芯片检测

摘要： 为了确定随钻声波测井仪器信号接收电路芯片焊接后失效原因,采用X射线、电特性测试、电子显微镜等方式对失效芯片进行了检测,并测试了接收换能器产生的异常电压,最终确定芯片失效是因为接收换能器自身产生异常电压能量过高所致。据此提出解决方案,在焊接接收换能器时,将换能器两极及时放电。实际测试表明,该方案简单有效。

摘要： 针对传统集成电路芯片检测方法存在的局限性以及"金片"难以获取等问题,提出了一种基于卷积自动编码器和自组织神经网络的自动化聚类模型,并将其应用于芯片的检测.通过使用电磁探针收集在完全相同工作状态下不同芯片产生的电磁信号,利用卷积自动编码器将信号进行特征提取并降维,将特征向量输入自组织映射神经网络进行聚类.验证结果表明,该方法能够在缺少"金片"的情况下,实现芯片的无损检测,并且在同厂家差异很小的芯片检测实验中,效果远好于传统的聚类方法.

摘要： 长链非编码RNA参与包括肿瘤发生发展、侵袭迁移在内的许多生物过程。IncRNA的功能与其在细胞内的定位密切相关。许多IncRNA在特定的亚细胞定位具备调控功能,然而IncRNA的亚细胞定位与其具备的特异性功能之间的关系尚不明确。利用TGF-β诱导非小细胞肺癌A549细胞系,构建上皮间质转化(EMT)模型,在此基础上利用芯片检测发现了一些具有调控EMT潜能的IncRNA。

摘要： 针对芯片检测过程中芯片编号形状小、人眼无法识别的现状,开发了一套芯片编号识别系统.系统以机器视觉技术为基础,配备高分辨率Basler相机、高倍率镜头以及高性能点光源,能实现高分辨率图像采集;利用Hough直线检测对图像进行水平旋转,利用图像轮廓查找算法对兴趣区域进行提取分割,利用帧差法对兴趣区域与标准库进行比较,找到最匹配的图像,其标签为识别结果.实验结果表明,运用系统的图像处理算法可以代替人眼通过高倍放大镜识别,改进了芯片检测工艺,大大提高了芯片检测的效率.

摘要： 目的研究在遗传性耳聋产前基因筛查与诊断中芯片检测、测序技术的应用与对比分析。方法随机选取2016年7月—2018年6月来宁波市奉化区人民医院产前筛查孕妇360例,应用耳聋基因芯片技术、Sanger法测序技术进行检测,分析孕妇耳聋基因及基因变异阳性孕妇的丈夫耳聋基因突变检出情况,并将两种方法结果进行比较。结果360例孕妇中,18例检出耳聋基因杂合突变,携带率为5%,其中SLC26A4(c.IVS7-2A>G)基因突变4例,携带率为1.1%;GJB2基因突变11例,携带率为3.1%,其中299-300del AT位点突变3例,235del C位点突变7例,176del16位点突变1例;GJB3(c.538C>T)基因突变2例,携带率为0.6%;12S rRNA(m.1555A>G)基因突变1例,携带率为0.3%。耳聋芯片检测阳性的孕妇,配偶均接受芯片检测,检出GJB2(c.235delC及c.299-300delAT)基因杂合突变2例。基因测序结果显示:除基因芯片包含的突变位点外还检测出部分人体基因多态性、GJB2(c.341A>G)1例、GJB2(c.155delTCTG)1例、12S rRNA(m.1494C>T)1例、SLC26A4(c.IVS7-2A>G)GJB2(c.235delC)复合突变1例。芯片检测和测序技术的检出率分别为5.3%(20/378)、6.4%(24/378),二者之间的差异无统计学意义(P>0.05)。结论在遗传性耳聋产前基因筛查与诊断中此基因芯片检测技术得到Sanger法测序技术的验证,应用价值相似。

摘要： 目的:检测及初步筛选分析脾肾亏虚型重症肌无力患者血清miRNA表达谱.方法:采集34例脾肾亏虚型重症肌无力患者和10例健康志愿者血清,通过RNA提取技术、miRNA TLDA芯片技术检测血清miRNA,采用软件DataAssistTM Software进行数据分析和处理,筛选出差异性表达的miRNA.结果:以差异表达量大于2倍,芯片检测的相对定量平均CT值小于40为标准,初步筛选出脾肾亏虚型重症肌无力患者血清miRNA表达上调的有21个,表达下调的有22个,共计43个.结论:脾肾亏虚型重症肌无力患者和健康志愿者血清miRNA具有内源表达的差异性,可以为进一步验证特异性血清miRNA的表达,探索药物临床疗效机制研究提供理论和实验依据.

摘要： 近日,德国萨尔大学发明了一款人造皮肤智能传感器,一种被称为“多点触控皮肤”(MulTI-Touch Skin)的材料可以通过喷墨打印机印刷在PET塑料薄底上,再将其贴到身体的任何部位。人们可以通过这个人造皮肤直接控制移动设备,譬如切歌或者发短信,就跟在手机的触控屏上操作差不多。这个传感器的结构也和智能手机的触控屏相似:由两层纵横堆叠成网格中的电极组成,其交叉处的电容不断被测量。当手指触摸传感器时,因手指导电,所以电容会减小。目前,它的每一块皮肤都通过硬导线连接到一个触控芯片上,而这个芯片又与一台树莓派zero(Raspberry Pi Zero)微型计算机相连,后者由一块小电池驱动。当芯片检测到电容的变化时,就会将其映射到某几个触控位置。

摘要： 针对DTHS-A单片机实验平台的日常维护需要设计了该测试装置,该装置能够快速的检测实验电路中驱动芯片是否正常,与传统方法相比,节约了维护的时间,提高了检测效率.该装置以STC15F2K61S2为控制核心,通过按键与拨码开关来选择对应芯片,通过液晶显示与LED指示芯片是否正常,同时具有过流保护功能.%The daily maintenance of DTHS-A MCU experimental platform requires a test device design, the device can detect the experimental circuit of the rapid drive chip is normal, compared with traditional methods, saving the maintenance time, improve the detection efficiency. The device uses STC15F2K61S2 as the control core, selects the corresponding chip through the button and the dial switch, through the LCD display and the LED indicating whether the chip is normaland has the over-current protection function.

摘要： 开发了一种芯片功能检测系统,该系统基于实践教学中的与非门、反相器、数据选择器、计数器、译码器、显示译码器等常用芯片进行设计,由上位机和硬件电路两部分组成.上位机用以实现对芯片功能表或真值表的输入、管理及发送;硬件电路负责接收功能表或真值表信号并完成芯片的检测,得出芯片是否损坏或功能是否正常的结果,并显示或报警.本系统可以降低数字电路实践中检测芯片的难度和复杂度,并提高准确度,为实验结果的正确性奠定了基础.%There are some problems such as complex circuit connection,inefficiency detection in digital circuit practical teaching.Hence,the research group has studied and designed a testing system of commonly used digital circuit chip.The system is based on NAND gate,phase inverter,data selector,counter,decoder and display decoder of the practical teaching.It is composed of upper system and hardware circuit.The upper system serves as entering,management,transmitting function table or truth table.The hardware circuit serves as receiving the signals to testing chip,providing result whether the chip gets damaged or chip's function is normal,and showing the testing result.The system can reduce difficulty and complexity and improve the accuracy of chip testing in the digital circuit practice teaching.That is essential to conduct a correct experiment.

摘要： 在高速高精度贴片机研制过程中,贴片元器件的图像定位和识别的速度与精度一直是提高贴片机生产效率的瓶颈。为了解决这个问题,本文提出了1种基于不变几何矩提取芯片位置和图像特性的算法,并对该算法的特点进行了深入研究。该算法通过对不变几何矩的匹配,达到检测芯片位置和型号的目的。该算法具有旋转、缩放和平移不变性的特点。在实验中该算法取得了较好的试验效果,提高了贴片元器件的图像定位和识别的速度与精度。该算法可以广泛应用于芯片检测,生产和贴装中。可以用于高速高精度全自动贴片机、AOI检测等等。

摘要： 基因芯片技术是近年来发展的新型技术，芯片检测的程序主要包括4个部分：芯片方阵的构建，样品的制备及标记，生物分子反应和信号的检测及分析。目前基因芯片检测技术在感染性疾病诊断中的应用还处于起步阶段。本文初步评价了用于引起生殖器溃疡性病原体检测的基因芯片，初步证明，利用基因芯片技术同时进行多种病原菌的检测是完全可行的，具有比较理想的特异性、准确性和敏感性。

摘要： 水泡性口炎、口蹄疫、蓝舌病、鹿流行性出血热和赤羽病均属我国进境动物一类或二类传染病,其中口蹄疫、水泡性口炎和蓝舌病还被世界动物卫生组织(OIE)确定为对动物和动物产品国际贸易有重大影响的A类疾病,这些疾病特别是作为人畜共患烈性传染病的口蹄疫和水泡性口炎的爆发与流行过去曾经而且目前正在给世界各国的畜牧生产、社会经济和国际贸易构成严重威胁并造成巨大的经济损失,因而是世界各国动物检疫部门重点防范的动物传染病.本实验旨在制备可同时检测口蹄疫病毒(Foot and mouth disease virus,FMDV)、水泡性口炎病毒(Vesicular stomatitis virus,VSV)、蓝舌病病毒(Bluetongue virus,BTV)、鹿流行性出血热病毒(Epizootic hemorrhagic disease virus of deer,EHDV)和赤羽病病毒(Akabane disease virus,AKV)等5种病毒的基因芯片,一次试验即可对这5种病毒进行快速准确的检测,以达到快速、准确、高通量的检疫要求.

摘要： 核苷类似物拉米夫定(3TC)治疗慢性乙型肝炎(CHB)过程中,HBV P基因YMDD基序中的甲硫氨酸密码子(M)易突变为缬氨酸(V)或异亮氨酸(I),形成YMDD变异的两种氨基酸序列,即YVDD和YIDD.国内外研究发现,YMDD基序变异与拉米夫定耐药、肝炎复发有密切关系.本文采用HBV基因多态性芯片检测技术,对102例长期用拉米夫定治疗CHB患者血清进行了检测,进一步探讨YMDD变异与临床的关系.

摘要： 故障注入攻击是目前非常有效的一种芯片安全检测方法,以荷兰Riscure公司产品Inspector为代表的故障注入设备采用的是以人工估算位置的方式对芯片内部的某个精确区域实施攻击,此种方式存在人为引起的误差较大的问题;后续版本中加入了红外摄像头定位的方式,此种方式能够实现芯片内部精确位置的攻击,但在攻击过程中由于芯片对红外线有感应,因此不能保持常开状态.分析Inspector平台底层代码运行原理和过程,提出了一种扫描位置可视化的交互集成方法,在实际的故障注入攻击检测中,可以解决上述问题,实现对芯片内部位置的精确定位.

摘要： 故障注入攻击是目前非常有效的一种芯片安全检测方法,以荷兰Riscure公司产品Inspector为代表的故障注入设备采用的是以人工估算位置的方式对芯片内部的某个精确区域实施攻击,此种方式存在人为引起的误差较大的问题;后续版本中加入了红外摄像头定位的方式,此种方式能够实现芯片内部精确位置的攻击,但在攻击过程中由于芯片对红外线有感应,因此不能保持常开状态.分析Inspector平台底层代码运行原理和过程,提出了一种扫描位置可视化的交互集成方法,在实际的故障注入攻击检测中,可以解决上述问题,实现对芯片内部位置的精确定位.

摘要： 故障注入攻击是目前非常有效的一种芯片安全检测方法,以荷兰Riscure公司产品Inspector为代表的故障注入设备采用的是以人工估算位置的方式对芯片内部的某个精确区域实施攻击,此种方式存在人为引起的误差较大的问题;后续版本中加入了红外摄像头定位的方式,此种方式能够实现芯片内部精确位置的攻击,但在攻击过程中由于芯片对红外线有感应,因此不能保持常开状态.分析Inspector平台底层代码运行原理和过程,提出了一种扫描位置可视化的交互集成方法,在实际的故障注入攻击检测中,可以解决上述问题,实现对芯片内部位置的精确定位.

摘要： 故障注入攻击是目前非常有效的一种芯片安全检测方法,以荷兰Riscure公司产品Inspector为代表的故障注入设备采用的是以人工估算位置的方式对芯片内部的某个精确区域实施攻击,此种方式存在人为引起的误差较大的问题;后续版本中加入了红外摄像头定位的方式,此种方式能够实现芯片内部精确位置的攻击,但在攻击过程中由于芯片对红外线有感应,因此不能保持常开状态.分析Inspector平台底层代码运行原理和过程,提出了一种扫描位置可视化的交互集成方法,在实际的故障注入攻击检测中,可以解决上述问题,实现对芯片内部位置的精确定位.

摘要： 本装置实现了微小的密闭空间中的残余气压和气体成分的分析.利用超高真空的技术,在一个超高真空系统内对一个密闭的空间进行破坏,并利用动态流导法测出了该微小空间(小于lml)内的原有气体压强,以及气体成分,该研究对分析芯片失效原因,改进真空封装工艺,提供了数据基础.

摘要： 本装置实现了微小的密闭空间中的残余气压和气体成分的分析.利用超高真空的技术,在一个超高真空系统内对一个密闭的空间进行破坏,并利用动态流导法测出了该微小空间(小于lml)内的原有气体压强,以及气体成分,该研究对分析芯片失效原因,改进真空封装工艺,提供了数据基础.

摘要： 本发明提供一种在微量流体通道的侧壁上包括金属氧化物硅场效应晶体管(MOSFET)的分子检测芯片，及包括该分子检测芯片的分子检测装置。本发明还提供一种分子检测方法，特别是利用该分子检测装置鉴定分子探针的固定和目标样品与分子探针的结合的方法，以及核酸突变的检测方法和装置。在微量流体通道的侧壁上直接形成MOSFET，使分子检测芯片的高度集成更容易。另外，探针直接固定在门电极的表面，确保该分子检测芯片可以检测探针的固定，并确保目标分子原位偶合在所述的探针上。

摘要： 本发明提供了光检测芯片和设置有光检测芯片的光检测装置。其中光检测芯片包括：至少一个检测区域，配置为容纳能够发出荧光的样本；以及光反射部，配置为在朝着光检测器的方向上反射从样本发出的荧光的至少一部分。

摘要： 本发明提供一种在微量流体通道的侧壁上包括金属氧化物硅场效应晶体管(MOSFET)的分子检测芯片，及包括该分子检测芯片的分子检测装置。本发明还提供一种分子检测方法，特别是利用该分子检测装置鉴定分子探针的固定和目标样品与分子探针的结合的方法，以及核酸突变的检测方法和装置。在微量流体通道的侧壁上直接形成MOSFET，使分子检测芯片的高度集成更容易。另外，探针直接固定在门电极的表面，确保该分子检测芯片可以检测探针的固定，并确保目标分子原位偶合在所述的探针上。

摘要： 本发明公开了微流控芯片、基于微流控芯片的检测系统及细菌的检测方法，该微流控芯片由键合在一起的基片与盖片组成，盖片上设有混合微通道和反应微通道，混合微通道和所述反应微通道相互连接，反应微通道内具有微柱阵列，进一步地，微柱上修饰有发夹状寡核苷酸1。本发明检测方法是通过致病性细菌竞争结合引发两条发夹状寡核苷酸(H1,H2)发生催化发夹自组装反应，该反应不仅对致病性细菌的浓度进行放大，还将辣根过氧化物酶固定在微柱阵列上，进而催化鲁米诺和过氧化氢发生化学发光反应，通过化学反应信号强度来对致病性细菌进行定量。本发明具有良好的特异性，低的检测限和宽的线性范围，为定量检测食源性致病菌提供了较为准确的数据。

摘要： 本申请关于触摸芯片的批量检测系统、批量检测方法以及芯片测试板，涉及芯片制造领域。该系统包括芯片测试板以及计算机设备；芯片测试板用于与至少两个测试芯片通信连接，芯片位于芯片测试板的测试位上；芯片测试板与计算机设备通信连接；至少两个芯片位于芯片测试板上，且芯片测试板与计算机设备通信连接；芯片测试板与计算机设备通信连接。通过芯片测试板在测试过程中对于芯片进行功能触发，由计算机设备根据反馈信号进行芯片功能是否正常的判断。通过芯片测试板的功能触发以及数据获取，并通过计算机设备进行核对检验，可以实现在出厂之前，对于芯片的高效批量化的功能测试，从而避免功能不良的芯片流出。

摘要： 本申请涉及数字温度传感器、芯片温度检测系统、芯片温度检测方法和环境温度检测装置，数字温度传感器包括温度转换电路、参数调整电路、信号整合电路、模数转换电路和数字逻辑控制电路，通过温度转换电路、参数调整电路、信号整合电路、模数转换电路和数字逻辑控制电路的相互配合，上述数字温度传感器可在较快的时间范围内完成温度检测，反应速度快，测量精度大大提高，而且只有参数调整电路、温度转换电路和模数转换电路需要功耗，数字逻辑控制电路在静态时是没有功耗的，且在温度检测完成后，即可通过相应的使能控制信号关断参数调整电路和温度转换电路，进一步将该数字温度传感器的功率降低至零，节约了经济成本。

摘要： 本发明公开一种芯片检测方法、芯片检测结构以及芯片承载结构。芯片检测方法包括：提供一芯片检测结构、一芯片承载结构以及多个熔接材料组，芯片检测结构包括多个微加热器组，芯片承载结构用于承载多个芯片，多个熔接材料组设置于芯片承载结构与芯片检测结构之间；将芯片承载结构与芯片检测结构彼此靠近，以使得每一熔接材料组同时接触芯片承载结构与芯片检测结构，每一熔接材料组包括低温熔接材料组以及高温熔接材料组；多个低温熔接材料组分别通过多个微加热器组的加热后再固化；以及，对多个芯片进行检测，以使得多个芯片被区分成多个良好的芯片以及多个不良的芯片。借此，芯片能够预先通过芯片检测结构的检测而筛选出良好的芯片。

摘要： 本发明公开了芯片插载复位进行多次检测的电力载波芯片检测设备，涉及电力载波芯片加工技术领域，包括检测盒体、运载组件和检测组件，所述检测盒体的上下两侧开设有转位槽，且转位槽的内侧中端连接有电控转轴，所述运载组件安置于电控转轴的外端。本发明第一摄像头可对芯片的上表面进行外观检测，第二摄像头可对对芯片的下表面以及引脚进行检测，从而能实现设备在检测流程内对芯片的整体外观进行检测，此外摄像头本身为设备内的纠偏装置，这能免去额外提供部件造成设备制造成本的提升，此外通过在检测流程对芯片的外观进行检测，这能免去额外的外观检测流程，这能简化芯片的生产流程，并提升芯片的生产效率。

摘要： 本发明提供一种芯片自动剥离、光学检测一体系统，包括沿送料方向依次设置的料片周转单元、待测芯片获取单元、中转组件和自动光学检测单元；所述料片周转单元与所述待测芯片获取单元之间设置有料片上下机构。通过所述待测芯片获取单元、所述中转组件能够按顺序衔接铁环蓝膜料片的输送、芯片的流转检测，能够一体化实施从铁环蓝膜料片到芯片检测的各个工序，设备集成度高、工时利用率高，有利于提高生产线的整体效率、提升自动化生产水平。本发明还提供的一种芯片检测流程因采用本发明的芯片自动剥离、光学检测一体系统实施而具有相应优势。

摘要： 本实用新型公开了一种芯片检测信号的分配电路及多路检测的芯片检测系统，分配电路包括第一运算放大器，所述第一运算放大器的正输入端连接分压电阻和第一隔直流电容，接收所述芯片检测信号；多个相互并联的第二运算放大器，各所述第二运算放大器的正输入端连接至所述第一运算放大器的输出端，各所述第二运算放大器的输出端分别连接有第二隔直流电容，经由所述第二隔直流电容输出所述芯片检测信号。检测设备包括示波器、逻辑分析仪、验证被测芯片的FPGA、和基准多媒体设备中的至少一个。通过本实用新型的芯片检测信号的分配电路及检测系统，可实现对芯片同时进行多项检测，提高了检测芯片的效率，缩短了检测芯片的时间。