结构测试

摘要： 为了解决乌马河太谷县段防洪能力不足、河流侵蚀冲刷的问题,经比选采用了格宾石笼生态治理护岸结构,并通过性能测试与实际施工应用进行评价。结果表明,格宾石笼在工程应用中具有抗变形能力强、成本低、生态效益好的优势,为今后河道治理护岸工程的深入研究提供了理论支持和技术指导。

摘要： 根据相关的研究成果、工程经验及标准,介绍了地铁屏蔽门样机型式试验方法,包括结构试验、密封试验、运动性能试验、电磁兼容试验等。通过对地铁屏蔽门样机型式试验的研究,可以检验屏蔽门的设计、材料选型、生产、安装、调试等环节是否满足技术文件要求,为后续的大批量生产提供技术支持。

摘要： 设计用于烟雾探测器结构测试使用的实验装置,满足在恒定条件下对烟雾探测器外壳结构是否有利于烟气进入进行测试的实验需求.实验装置由测试实验箱体及测试控制显示系统两大部分组成,硬件系统采用Arduino开放平台作为核心控制单元,结构关键零部件使用3D打印技术成型,实现实验装置的稳定使用及实验对象的快速更换.通过实验装置的设计搭建及实验测试应用为烟雾探测器的结构设计改良提供数据支撑.

摘要： 从结构测试和功能验证两方面对羧甲基纤维素钠(CMC)在乳饮料体系中的应用进行了系统评价.通过扫描电镜对CMC的微观结构进行了表征;通过傅里叶变换红外光谱对CMC的羟基取代度进行了定性分析;通过粒径分布、黏度测试、ζ电位测试、静态稳定性及动态稳定性等测试对含CMC的乳饮料体系的功能特性进行了验证.对纤维素原料来源不同的三组CMC样品(分别编号CMC-1,CMC-2和CMC-3)进行测试,结果表明:CMC-3由于微观结构完整、均匀且羟基取代程度高,其乳饮料体系无论是黏度情况、粒径分布、动态稳定性及底部沉淀量都明显优于CMC-1和CMC-2.由此得出:CMC单体结构的均匀度越好,羟基的取代程度越高,CMC在乳饮料体系中的稳定性越好.

摘要： 通过有限元分析方法对一台电机结构进行测试、分析和处理,以较小的成本完成了电机-底座结构的优化.

摘要： 该文首先阐述系统级测试的必要性、难点和优缺点。基于此,调研SoC系统级测试的主要研究内容,具体包括:SoC系统级测试的软硬件验证,SoC系统级测试的系统板建模和SoC系统级测试的测试策略。然后,把SoC系统级测试分为基于结构的SoC系统级测试和基于功能的SoC系统级测试,介绍其主要内容和实现方式。最后,分析SoC芯片内部结构,并归纳常用的测试项目和测试过程。文章总结影响SoC系统级测试的各种因素,为设计更好的SoC系统级测试方案提供参考。

摘要： 本文针对新研发的海绵型城市建设中使用的SMC材质的水池进行应力试验,采用应力应变原理,进行该水池结构的强度测试与分析,测试得到水池在埋深过程中的应力变化情况.根据SMC材料性能对设计的水池静结构分析,通过分析发现新研发的海绵型城市SMC水池满足使用要求.

摘要： 高强化、安全化是真空玻璃技术发展和应用需求的必然趋势。本文全面论述了钢化真空玻璃已有技术方案和存在问题，并详细介绍了中国建材总院在低温无铅红外吸收玻璃焊料、红外辐射封接技术等领域开展的研究工作。研究认为，红外辐射加热技术，结合特殊光谱吸收的封接玻璃焊料，可以有效降低封接过程中钢化玻璃的应力衰退，实现钢化真空玻璃的高效、高质封接，目前完善形成的材料、装备、工艺全套技术体系，可成为钢化真空玻璃产业化的最佳途径，结构测试及应力分析显示上述工艺制备的钢化真空玻璃性能优异。实验发现，玻璃平整度是影响钢化真空玻璃有效支撑质量的主要因素，本文通过新材料设计，提出了支撑物结构、形状可自适应调整的柔性支撑方案。

摘要： 介绍了3种典型桥梁结构测试任务(小型便携式检测、多传感器综合测试,分布式长期监测)中虚拟仪器技术的应用,主要阐述不同的测试背景中怎样确定测试系统结构,如何选择虚拟仪器硬件,并介绍了系统的特点.

摘要： 临近空间飞艇是一种高技术、高创新、高难度的新型飞行器，其结构设计、优化及模拟仿真结果往往需要地面测试数据进行校验。针对临近空间飞艇结构大尺度、多工况、高精度、高效率、低成本的测试要求，传统的接触式测量技术往往很难满足测试要求。本文结合临近空间飞艇结构有关测试需求，给出了可用于临近空间飞艇不同测试要求的非接触式测量技术(包括数字摄影/摄像测量技术、数字图像相关测量技术、激光扫描测量技术、激光测振技术等)，并对各种非接触测量技术的特点进行了总结与分析，为临近空间飞艇结构的地面测试研究提供技术参考。

摘要： 北京市地铁首次采用盾构法施工,为进一步掌握施工过程中管片与地层之间的接触应力、管片内力及螺栓内力,同时也为设计参数进一步优化提供依据,进行了试验测试工作。通过对施工过程中管片应力状态的分析,及时掌握管片的应力状态,以便于完善施工工艺,为今后类似工程提供参考。

摘要： 本文依据核反应堆保护系统有关标准和法规要求,针对基于FPGA技术的数字化反应堆保护系统单元电路的特点,应用结构测试和功能测试相结合的测试方法,初步提出了对其进行测试的方法和步骤,为FPGA技术进一步在数字化反应堆保护系统领域的应用打下了基础.

摘要： 索膜结构的关键构件和节点的设计是整个工程的重要技术环节，节点设计不仅要满足自身的受力要求，而且必须符合结构整体协同工作的要求；节点构造的设计充分体现了结构在受力安全、建筑美学、制作工艺等各项专业的综合技术。本工程的关键节点设计充分结合了世博轴索膜顶棚跨度大、位移大、几何非线性特征较强等特点，研究创新了一系列的节点构造，采用有限元进行细部计算分析，并且通过结构试验和测试，论证了结构的关键构件及节点设计不仅满足建筑美观要求，又在结构上富含技术特点。

摘要： 索膜结构的关键构件和节点的设计是整个工程的重要技术环节，节点设计不仅要满足自身的受力要求，而且必须符合结构整体协同工作的要求；节点构造的设计充分体现了结构在受力安全、建筑美学、制作工艺等各项专业的综合技术。本工程的关键节点设计充分结合了世博轴索膜顶棚跨度大、位移大、几何非线性特征较强等特点，研究创新了一系列的节点构造，采用有限元进行细部计算分析，并且通过结构试验和测试，论证了结构的关键构件及节点设计不仅满足建筑美观要求，又在结构上富含技术特点。

摘要： 索膜结构的关键构件和节点的设计是整个工程的重要技术环节，节点设计不仅要满足自身的受力要求，而且必须符合结构整体协同工作的要求；节点构造的设计充分体现了结构在受力安全、建筑美学、制作工艺等各项专业的综合技术。本工程的关键节点设计充分结合了世博轴索膜顶棚跨度大、位移大、几何非线性特征较强等特点，研究创新了一系列的节点构造，采用有限元进行细部计算分析，并且通过结构试验和测试，论证了结构的关键构件及节点设计不仅满足建筑美观要求，又在结构上富含技术特点。

摘要： 索膜结构的关键构件和节点的设计是整个工程的重要技术环节，节点设计不仅要满足自身的受力要求，而且必须符合结构整体协同工作的要求；节点构造的设计充分体现了结构在受力安全、建筑美学、制作工艺等各项专业的综合技术。本工程的关键节点设计充分结合了世博轴索膜顶棚跨度大、位移大、几何非线性特征较强等特点，研究创新了一系列的节点构造，采用有限元进行细部计算分析，并且通过结构试验和测试，论证了结构的关键构件及节点设计不仅满足建筑美观要求，又在结构上富含技术特点。

摘要： 索膜结构的关键构件和节点的设计是整个工程的重要技术环节，节点设计不仅要满足自身的受力要求，而且必须符合结构整体协同工作的要求；节点构造的设计充分体现了结构在受力安全、建筑美学、制作工艺等各项专业的综合技术。本工程的关键节点设计充分结合了世博轴索膜顶棚跨度大、位移大、几何非线性特征较强等特点，研究创新了一系列的节点构造，采用有限元进行细部计算分析，并且通过结构试验和测试，论证了结构的关键构件及节点设计不仅满足建筑美观要求，又在结构上富含技术特点。

摘要： 本发明有关一种显示面板的测试结构。显示面板具有一显示区、一非显示区及一位于显示区与非显示区之间的缓冲显示区。测试结构位于缓冲显示区内。测试结构包括一基板、至少一信号线、一绝缘层、一平坦层及一电极层。信号线配置于基板上。绝缘层覆盖信号线。平坦层配置于绝缘层上且具有至少一暴露出部分绝缘层的开口。电极层配置于平坦层上且具有一显示电极部、至少一测试电极部以及一类环状开口。类环状开口围绕测试电极部且暴露出部分平坦层。测试电极部通过平坦层的开口与绝缘层相连接。显示电极部位于平坦层上且环绕类环状开口并连接至测试电极部。

摘要： 本申请公开了一种测试结构、测试结构的制作方法及测试方法。该测试结构包括栅极结构，还包括：至少两组接触孔结构单元，设置于栅极结构的一侧的有源区上，每组接触孔结构单元包括至少一个接触孔结构；以及至少量组金属层，与接触孔结构单元一一对应地设置于每组接触孔结构单元的表面上。在该测试结构中，通过将任意两组接触孔结构单元上的金属层作为电阻测试时的探针接触点以获得测试结构中源漏电阻，从而减小了因测试结构中没有形成栅极结构引起的测试结构和真实器件之间的结构差异，进而减少测试结构中源漏电阻和真实器件中源漏电阻之间的差异，提高了测试结构中源漏电阻的测量值的准确性。

摘要： 本发明提供一种测试结构及其形成方法、测试方法，所述测试结构包括第一测试键和第二测试键。第一测试键包括：多个第一隔离结构；由多个第一隔离结构在基底中围出的多个矩形测试有源区，沿矩形对角线方向排布的测试有源区的顶点重合，形成交界点；位于基底表面上的多条第一测试栅。第二测试键包括第二隔离结构和第二隔离结构表面上的多条第二测试栅。在第一测试键包含了多个交界点，交界点更容易暴露浅沟槽工艺的问题；第二测试键中不会发生浅沟槽隔离缺角缺陷；通过第一测试栅和第二测试栅的桥接状况的检测与对比，模拟晶圆内部浅沟槽缺角缺陷的发生情况，进而对浅沟槽缺角缺陷造成的栅极桥接进行准确的失效分析。

摘要： 本发明公开了一种半导体器件的缺陷测试结构、缺陷测试方法和金属前介质层的缺陷测试结构，其中，所述半导体器件的缺陷测试结构包括：半导体基底；半导体基底上的n条相互平行的沟槽，其中n为大于或等于3的自然数；所述沟槽中填充的介质层；在所述缺陷测试结构的俯视图中，所述各个沟槽一端的连线与沟槽的垂线相交成夹角β。相应的，本发明还公开了一种半导体器件的缺陷测试方法和金属前介质层的缺陷测试结构，采用本发明公开的缺陷测试结构和测试方法，能够节约测试步骤，提高生产效率，有利于降低成本。

摘要： 本发明有关一种显示面板的测试结构。显示面板具有一显示区、一非显示区及一位于显示区与非显示区之间的缓冲显示区。测试结构位于缓冲显示区内。测试结构包括一基板、至少一信号线、一绝缘层、一平坦层及一电极层。信号线配置于基板上。绝缘层覆盖信号线。平坦层配置于绝缘层上且具有至少一暴露出部分绝缘层的开口。电极层配置于平坦层上且具有一显示电极部、至少一测试电极部以及一类环状开口。类环状开口围绕测试电极部且暴露出部分平坦层。测试电极部通过平坦层的开口与绝缘层相连接。显示电极部位于平坦层上且环绕类环状开口并连接至测试电极部。

摘要： 本发明提供一种用以测试晶片的测试垫结构以及该测试垫结构的制作方法，该测试垫结构包含金属测试垫以及第一凹槽，其中，该第一凹槽设置于该金属测试垫上。该第一凹槽位于该晶片的第一信号线以及第二信号线之间，由此阻隔该第一信号线以及该第二信号线，使该第一信号线以及该第二信号线不至于短路。本发明还提供了一种晶片封装结构和该晶片封装结构的制作方法。

摘要： 本发明提供一种测试结构、测试结构版图及其形成方法和测试方法，通过设计测试结构版图，在形成测试结构时，可以将第一金属层、第一接触结构、第二金属层、第二接触结构和第三金属层之间连接，并形成多个通路，从而可以通过形成的通路对各所述第一接触结构进行测试。在测试方法中，通过测量第一金属层与第三金属层之间的电流值，可以有效的确定第一接触结构是否存在缺陷，从而能够根据测量的结果有效的反映实际的SRAM器件中接触孔工艺的情况。

摘要： 本申请公开了一种测试结构、测试结构的制作方法及测试方法。该测试结构包括栅极结构，还包括：至少两组接触孔结构单元，设置于栅极结构的一侧的有源区上，每组接触孔结构单元包括至少一个接触孔结构；以及至少量组金属层，与接触孔结构单元一一对应地设置于每组接触孔结构单元的表面上。在该测试结构中，通过将任意两组接触孔结构单元上的金属层作为电阻测试时的探针接触点以获得测试结构中源漏电阻，从而减小了因测试结构中没有形成栅极结构引起的测试结构和真实器件之间的结构差异，进而减少测试结构中源漏电阻和真实器件中源漏电阻之间的差异，提高了测试结构中源漏电阻的测量值的准确性。

摘要： 本发明提供一种测试结构及其形成方法、测试方法，所述测试结构包括第一测试键和第二测试键。第一测试键包括：多个第一隔离结构；由多个第一隔离结构在基底中围出的多个矩形测试有源区，沿矩形对角线方向排布的测试有源区的顶点重合，形成交界点；位于基底表面上的多条第一测试栅。第二测试键包括第二隔离结构和第二隔离结构表面上的多条第二测试栅。在第一测试键包含了多个交界点，交界点更容易暴露浅沟槽工艺的问题；第二测试键中不会发生浅沟槽隔离缺角缺陷；通过第一测试栅和第二测试栅的桥接状况的检测与对比，模拟晶圆内部浅沟槽缺角缺陷的发生情况，进而对浅沟槽缺角缺陷造成的栅极桥接进行准确的失效分析。

摘要： 本发明实施例涉及测试结构及其制造方法，利用测试结构的半导体结构测试方法。本揭露提供一种半导体结构测试方法，其包含步骤：形成测试结构；将静电力形成于所述测试结构的多晶硅结构；以及测量所述多晶硅结构的电容值。在形成所述测试结构时，其包含步骤：提供第一衬底，其具有第一表面；将第一沟槽形成于所述第一衬底的所述第一表面；将多晶硅结构形成于所述第一沟槽；以及将第二沟槽形成于所述第一衬底的所述第一表面，在侧视角度上使所述多晶硅结构悬空于所述第二沟槽内。本揭露还包含所述测试结构以及所述测试结构的制造方法。