运算放大器
运算放大器的相关文献在1957年到2023年内共计3717篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、自动化技术、计算机技术、电工技术
等领域,其中期刊论文2301篇、会议论文142篇、专利文献49630篇;相关期刊724种,包括电气电子教学学报、电子与电脑、国外电子元器件等;
相关会议108种,包括2013年全国博士生学术论坛——电子薄膜与集成器件、教育部中南地区高等学校电子电气基础课教学研究会第二十三届学术年会 、第十一届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会等;运算放大器的相关文献由4914位作者贡献,包括朱樟明、杨银堂、陆妩等。
运算放大器—发文量
专利文献>
论文:49630篇
占比:95.31%
总计:52073篇
运算放大器
-研究学者
- 朱樟明
- 杨银堂
- 陆妩
- 任迪远
- 西村浩一
- 任俊彦
- 张庚宇
- 肖夏
- 郭旗
- 张国华
- 许俊
- 不公告发明人
- 朱红卫
- 陈季廷
- 黄如琳
- 叶凡
- 吴建辉
- 张明
- 张波
- 余学锋
- 张海冰
- 李刚
- 蒋宇俊
- 张利地
- 杨华中
- 王新安
- 罗萍
- 魏琦
- 刘术彬
- 孙权
- 张智才
- 曾柏瑜
- 焦炜杰
- 马学龙
- 从余
- 刘伦才
- 刘正岐
- 周泽坤
- 张洪
- 方佩敏
- 李斌
- 杨金权
- 王志功
- 范明俊
- 赵元富
- 邵博闻
- 黄胜瑞
- 严荣良
- 吴晓波
- 吴杰
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张朝晖
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摘要:
应用运算放大器对发射机的工作状态进行判断,通过数字电路的处理对主备发射机进行控制和监测,同时相互封锁,实现主备发射机出现故障快速切换,降低停播率。同时利用微处理器对播控时段进行设置,实现有效地切换。
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李明煜;
吕乐
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摘要:
芯片生产时由于工艺、设备客观存在的参数波动性造成成品中会存在有缺陷的芯片。装机时使用有缺陷的芯片严重时会损坏整机系统。电参数可靠性试验即为剔除芯片典型电参数超差而进行的筛选试验。针对这部分内容测试目前总结综述类文章较少且不全面的问题,文章总结电压反馈型运放环设计方法及运放的测试方法,对电压反馈型运算放大器电参数测试方法分析,结合模拟电路分析方法给出电压型反馈运放参数计算公式和测试原理,最后设计运放环对比某型号ATE配套运放环对AD公司高速运放AD8066ARZ进行典型电参数测试验证其正确性。
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任保佳;
魏海龙;
白欢利
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摘要:
针对传统高精度运算放大器输入偏流、失调较大的问题,提出了一种新的偏流补偿结构,通过对输入级拓扑结构和器件方面的改进,使输入偏流比同类运放降低一个数量级以上,同时保持了良好的输入失调,提升了运放的精度;中间级通过设计自举结构,使用少量器件获得了较大的增益,输出级使用了class AB输出结构,避免了交越失真;同时设计了电流增强结构提升了输出级的驱动能力。电路基于标准双极工艺进行设计,仿真结果表明,25°C时输入偏置电流为24.34 pA,失调电流为0.64 pA,失调电压为4.98μV。
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付蓉;
黄海荣;
范静
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摘要:
本文为探究运算放大器在开关电源电路中的应用方式,提出新型轨对轨运算放大器方案,在新加坡charter公司0.35um工艺的基础上进行版图绘制,然后再进行仿真验算分析。在新型轨对轨运算放大器中,通过联合应用浮栅结构以及负反馈电路,能够保证共模电平恒定,同时通过应用折叠式共源共栅电路,可保证电路增益。
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陶敏;
唐威;
董振斌;
李晶
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摘要:
针对限流精度易受运算放大器失调电压、电流采样方式、工艺以及环境变化影响等问题,提出了一种带失调电压校正功能的高精度限流电路。设计失调电压校正电路,采用电流补偿方式对运算放大器进行校正,降低了运算放大器的失调电压;限流环路利用采样管对输出电流进行等比例采样,采样精度较高;为减小封装所带来的偏差,设计了数字修调电路,对其限流值偏差进行调节,提高限流精度。该电路采用0.18μm 1P3M BCD工艺实现。仿真结果表明,限流值在不同温度(-55~125°C)及不同电源电压(2.7~5.5 V)条件下,随温度变化率为0.56%,随电源电压变化率为1.65%,限流精度为2%,可修调范围为-58.5%~54.9%。
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赵会勤;
董泽芳
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摘要:
基于运算放大器是差分输入,单端输出的高增益放大器,阐述在高精度的模拟电路中,快速创建有效的测试电路,从而精确测量其性能参数。
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刘健;
张卫平;
毛鹏
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摘要:
在信号调理电路中,运算放大器是信号调理电路的核心器件。零漂、温漂和共模电压等变化会引起输出误差,如果输入信号中混有噪声或运算放大器固有噪声过大,高精度ADC(Analog-to-Digital Convertor)就失去了意义。基于上述原因,文中提出一种补偿电路设计方法,该电路选型Ti公司的OPA192精密运算放大器,通过等比例缩小电阻值和添加反馈电容限制带宽的方法来减弱噪声,并使用Pspice软件对运算放大器的交流噪声进行仿真验证。仿真结果表明,该反馈补偿电路将运放交流总噪声减小85.05%,提高了ADC采样电路的信噪比。
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张银
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摘要:
阐述一种从运算放大器输入端采样的热电阻测温方法,该方法的测量原理,提出该方法的技术方案,可使电路简化,并可完全消除引线电阻随温度变化引起的测量误差,具有实用性。
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姚宁
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摘要:
在含运算放大器电路的教学过程中,将理论知识与Multisim软件融合,突出器件特性的研究和应用,为模拟电子技术课程中器件内部构造的分析奠定基础.以反相比例运算放大器为例,问题导向、逐步递进,结合仿真工具,以示波器显示波形直观、有效的分析,提升课堂教学效果的同时增强了理论知识的实践性,有效改善了教学质量.
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万成功;
鲁佳慧;
黄光明
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摘要:
针对斩波调制导致的输出纹波和带宽受限的问题,采用复合路径结构,将运放分为高频低增益的主路径和低频高增益的辅助路径,主路径决定带宽,辅助路径决定失调,斩波调制位于辅助路径,解除了带宽限制;将Ping-pong自动调零与斩波调制相结合,减小了运放的失调和斩波调制导致的纹波;采用复合路径混合嵌套米勒补偿的方法来进行频率补偿,保证了多级运放的稳定性。低失调运放的设计基于华虹宏力(GSMC)0.13μm CMOS工艺,经Spectre仿真得到,运放的单位增益带宽为3.53 MHz,输入等效失调电压小于15.8μV,纹波等效到输入小于175μV,满足低频微弱信号的放大需求。
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邹伟;
王成鹤;
周远杰;
聂长敏
- 《中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会》
| 2018年
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摘要:
通过对成熟产品的失效分析发现产品在设计工艺结构、可靠性及环境性试验、以及使用过程中存在的问题,来指导前端改进优化设计及工艺.本文通过对某型集成运算放大器产品寿命后输出异常失效分析,发现该产品在寿命试验后金铝键合系统出现的问题,采用切片、SEM&EDS等失效分析常用工具及方法,找出影响该产品长期寿命的问题,并提出了相应的改进措施.本研究工作对于同类产品的可靠性设计、寿命长期可靠性具有借鉴意义.
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廉鹏飞;
罗宇华;
孔泽斌;
刘楠;
杨亮亮
- 《中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会》
| 2018年
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摘要:
本文针对一种运算放大器的失效问题进行了分析.针对2只失效运放进行了Ⅳ特性测试,2只器件的3脚和5脚均为反向二极管特性正常,正向二极管特性不存在.与正常样品进行对比,正常样品的对应引脚正向和反向二极管特性均正常,由此证明器件已失效.随后,通过内部目检,发现3脚和5脚与NPN三极管基极相连的铝条发生过流熔断.建立3脚和5脚向三极管基极看进去的等效二极管示意图进行了分析,明确了铝条过流熔断和Ⅳ特性异常之间的对应关系.最后,结合失效器件的应用电路进行了分析,3脚和5脚与NPN管基极相连的铝条发生过流熔断是由于自系统公共地端引入了外界过电应力,从而引发运放失效.
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石明福;
郭裕顺
- 《2016年上海市研究生学术论坛——电子科学与技术》
| 2016年
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摘要:
模拟电路的设计重用是提高模拟与混合信号集成电路设计效率的重要途径.本文探讨了在不同工艺之间进行同一结构电路的设计移植,并保持电路性能不变的方法.基本思想是匹配移植前后电路的工作电流和MOS管的小信号跨导gm、输出电导gds,从而保证关键电路性能指标不变.通过求解基于BSIM模型的匹配方程的方法,实现了较为准确的移植.文中以一个Miller补偿两级运算放大器为例,给出了从0.8um工艺到0.35um工艺的移植结果.
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吉培荣;
陈成;
李海军
- 《高校电子电气课程教学系列报告会2015》
| 2015年
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摘要:
本文指出将理想运算放大器这一理性元件的特性描述(归纳)为“虚短虚断”存在问题,提出应用“假短真断(虚短实断)”描述(归纳)理想运算放大器的特性,对相关问题进行了讨论,分析了实际运算放大器的电路模型及特性,并给出了一些意见和建议.
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XIONG JunQiao;
熊俊俏;
DAI LouPing;
戴璐平;
LIU HaiYing
- 《教育部中南地区高等学校电子电气基础课教学研究会第二十三届学术年会》
| 2013年
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摘要:
《电子技术基础》实验教学改革的趋势是压缩验证性实验、增加设计性与创新性实验,提高工程实践能力,为此不少高校开展了相关的教学实验改革探索,本文以简单的运算放大器实验为例,依据实验所出现的现象,开展探索性实验,说明了运算放大器电路设计的规则,由此提出了开展探索性实验教学的方法,运算放大器为模拟电路的基础器件,但具体器件的选择则需要根据需要、结合具体性能指标来选择,并在应用过程中,需要科学的测试与分析,选择最佳外围元器件参数,以获得最佳性能,切忽依据价格或高指标选择器件。同时,在实验过程中,善于抓住故障现象,开展探索性研究,达到真正意义上的掌握相关理论与应用,提高科学分析能力和工程实践能力。故障是可遇不可求的,也只有故障及其排除故障的过程,才能提升实践能力,才是开展科学研究的动力。在电子技术实验、电子技术课程设计等实践教学中,需要培养学生不怕故障、善于观察、分析与排除故障,才能达到理论上的提升与实践能力的提高。因此,开展研究探索性实验,不放弃故障排除的机遇,是真正培养工程实践能力、提高科学素养的关键。对提高电子技术实验教学效果、培养大学生科学素养有一定的参考价值.