读数显微镜

摘要： 通过对横向放置的钢丝进行受力分析,推导出其杨氏模量的测量公式,进而运用该公式对其杨氏模量进行实验测量.再用该杨氏模量值作为已知参数,利用该钢丝作为压力的应变传感器件,反向设计出一款简易台秤,推导出其测量公式,并用来测定未知物体的重力.此设计将传统的验证性实验项目拓展改进成设计性实验项目,减小了原实验误差,丰富了实验内容.

摘要： 根据分光计、迈克尔逊干涉仪、读数显微镜等光学实验仪器特点,结合仪器调节要求,给出了利用三角板调节 3 种光学仪器的具体方法,提高学生的调节速度,激发学生的创新思维。

摘要： The principle of measuring the Young's modulus based on bending method is introduced.After analyzing the problems of traditional experiment, an improved scheme is proposed based on the micrometer.After improved, it has the features of simple structure and operation.The instrument combines the accurate measurement of micrometer and the measurement of Young's modulus based on bending method.It directly uses micrometer to measure the displacement of beam center, and the Young's modulus of beam is obtained.By comparing measurements before and after improvement, the measurement error is dramatically reduced.%介绍了传统弯曲法杨氏模量实验仪的工作原理,对传统实验仪存在的问题进行了分析,并提出了基于千分表测量的改进方案.改进后的实验仪具有结构简单、操作方便的特点,它将千分表的精确测量与弯曲法测金属的杨氏模量巧妙地结合在一起,利用千分表直接读取横梁中心的下移量,从而计算出横梁的杨氏模量.通过比较改进前、后的测量结果发现,改进后试验误差极大降低.

摘要： 本文介绍了一种利用工具显微镜校准JC10型读数显微示值误差的方法,并通过测量不确定度评定验证这种方法的可行性.然后对JC10型读数显微镜在校准及使用中常遇的三个故障进行了分析与解决.

摘要： 笔者设计了一种用于检定读数显微镜的夹具,该夹具能够稳定夹持读数显微镜,并能够方便与专用玻璃标尺对线,解决读数显微镜检定时难以稳定对线的问题.经示值误差测量结果不确定度分析,该夹具的实际效果符合检定要求.

摘要： 针对CCD价格昂贵,配套设备较多的问题,在实验室测量中考虑将CCD测量系统用一个20倍读数显微镜来代替.该文对线阵CCD测量玻璃材料折射率的方法进行了改进.在光具座上,利用读数显微镜,通过测量光斜入射到平行板玻璃的出射光线与入射光线之间的横向偏移量,即可测量出该介质的折射率.

摘要： 读数显微镜是常用的一种光学计量仪器。它广泛应用在科研、生产以及教学中。读数显微镜结构简单、操作方便，可以应用于位移的精密测量或微小物体长度测量，如可测定光栅常数、刻线宽度等，同时还可作为观察显微镜，对物体进行低倍放大后观察分析。本文介绍了读数显微镜的检定方法，本人通过多年的工作经验总结了读数显微镜检定过程的常见问题以及处理方法，并在此基础上提出了读数显微镜检定过程的注意事项，以便于更好地为企业服务，使得计量数据更加准确、可信。

摘要： 根据劈尖等厚干涉原理，采用读数显微镜作为新的测量手段，研制了磁致伸缩系数测量装置，精确测量铽镝铁合金和Q235碳素结构钢在弱磁场中的磁致伸缩系数。该装置具有测量方法简单、直观，且精度很高的特点。%According to the principle of equal thickness interference wedge,a device for measuring magnetostriction coefficient was devised by using a new measurement method,i.e.reading microscope.Then the device was used to accurately measure magnetostriction coefficient of TbDyFe alloy and Q235 carbon steel in a weak magnetic field.The measurements show that this device is easy to use,directly visible,and highly accurate.

摘要： 用读数显微镜(如JXD-B型)进行长度测量时要涉及到叉丝的平行调节,通常情况下调节过程繁琐而且调节平行的效果欠佳,影响测量的精度。基于此我们设计并制作了显微镜长度测量的辅助装置——角度定位仪,使用角度定位仪进行长度测量省略了叉丝调节的繁琐步骤,简化了操作,提高了测量的精度。

摘要： 用半导体激光器作为牛顿环实验的光源和常见的钠灯光源相比,由于光源相干长度的增加,不同光学元件表面上的反射光进入读数显微镜后都可能形成特殊的干涉条纹.本文比较全面地探讨了各种特征干涉条纹的形成原因,并在此基础上对实验仪器进行了必要的改进,最终制作完成了可以通过牛顿环进行凸透镜曲率半径测量的实验装置.在此基础上,使用CCD记录牛顿环图案,获得干涉环上各处的光强,计算干涉条纹的衬比度,结果发现:激光作光源时,衬比度可以接近1,远好于钠灯作光源时的情形.

摘要： 教学实验中一般用金属线胀系数仪测量金属棒线胀系数α与温度t的关系,但很少采用金属丝来测量金属的线胀系数,本文介绍利用拉伸法测量金属丝线胀系数的方法,在实验中我们增加了读数显微镜和CCD成像系统,能够对光信号进行实时监控,克服视差读数,效果直观清晰。同时也采用了AD695M和温控电加热系统,来减少金属丝裸露部分散热和温度测量误差。实验结果显示金属丝线胀系数α与标准参数符合较好。

摘要： 该文介绍新开设的《激光测距原理）普物实验，是通过时旧实验进行改造所开设的设计性实验。文章介绍了实验原理和实验装置，而且通过实验数据进行了误差分析。

摘要： 该文介绍新开设的《激光测距原理）普物实验，是通过时旧实验进行改造所开设的设计性实验。文章介绍了实验原理和实验装置，而且通过实验数据进行了误差分析。

摘要： 该文介绍新开设的《激光测距原理）普物实验，是通过时旧实验进行改造所开设的设计性实验。文章介绍了实验原理和实验装置，而且通过实验数据进行了误差分析。

摘要： 该文介绍新开设的《激光测距原理）普物实验，是通过时旧实验进行改造所开设的设计性实验。文章介绍了实验原理和实验装置，而且通过实验数据进行了误差分析。

摘要： 该文介绍新开设的《激光测距原理）普物实验，是通过时旧实验进行改造所开设的设计性实验。文章介绍了实验原理和实验装置，而且通过实验数据进行了误差分析。

摘要： 该文介绍新开设的《激光测距原理）普物实验，是通过时旧实验进行改造所开设的设计性实验。文章介绍了实验原理和实验装置，而且通过实验数据进行了误差分析。

摘要： 提供一种能够高速切换观察视野、能够观察大视野的显微镜用光学模块、显微镜、显微镜用光学模块控制装置以及多光子激发显微镜。本发明的显微镜用光学模块附加于显微镜的物镜光束侧，该显微镜用光学模块具有：具有光学元件的光轴偏移光学系统；光轴偏移光学系统支承单元，其将所述光轴偏移光学系统相对于所述显微镜的物镜光束定位设定；以及转动单元，其配置于所述光轴偏移光学系统支承单元，并将所述光轴偏移光学系统支承为相对于所述物镜光束的光轴能够旋转。

摘要： 本发明提供的显微镜物镜，包括同光轴设置的十四片球面透镜，所述十四片球面透镜从物方至像方依次包括：第一透镜(L1)、第二透镜(L2)、第三透镜(L3)、第四透镜(L4)、第五透镜(L5)、第六透镜(L6)、第七透镜(L7)、第八透镜(L8)、第九透镜(L9)、第十透镜(L10)、第十一透镜(L11)、第十二透镜(L12)、第十三透镜(L13)及第十四透镜(L14)，本发明提供的显微镜物镜，在保证高数值孔径高分辨率的同时，物方视场显著增大，实现了500nm至800nm波段的复消色差，很好地消除了球差、彗差、像散、场曲、畸变、倍率色差及轴向色差，满足平场复消色差物镜要求，实现了宽视场(即大视场数和低倍率)和高数值孔径的技术要求。

摘要： 本发明涉及一种带有至少一个接头(101)的显微镜控制单元(100)，该接头可与一个或多个能电控制的显微镜组件(201、202、203、204、301、302、303、304)或者其它能电控制的组件连接，其中，所述至少一个接头(101)的至少一个接头参数可采用程序技术予以配置，其中，在所述显微镜控制单元(100)上提供至少一个带脚本指令的脚本，其中，所述至少一个接头(101)可借助所述脚本指令予以控制。本发明还涉及一种显微镜系统，其带有这种显微镜控制单元(100)和至少一个显微镜组件或其它能电控制的组件。

摘要： 提供一种能够高速切换观察视野、能够观察大视野的显微镜用光学模块、显微镜、显微镜用光学模块控制装置以及多光子激发显微镜。本发明的显微镜用光学模块附加于显微镜的物镜光束侧，该显微镜用光学模块具有：具有光学元件的光轴偏移光学系统；光轴偏移光学系统支承单元，其将所述光轴偏移光学系统相对于所述显微镜的物镜光束定位设定；以及转动单元，其配置于所述光轴偏移光学系统支承单元，并将所述光轴偏移光学系统支承为相对于所述物镜光束的光轴能够旋转。

摘要： 本发明涉及一种使用离子束制造扫描探针显微镜(SPM)的方法以及由其制造的纳米针探针，该离子束优选为聚焦的离子束。更具体而言，本发明涉及一种制造SPM纳米针探针的方法和由其制造的SPM纳米针探针，该探针能够容易地调整，以使附着于SPM纳米针探针尖端上的纳米针具有期望的指向，且该探针能够容易被准直，使附着于SPM纳米针探针尖端上的纳米针沿着期望的指向。而且，本发明涉及一种使用离子束制造临界尺寸SPM(CD－SPM)纳米针探针的方法和由其制造的CD－SPM，该探针能够精确地扫描纳米尺度的样品物体的侧壁，该离子束优选为聚焦的离子束。更具体而言，本发明涉及一种制造CD－SPM纳米针探针的方法和由其制造的CD－SPM纳米针探针，该探针能够通过将附着于SPM纳米针探针尖端上的纳米针末端的一部分向着并非附着于SPM纳米针探针尖端上的纳米针所延伸出去的初始方向的特定方向弯曲特定角度，来精确地扫描纳米尺度的样品物体的侧壁。一种使用离子束制造扫描探针显微镜(SPM)纳米针探针的方法，包括：定位所述探针，使得其上附着有所述纳米针的所述探针的尖端面向辐照所述离子束的方向；以及通过向其上附着有所述纳米针的所述探针的尖端辐照所述离子束利用所述离子束平行地排列附着于所述探针的所述尖端上的所述纳米针。一种使用离子束制造临界尺寸扫描探针显微镜(CD－SPM)纳米针探针的方法，包括：使用掩模屏蔽附着于所述探针的尖端上的所述纳米针的特定部分；以及通过在暴露于所述掩模之外的所述纳米针的部分上辐照所述离子束来沿着所述辐照的离子束的方向弯曲暴露于所述掩模之外的所述纳米针的所述部分，以排列所述纳米针的所述部分。

摘要： 描述了可用于对三维物体诸如生物细胞、生物组织或生物有机体成像的方法和系统的某些配置。该方法和系统可以以减少的成像时间和减少的数据量对三维物体成像。

摘要： 一种使用数字显微镜(2)提供组合图像的方法，数字显微镜(2)具有光学系统(25)、具有预定义的图像像素数量的图像传感器(120)和用于盛放样本(12)的平台(10)，平台(10)可相对于光学系统(25)和图像传感器(120)移动，包括接收关于样本(12)的感兴趣区域(74)的用户选择，该用户选择表明感兴趣区域(74)的位置和扩展，取决于用户选择，选择全分辨率模式和降低分辨率模式之一，其中全分辨率模式中，生成具有预定义的图像像素数量的单独的图像，其中降低分辨率模式中，生成与预定义的图像像素数量相比具有降低的图像像素数量的单独的图像，相对于光学系统(25)和图像传感器(120)移动平台(10)，并根据选择的全分辨率模式和降低分辨率模式之一生成感兴趣区域(74)的单独的图像，和将单独的图像结合成表示感兴趣区域(74)的组合图像。

摘要： 本发明包含一方法、一微粒多束显微镜和一半导体结构，以通过微粒多束显微镜的多个微粒束对半导体样品进行充电，并进行高分辨率的电压对比成像，无需切换微粒多束显微镜或移动半导体样品。在这种情况下，由各自具有低的微粒电流的所选微粒束的总和所形成的相加总电流在半导体结构中产生电荷并因此产生电压差。

摘要： 本实用新型公开了读数显微镜读数操作台,包括底板，底板上设有被测物品支撑机构，还包括横梁、移动滑块、支撑柱，被测物品支撑机构包括Y轴移动模块、X轴移动模块，支撑柱的下端与底座连接，所述Y轴移动模块在底板上沿Y轴坐标方向移动，X轴移动模块在Y轴移动模块上沿X轴坐标方向移动，移动滑块与支撑柱通过轴孔配合连接，移动滑块沿着支撑柱上下移动，横梁一端与移动滑块连接，读数显微镜与横梁另一端连接。本实用新型通过移动滑块实现读数显微镜的上下移动，通过调节Y轴移动模块、X轴移动模块实现被测物品的水平面内的移动，从而保持测量过程中读数显微镜与被测物品位置的相对固定，读数时光线适宜以保障测量时的便利性和准确性。

摘要： 本实用新型涉及一种实验器材，具体是一种读数显微镜的可调半反射镜，半反射镜的倾斜角可以调节。在大学物理实验中多人使用同一光源的情况下避免了使用升降台。拨动滚轮(11)，滚轮(11)通过拨杆(10)带动摇杆(8)从而带动半反射镜(5)改变角度。从而使半反射镜(5)可以根据光源的位置高低，改变角度，使光源的光竖直射到待测物体上。由于采用了滚轮(11)，使角度的改变变得缓慢，从而易于控制。