缺陷分析

摘要： 针对地下管线存在的病害缺陷问题,以某安置小区及市区三条市政道路为例,对CCTV地下管线探测发现的各种缺陷进行了分析统计,对造成这些缺陷的主要原因进行了分析,并提出了解决办法,为后期的市政排水深化管理,排水隐患的发现及处理具有重要的现实意义。

摘要： 钢丝绳在海洋石油生产作业中被广泛使用,因其数量众多、使用频繁,容易出现缺陷和隐患,如果管理不到位,极易发生安全事故,造成人员伤亡或财产损失。基于历年海洋石油生产作业设施钢丝绳检测大数据,结合生产作业实践经验,对典型钢丝绳缺陷和失效原因进行了分析,从全生命周期完整性管理角度提出了钢丝绳采购、使用、检测、保养等各环节的管理建议,可供海洋石油企业参考和借鉴。

摘要： 断路器的控制回路具有控制断路器分闸和合闸操作的功能,当控制回路中电缆接线接触不良或松动时,可能导致断路器拒动,影响电网安全稳定运行。为实现控制回路缺陷的在线检测及故障判断,基于控制回路阻抗分析方法研制了断路器控制回路缺陷在线分析装置。利用霍尔电流传感器采集控制回路中流过的电流,通过采集到的电流间接计算出控制回路的阻抗,并根据阻抗值综合判断故障情况,实现了控制回路缺陷的在线分析。现场运用结果表明,该装置大幅度降低了控制回路缺陷的判断时间,可为减少缺陷处理时间,提高工作效率提供技术支撑。

摘要： 为了探寻投资学专业课程教学所存缺陷和弥补之道,研究走出教学独辟蹊径地运用金融领域研究成果推断了投资学专业课程教学问题,发现当前投资学专业课程教学在数量分析与创新思维培养方面存在缺陷,提出了采用科研驱动式教学、金融分析与量化分析双重联动、三驾马车齐进实践等弥补措施。

摘要： 根据油浸式并联电抗器铁芯屏蔽结构特性,分析铁芯屏蔽层开裂、铁芯屏蔽层褶皱、铁芯屏蔽层片间短路等典型缺陷,提出了相应的技术防范措施,为油浸式并联电抗器的制造工艺管控和故障诊断提供了参考。

摘要： 42CrMo锻轴在粗加工后进行UT检测时发现有严重超标缺陷。通过低倍试验、化学试验、电镜试验和金相试验等方法对其超标缺陷部位进行分析。结果表明:钢锭浇注过程中耐火材料脱落,未完全上浮,留存于钢锭靠近尾部端的芯部,从而形成孔洞类的夹渣。

摘要： 目的分析某重点康复专科医院康复医学科住院病案首页的缺陷,提出干预策略,不断提升病案首页的填写质量。方法随机抽取某重点康复专科医院康复医学科2020年1月1日—2021年12月31日1655份住院病案,根据病案专业知识与病历质控标准,对病案首页进行复查,统计缺陷率,分析缺陷原因。结果1655份住院病案首页的填写缺陷率为9.55%,缺陷构成比为主要诊断选择错误3.50%、编码遗漏1.93%、未使用合并编码1.69%、入院病情选择错误1.39%、笼统编码0.66%、离院方式选择错误0.36%。结论康复医学科住院病案首页质量有待亟需完善和提高,只有多学科多团队协作学习,多部门多环节加强管控,才能不断降低康复医学科住院病案首页的缺陷率,逐步提升病案首页的数据质量。

摘要： 根据焦炭塔的工艺特点和结构特点,制订检验方案,包括宏观检验、壁厚测定、无损检测、硬度检测及金相分析;从设计、制造及运行方面,对炼油厂延迟焦化装置的焦炭塔在全面检验中发现的塔体鼓胀变形,内壁热疲劳裂纹、冷裂纹以及裙座角焊缝裂纹等常见缺陷进行原因分析,促进焦炭塔的安全运行。

摘要： 基于Simulink和FloTHERM进行仿真,分析其存在的潜在缺陷,开展可靠性研究,针对缺陷进行了改进优化,取得了较好的效果。

摘要： 在设备缺陷分析和故障处理上,大数据技术的应用更加普遍,成为一个新型发展趋势。以核电设备为核心,从生产运行特点入手,阐述了大数据技术在核电设备缺陷分析上的适用性、基本流程和具体运用,并结合实例进行分析,确保核电设备安全稳定运行。

摘要： 以机压成型为例,介绍了原料混合、困料、成型、干燥及烧成等制备工艺对匣钵质量的影响,分析了因制备工艺造成的各种裂纹、变形、均一性差等产品缺陷,为选择科学的生产设备,确定合理的工艺参数以及提高匣钵产品质量,提供了一定的参考.

摘要： 以机压成型为例,介绍了原料混合、困料、成型、干燥及烧成等制备工艺对匣钵质量的影响,分析了因制备工艺造成的各种裂纹、变形、均一性差等产品缺陷,为选择科学的生产设备,确定合理的工艺参数以及提高匣钵产品质量,提供了一定的参考.

摘要： 以机压成型为例,介绍了原料混合、困料、成型、干燥及烧成等制备工艺对匣钵质量的影响,分析了因制备工艺造成的各种裂纹、变形、均一性差等产品缺陷,为选择科学的生产设备,确定合理的工艺参数以及提高匣钵产品质量,提供了一定的参考.

摘要： 以机压成型为例,介绍了原料混合、困料、成型、干燥及烧成等制备工艺对匣钵质量的影响,分析了因制备工艺造成的各种裂纹、变形、均一性差等产品缺陷,为选择科学的生产设备,确定合理的工艺参数以及提高匣钵产品质量,提供了一定的参考.

摘要： 以郑州日产中牟工厂现有前后风挡玻璃涂胶机为例,分享一次长时间高难度玻璃识别异常报警原因及对策的案例.从2019年4月19日气压异常后，所有吸附玻璃的真空盘无法吸附，玻璃识别脉冲数值持续下降，特别是纵向下降厉害脉冲数值大概下降200多个脉冲（与理论范围下限相比），直接导致车型识别混乱。

摘要： 以郑州日产中牟工厂现有前后风挡玻璃涂胶机为例,分享一次长时间高难度玻璃识别异常报警原因及对策的案例.从2019年4月19日气压异常后，所有吸附玻璃的真空盘无法吸附，玻璃识别脉冲数值持续下降，特别是纵向下降厉害脉冲数值大概下降200多个脉冲（与理论范围下限相比），直接导致车型识别混乱。

摘要： 以郑州日产中牟工厂现有前后风挡玻璃涂胶机为例,分享一次长时间高难度玻璃识别异常报警原因及对策的案例.从2019年4月19日气压异常后，所有吸附玻璃的真空盘无法吸附，玻璃识别脉冲数值持续下降，特别是纵向下降厉害脉冲数值大概下降200多个脉冲（与理论范围下限相比），直接导致车型识别混乱。

摘要： 以郑州日产中牟工厂现有前后风挡玻璃涂胶机为例,分享一次长时间高难度玻璃识别异常报警原因及对策的案例.从2019年4月19日气压异常后，所有吸附玻璃的真空盘无法吸附，玻璃识别脉冲数值持续下降，特别是纵向下降厉害脉冲数值大概下降200多个脉冲（与理论范围下限相比），直接导致车型识别混乱。

摘要： 分析了功率IC芯片真空回流焊装配中锡溅锡珠、芯片翻转、边缘空洞3种工艺缺陷的产生机理.研究了钢网厚度、钢网开口、回流时间、压力参数对真空回流焊工艺缺陷的影响.结果表明,功率IC芯片上的空洞随焊膏厚度增加而减小,"9宫"钢网开口更易于保持印刷厚度的一致性.采用120s预热时间、升温区预真空、变压力真空回流焊等措施,减少了锡溅锡珠,杜绝了芯片翻转,改善了芯片边缘空洞.

摘要： 分析了功率IC芯片真空回流焊装配中锡溅锡珠、芯片翻转、边缘空洞3种工艺缺陷的产生机理.研究了钢网厚度、钢网开口、回流时间、压力参数对真空回流焊工艺缺陷的影响.结果表明,功率IC芯片上的空洞随焊膏厚度增加而减小,"9宫"钢网开口更易于保持印刷厚度的一致性.采用120s预热时间、升温区预真空、变压力真空回流焊等措施,减少了锡溅锡珠,杜绝了芯片翻转,改善了芯片边缘空洞.

摘要： 本发明涉及缺陷来源的分析方法及分析系统、缺陷检测装置，通过对晶元进行光学扫描得到目标缺陷的工艺层与之前若干个经过扫描的工艺层进行处理，依照由近及远顺序判断前若干个经过扫描的工艺层是否存在与所述目标缺陷匹配的特征缺陷，从而对所述目标缺陷的来源进行分析，以得到引入所述目标缺陷的工艺层(或对应的工艺)，即获得目标缺陷的来源，通过本发明提供的缺陷来源的分析方法及分析系统、缺陷检测装置，大大减少了人工判断气泡缺陷来源所花费的工时以及引起的人工误差，通过对气泡缺陷的来源的分析和监控，可以及时确定工艺或机台的异常情况，有助于减少不必要的损失。

摘要： 提供了一种用于智能地管理数据的数据管理平台。数据管理平台包括ETL模块，其被配置为抽取、清洗、转换或加载数据；数据湖，其被配置为存储第一组数据，该第一组数据通过由所述ETL模块从多个数据源抽取原始数据而形成；数据仓库，其被配置为存储第二组数据，该第二组数据通过对所述第一组数据进行清洗和标准化而形成；通用数据层，其被配置为存储第三组数据，该第三组数据通过对所述第二组数据进行数据融合而形成；数据集市，其被配置为存储第四组数据，该第四组数据由所述ETL模块通过转换所述第三组数据而形成。通用数据层为存储可用于查询的信息的分布式数据存储器。数据集市是存储可用于计算处理的信息的NoSQL类型的数据库。

摘要： 本发明涉及缺陷来源的分析方法及分析系统、缺陷检测装置，通过对晶元进行光学扫描得到目标缺陷的工艺层与之前若干个经过扫描的工艺层进行处理，依照由近及远顺序判断前若干个经过扫描的工艺层是否存在与所述目标缺陷匹配的特征缺陷，从而对所述目标缺陷的来源进行分析，以得到引入所述目标缺陷的工艺层(或对应的工艺)，即获得目标缺陷的来源，通过本发明提供的缺陷来源的分析方法及分析系统、缺陷检测装置，大大减少了人工判断气泡缺陷来源所花费的工时以及引起的人工误差，通过对气泡缺陷的来源的分析和监控，可以及时确定工艺或机台的异常情况，有助于减少不必要的损失。

摘要： 缺陷原因工序分析装置(16)的关联部(17)针对1个液晶显示面板从信息管理数据库(9)读出点亮缺陷信息和TFT修正信息，进行两结果的联系(所谓的关联)。分类部(18)按上述TFT修正信息对上述点亮缺陷信息进行分类。重叠映射部(19)针对1批次或者数批次的上述液晶显示面板，使上述被分类的点亮缺陷信息重叠、映射到同一坐标上。映射显示部(20)显示如上所述得到的多个重叠映射中的、预先设定的或者由操作者指定的1个或者多个重叠映射。这样来分析在最终检查中检测出的缺陷的原因是由工艺工序导致，还是由检查工序导致。

摘要： 本发明提供一种外延缺陷分析结构，包括：半导体衬底，半导体衬底的一部分表面形成有外延生长区域，暴露出阻挡层保护区域保护的半导体衬底的另一部分表面；外延层，形成于外延生长区域上。本发明还提供一种外延缺陷分析结构的制造方法。本发明又提供一种外延缺陷的分析方法，对外延缺陷分析结构中的阻挡层保护区域所保护的半导体衬底和外延生长区域中形成的外延层进行缺陷相关性分析对比，判断形成外延层中的外延缺陷来自于外延工艺、外延前半导体制造工艺、还是半导体衬底，避免进行缺陷相关性分析对比时，形成有外延的半导体衬底与未做外延的半导体衬底不是同一半导体衬底，导致在材料选取和外延加工过程中所选取样品存在不完全一致的问题。

摘要： 提供了一种用于缺陷分析的计算机实现的方法。计算机实现的方法包括：关于在制造周期期间出现的缺陷，分别针对多个装置操作，计算多个证据权重(WOE)分数，较高的WOE分数指示缺陷和装置操作之间的较高的相关性；以及将所述多个WOE分数排序，以获得与在所述制造周期期间出现的所述缺陷高度相关的所选择的装置操作的列表，所选择的装置操作的列表中的装置操作具有大于第一阈值分数的WOE分数。多个装置操作中的各个装置操作是由相应装置执行相应操作所处在的相应操作站点定义的相应装置。

摘要： 提供了一种用于缺陷分析的计算机实现的方法。该计算机实现的方法包括：获得多组缺陷点坐标，所述多组缺陷点坐标中的各组包括多个基板中的各个基板中的缺陷点的坐标，各个基板中的缺陷点的坐标是在图像坐标系中的坐标；将根据所述图像坐标系的所述多组缺陷点坐标组合成复合组坐标，以生成复合图像；以及执行聚类分析以将所述复合图像中的所述复合组中的缺陷点分类成多个点簇。

摘要： 本发明公开了一种铸坯人工缺陷制造方法、人工缺陷钢轨及缺陷分析方法,通过制备带有人工孔槽缺陷的铸坯，并将该铸坯生产出的钢轨成品的表面缺陷与铸坯表面的人造缺陷进行对比分析，从而确定了人工缺陷钢轨与带有人工缺陷的铸坯的表面缺陷继承关系，并利用该继承关系成功将钢轨上的缺陷溯源回铸坯上，从而帮助技术人员快速准确地定位铸坯上的缺陷位置、预估铸坯上的缺陷大小，并选取合适的缺陷应对策略，有效提升轧制成品的良率。此外，验证了钢轨轧制延伸系数与现有理论基本吻合，同时也确定了铸坯表面缺陷形貌在钢轨表面形成超标缺陷的深宽比标准，利用该标准在钢轨轧制前，加大铸坯的缺陷检查力度，能进一步有效避免不合格品的产生。

摘要： 本发明涉及一种双面缺陷分析设备，包括：接收单元、至少两个面阵相机以及分析单元。接收单元适于接收待分析的电路板的表面图像；至少两个面阵相机适于定位到电路板的两个相对表面中由表面图像所指示的缺陷位置，且拍摄缺陷的缺陷图像，缺陷图像的质量高于表面图像的质量；分析单元适于确定表面图像中的缺陷的位置，且分析缺陷图像以判断缺陷的类型。

摘要： 本实用新型涉及一种单面缺陷分析设备及缺陷检测和分析系统，包括：承载台，适于承载水平状态的产品；接收单元，用于从产品的检测设备接收产品的表面图像；面阵相机，对着产品的第一表面设置，用于定位到产品上由表面图像所指示的缺陷位置，且拍摄缺陷的缺陷图像，缺陷图像的质量高于表面图像的质量；以及驱动机构，用于驱动面阵相机沿着产品的第一表面移动。