谱，即可在条纹相机上获得高时空分辨、宽范围的X射线光谱。本发明的透射光栅谱仪在保证所测谱范围的基础上，可获得更高的谱分辨率，并且适用于时间分辨光谱的测量，对X射线谱精密测量具有广阔应用前景。

摘要： 本发明提供一种透射电镜能谱超分辨分析方法，属于矿产资源勘查、微量元素地球化学领域。所述方法包括如下步骤：步骤1.目标样品的选择与分析。步骤2.微区微量元素组成分析样品的准备。步骤3.目标样品的性质与元素组成分析。步骤4.根据需要制备透射电子显微镜观察样品。步骤5.对上一步制备样品，放入透射电子显微镜进行形貌观察，寻找合适的分析位置。本发明能够在纳米尺度下，对样品微量元素检测，极大的提高了透射电镜能谱元素分析的实际应用检出限，也提出了样品中微量元素被主量元素信号干扰的解决办法，并且，本发明也可以应用于电子束敏感样品的能谱分析。

摘要： 本发明提供了一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪，所述的透射光栅谱仪包括入射狭缝、透射光栅、条纹相机以及与条纹相机相匹配的光阴极狭缝和光阴极；物体发出的X射线通过入射狭缝，经透射光栅色散，形成两个分辨率不同的光谱，两光谱在空间上错位，经过条纹相机前的光阴极狭缝，挡除多余光谱，即可在条纹相机上获得高时空分辨、宽范围的X射线光谱。本发明的透射光栅谱仪在保证所测谱范围的基础上，可获得更高的谱分辨率，并且适用于时间分辨光谱的测量，对X射线谱精密测量具有广阔应用前景。

摘要： 本发明公开了一种透射晶体谱仪对中装置及对中方法，透射晶体谱仪对中装置包括底板，底板上间隔一定距离的布置有透射晶体和接收探测器，还包括布置在接收探测器相对于透射晶体另一侧的底板上的对中光源、入射板和出射板，透射晶体上设置有用于调节透射晶体俯仰和倾斜转动第一调节架；入射板上设置有入射通光孔，出射板上设置有出射通光孔；所述入射通光孔、出射通光孔和对中光源同轴线布置；本发明的对中装置可避免透射晶体谱仪内部各连接器件以及透射晶体谱仪与辐射源之间各连接器件的制造误差和装配误差对光路的影响，提高了透射晶体谱仪的对中精度，使测量结果具有更大的可信度和准确度。

摘要： 本实用新型提供了一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪，所述的透射光栅谱仪包括入射狭缝、透射光栅、条纹相机以及与条纹相机相匹配的光阴极狭缝和光阴极；物体发出的X射线通过入射狭缝，经透射光栅色散，形成两个分辨率不同的光谱，两光谱在空间上错位，经过条纹相机前的光阴极狭缝，挡除多余光谱，即可在条纹相机上获得高时空分辨、宽范围的X射线光谱。本实用新型的透射光栅谱仪在保证所测谱范围的基础上，可获得更高的谱分辨率，并且适用于时间分辨光谱的测量，对X射线谱精密测量具有广阔应用前景。

摘要： 本发明提供了一种测量太赫兹垂直透射谱和反射谱的一体化系统及应用，该系统将激光经1/2波片后进入分束器，分束器将激光分为泵浦光和探测光；泵浦光经斩波器后再分别经过第一反射镜、由第二反射镜、第三反射镜构成的光学延迟线、第四反射镜、第五反射镜折射后，经第一透镜、太赫兹源产生太赫兹脉冲，太赫兹脉冲射入薄膜镜；探测光经第六反射镜折射后，经过起偏器等后射入平衡探测器，平衡探测器与锁相放大器功能性电连接；所述照射目标包括第七反射镜、待测样品。该系统应用到太赫兹时域光谱仪中，可以提高材料光学参数的提取精度，而应用到太赫兹飞行时间断层扫描中，可以加大三维立体图像最大访问深度。

摘要： 本发明公开一种透射谱矩阵和吸光度谱矩阵的测量系统，包括沿光路依次安置红外光源、准直透镜、干涉系统、起偏系统、样品仓、检偏系统、透镜、探测器和计算机处理系统；干涉系统包括分束器、固定镜和移动镜；其中分束器为立方体构件，沿其周向的四个面中与准直透镜相向的面为面A，自面A沿顺时针方向，依次为面B、面C和面D；在面B处安置固定镜；在面C的处安置移动镜；在面D处安置起偏系统，包括沿光路依次安置偏振器和消光比1/4波片；检偏系统包括沿光路依次安置消光比1/4波片和偏振器；计算机处理系统用于采集偏振信息并计算得到透射谱矩阵和吸光度谱矩阵。本发明还公开了一种透射谱矩阵和吸光度谱矩阵的测量系统的测量方法。

摘要： 本发明提供了一种测量太赫兹垂直透射谱和反射谱的一体化系统及应用，该系统将激光经1/2波片后进入分束器，分束器将激光分为泵浦光和探测光；泵浦光经斩波器后再分别经过第一反射镜、由第二反射镜、第三反射镜构成的光学延迟线、第四反射镜、第五反射镜折射后，经第一透镜、太赫兹源产生太赫兹脉冲，太赫兹脉冲射入薄膜镜；探测光经第六反射镜折射后，经过起偏器等后射入平衡探测器，平衡探测器与锁相放大器功能性电连接；所述照射目标包括第七反射镜、待测样品。该系统应用到太赫兹时域光谱仪中，可以提高材料光学参数的提取精度，而应用到太赫兹飞行时间断层扫描中，可以加大三维立体图像最大访问深度。

摘要： 本发明提供一种ECA‑CNN融合双通道RNN并行提取光子晶体空间透射谱时空特征的方法，所述方法包括：获取包含光子晶体空间透射谱和结构参量的训练数据集；构建基于ECA‑CNN融合双通道RNN的神经网络模型；利用获取的训练数据集对构建的神经网络模型进行训练，并采用优化算法提高模型特征提取和参数预测性能；再通过多种回归预测评价指标进行模型性能评估。其中，在训练过程中，将通过ECA‑CNN卷积模块提取的空间像素特征和双通道RNN提取的图像时序特征进行融合，根据融合后的特征对图像进行全面分析，完成光子晶体的结构设计。采用本发明，能够利用融合后更加全面的图像特征对图像进行分析，提高基于复杂图像的参量预测性能。

摘要： 本发明提供一种通过透射谱计算微米级单晶的折射率、消光系数及厚度的方法，所述方法包括：测试样品的微区透射谱，通过读谱获取极值点的相关参数，再分别求解极值点的干涉介数；通过迭代等算法，分别对偶数极值点以及奇数极值点的折射率、消光系数和吸收系数等参数进行计算，通过上述参数绘制出折射率色散曲线，最终通过迭代计算绘制出消光系数色散曲线。所述方法可以获得微米级样品的信息，与现有的椭偏仪测试相比，更加简便快捷且廉价。